JW-BK122F 長(zhǎng)石比表面積及孔徑測(cè)試儀
參考價(jià) | ¥ 258000 |
訂貨量 | ≥1 |
- 公司名稱 北京精微高博科學(xué)技術(shù)有限公司
- 品牌
- 型號(hào) JW-BK122F
- 產(chǎn)地 北京市廣安門南濱河路25號(hào)金工宏洋大廈A座802
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2017/8/27 16:25:42
- 訪問次數(shù) 668
長(zhǎng)石BET比表面積儀長(zhǎng)石全自動(dòng)比表面分析儀長(zhǎng)石比表面積及孔徑分析儀長(zhǎng)石比表面積及孔徑測(cè)試儀
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JW-BK122F型 比表面及孔徑分析儀
精微高博是比表面積測(cè)定儀的廠商,精微高博比表面積測(cè)定儀一并榮獲中國(guó)*測(cè)試證書,*及CE認(rèn)證并且還有*的產(chǎn)品是通過(guò)**
精微高博比表面儀具有真空系統(tǒng),可以進(jìn)行精確的超微孔孔徑分布測(cè)試。
比表面積測(cè)定儀功能
比表面測(cè)定: BET(單點(diǎn)、多點(diǎn))比表面、Langmuir比表面、外表面測(cè)定;
BJH孔徑分布測(cè)定: 總孔體積、平均孔徑、孔容/孔徑的微分與積分分布;
微孔常規(guī)分析: 微孔總孔體積、總內(nèi)表面積(t-圖、D&R、MP等)
微孔孔徑分布分析: 氮分壓10-8 - 10-1范圍的等溫吸附曲線測(cè)定 0.35 - 2nm微孔孔徑分布測(cè)試(HK、FS、NLDFT法
比表面積測(cè)定儀技術(shù)參數(shù)
比表面積測(cè)定儀原理方法: 低溫氮吸附,靜態(tài)容量法
比表面積測(cè)定儀吸附氣體: 高純氮?dú)?,也可用氪、氦、二氧化碳等其他氣體
比表面積測(cè)定儀極限真空: ≤ 10-6 Pa ( 7.5×10-9 Torr)
比表面積測(cè)定儀氮?dú)夥謮海? 1×10-8 –0.995
比表面積測(cè)定儀控制精度: 測(cè)試壓力點(diǎn)控制zui小間隔可小于0.1 KPa (0.75 Torr) ,測(cè)試壓力點(diǎn)可多達(dá)一千個(gè)
多級(jí)壓力傳感器壓力測(cè)試精度達(dá)0.0001Pa (7.5×10-7 Torr)
10-8-10-1范圍測(cè)試壓力點(diǎn)大于50點(diǎn)
比表面積測(cè)定儀測(cè)試范圍: 比表面 ≥ 0.005 M2/g,無(wú)規(guī)定上限
介孔孔徑分析 2 - 400nm
微孔孔徑分析0.35 - 2nm
比表面積測(cè)定儀測(cè)試精度: ≤±1.5%
0.35-2nm 微孔zui可幾孔徑重復(fù)誤差 ≤0.01nm
比表面積測(cè)定儀測(cè)試效率: 多點(diǎn)BET比表面每樣平均20min
孔徑分析時(shí)間隨材質(zhì)不同各異
比表面積測(cè)定儀預(yù) 處 理: 兩樣品同位處理,真空低于0.1Pa, 溫度50 - 400℃,±1℃
比表面積測(cè)定儀軟件: BET(單點(diǎn)、多點(diǎn))、Langmuir、BJH、t-Plot、MP、D-R、
HK、FS、NLDFT等
比表面積測(cè)定儀特色
◎ 比表面儀具有國(guó)內(nèi)*可以精確測(cè)定微孔孔徑分布的儀器,控制和測(cè)試精度達(dá)到*水平,
工作站數(shù)量可根據(jù)用戶要求單獨(dú)設(shè)計(jì)、制造,可以代替進(jìn)口;
◎ 比表面儀具有真空度高,比表面和孔徑分析的范圍更寬,精度更高;
◎ 比表面儀具有*的抽氣與充氣速度精密控制技術(shù),保證了測(cè)試的準(zhǔn)確性和安全性;
◎ 比表面儀具有*的液氮面多途徑控制與校正技術(shù),連續(xù)測(cè)試10小時(shí)也不需添加液氮;
◎ 比表面儀具有微孔常規(guī)測(cè)試有完善的標(biāo)準(zhǔn)等溫線數(shù)據(jù)庫(kù)和規(guī)范的分析方法,國(guó)內(nèi);