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          目錄:TESCAN泰思肯貿(mào)易(上海)有限公司>> FERA3雙束掃描電鏡FERA3雙束掃描電鏡

          FERA3雙束掃描電鏡
          • FERA3雙束掃描電鏡
          參考價 面議
          具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          參考價 面議
          具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          • 品牌 其他品牌
          • 型號 FERA3雙束掃描電鏡
          • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
          • 所在地 上海市
          屬性

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          更新時間:2019-06-13 11:28:47瀏覽次數(shù):464評價

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          價格區(qū)間 面議 儀器種類 冷場發(fā)射
          應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保
          FERA3雙束掃描電鏡離子束流高達 2 µA,因此其濺射速度是傳統(tǒng) Ga 離子源的 50 倍以上,這使得 FERA3 成為完成耗時過長或幾乎不可能實現(xiàn)的大體積銑削任務(wù)的理想設(shè)備。

          FERA3雙束掃描電鏡離子束流高達 2 µA,因此其濺射速度是傳統(tǒng) Ga 離子源的 50 倍以上,這使得 FERA3 成為完成耗時過長或幾乎不可能實現(xiàn)的大體積銑削任務(wù)的理想設(shè)備。

          在 FIB-SEM 系統(tǒng)中,電子和離子束的焦點可以重合,從而可以對多種實際應(yīng)用進行優(yōu)化。這一特征使得其在 FIB 銑削任務(wù)期間能夠同時進行 SEM 成像——這使得在完成*精度要求的 FIB 操作時,性能和吞吐量都有了巨大飛躍。同時,F(xiàn)ERA3 配備有高性能的電路系統(tǒng)以用于更快的圖像采集,超快速的靜態(tài)和動態(tài)圖像畸變補償掃描系統(tǒng)以及用戶自定義內(nèi)置應(yīng)用程序腳本等。

          FERA3雙束掃描電鏡

          突出特點

          現(xiàn)代電子光學(xué)系統(tǒng)

          • Wide Field Optics™設(shè)計,利用中間鏡 ( IML) 技術(shù)使掃描電鏡具有多種操作和顯示模式,如大視野模式、景深增強模式等;
          • 實時電子束追蹤技術(shù)(In-Flight Beam Tracing™),可實現(xiàn)性能及電子束的優(yōu)化,同時直接連續(xù)調(diào)節(jié)控制電子束參數(shù);
          • 全自動電子光學(xué)系統(tǒng)的設(shè)置與對中;
          • 極快速的圖像采集速率,高達 20 ns;
          • 應(yīng)用3D 電子束技術(shù)可實現(xiàn)*的實時立體成像觀察,開啟驚奇的 3D 體驗及 3D 導(dǎo)航微納世界之旅;

          極其強大的 Xe 等離子源 FIB 鏡筒

          高電子回旋共振(High-ECR)產(chǎn)生的 Xe 等離子源 FIB 鏡筒,可完成 Ga 離子源 FIB 在納米工程領(lǐng)域不能完成的任務(wù)

          • 濺射速率比 Ga 液態(tài)金屬離子源快 50 倍;
          • 離子束流范圍:1 pA ~ 2 µA, 分辨率:< 25 nm;
          • 新研發(fā)的高分辨率 Xe 等離子體 FIB 鏡筒(選配),分辨率優(yōu)于15nm,進一步增強刻蝕能力;
          • 大重量的 Xe 等離子具備更大的 FIB 電流范圍,在無氣體輔助增強的條件下也可實現(xiàn)超快濺射
          • 相較于 Ga 液態(tài)金屬離子源,離子注入效應(yīng)顯著減少;
          • Xe 惰性氣體原子不會改變圖樣區(qū)域附近的電學(xué)性能;
          • 銑削過程中無金屬間化合物形成。

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