目前分析項(xiàng)目為：
1. 顯微Raman光譜分析。
2. PL光譜分析。
3. 時(shí)間解析PL光譜(TRPL)分析。
4. X-ray 繞射光譜分析 。
5. X-ray 元素?zé)晒夥治觥?/span>
6. 掃描式/穿透式電子顯微鏡(SEM/TEM)。
以上分析項(xiàng)目均會(huì)酌收耗材及書面報(bào)告費(fèi)用。若需分析原始數(shù)據(jù)文件，敬請(qǐng)事先提出。

無(wú)錫浩輝者新材料科技有限公司依靠多年材料特性研究的經(jīng)驗(yàn)及對(duì)檢測(cè)設(shè)備及技術(shù)的研發(fā)與應(yīng)用，為客戶提供材料檢測(cè)分析儀器及方法。讓客戶深入了解全面的分析技術(shù)，以及其性能限制，為客戶的分析需求選擇適合的分析儀器。與此同時(shí)，我們會(huì)幫助輔導(dǎo)客戶完成整個(gè)分析過(guò)程，得到客戶所需要的答案及結(jié)果。也可依顧客需求，提供完整專業(yè)的系統(tǒng)解決方案。