觸摸屏測(cè)試儀（分離型），分離型電容屏測(cè)試儀，兩指分離型觸摸屏綜合測(cè)試儀儀器特點(diǎn)：

1.        客戶提供觸摸數(shù)控IC 之工作通信協(xié)議，即可采集、分析、統(tǒng)計(jì)紅外觸摸屏之點(diǎn)擊精度、劃線精度、靈敏度、坐標(biāo)抖動(dòng)、報(bào)點(diǎn)頻率、響應(yīng)時(shí)間等性能，客戶提供觸摸數(shù)控IC 之底層通信協(xié)議，即可完成信噪比測(cè)試測(cè)試，兼容多家品牌IC，如Cypress（賽普拉斯）、Atmel（愛(ài)*）、敦泰（Focaltech）、melfas、pixcir、Elan、leadis、SSL、Avago、seni、Hiamx、Synopsys、匯頂科技等；

2.        滿足CTP 屏精度測(cè)試、抖動(dòng)測(cè)試、線性度測(cè)試、靈敏度測(cè)試、長(zhǎng)時(shí)間劃線測(cè)試、長(zhǎng)時(shí)間點(diǎn)擊測(cè)試；

3.        運(yùn)動(dòng)軌跡及測(cè)試：方便的坐標(biāo)找點(diǎn)功能，只需于[教導(dǎo)程序]上任取三點(diǎn)可生成圓、三角等運(yùn)動(dòng)軌跡，任取二點(diǎn)可劃線，任取四點(diǎn)劃矩形，并可根據(jù)測(cè)試屏規(guī)格存儲(chǔ)運(yùn)動(dòng)軌跡便于下次調(diào)用；

4.        強(qiáng)大的存儲(chǔ)功能：由于測(cè)試文件存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)內(nèi)，不限組數(shù)，測(cè)試數(shù)據(jù)，方便調(diào)用；

5.        可實(shí)時(shí)顯示當(dāng)前X、Y、Z 軸坐標(biāo)值，電機(jī)驅(qū)動(dòng)速度、實(shí)時(shí)位置變化等；

6.        強(qiáng)大的測(cè)試軟件：軟件根據(jù)觸摸屏常用的測(cè)試方法，預(yù)置了多種測(cè)試方法，客戶只需要輸入觸摸屏的尺寸W&L，選擇測(cè)試方法（如精度測(cè)試、線性度測(cè)試等）即可測(cè)試，無(wú)需每次編輯；

7.        機(jī)臺(tái)采用高剛性鋁制表面經(jīng)陽(yáng)極氧化處理，富有質(zhì)感；

8.        XYZ 三軸采用日本松下伺服電機(jī)驅(qū)動(dòng)，日本THK 精密滾珠螺桿+雙THK 線性導(dǎo)軌傳動(dòng)，高速低噪聲，耐久使用；定位精準(zhǔn)，重復(fù)精度≤0.01mm 為業(yè)內(nèi)zui高；

9.        軟件精準(zhǔn)定位功能：可通過(guò)X1、X2、兩個(gè)點(diǎn)精準(zhǔn)定位試樣，一次設(shè)定保存后，同規(guī)格樣品無(wú)需再次校對(duì)定位，效率更率，精度更高；

10.     雙工位輪流測(cè)試式設(shè)計(jì)，可選用真空吸附CTP 屏，加快了測(cè)試速度，節(jié)省換屏和夾裝時(shí)間；

11.     設(shè)備結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)合理，充分考慮到人體工程易操作性，布局合理，將干擾源降到zui低；

12.     雙指分離測(cè)試設(shè)計(jì)。

觸摸屏測(cè)試儀（分離型），分離型電容屏測(cè)試儀，兩指分離型觸摸屏綜合測(cè)試儀測(cè)試項(xiàng)目：

1.        滿足CTP 屏廠產(chǎn)線測(cè)試：更換不同通信協(xié)議端口，可快速實(shí)現(xiàn)不同IC 之屏測(cè)試；滿足手機(jī)、平板電腦等整機(jī)測(cè)試，通過(guò)WIFI 傳輸測(cè)試數(shù)據(jù)給電腦軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)采集、分析、統(tǒng)計(jì)，并生成PDF測(cè)試報(bào)表；

2.        點(diǎn)擊精度測(cè)試：根據(jù)客戶不同要求，在測(cè)試區(qū)域內(nèi)任意位置設(shè)置多點(diǎn)點(diǎn)擊，測(cè)試每個(gè)點(diǎn)的位置偏差，并支持兩點(diǎn)同時(shí)點(diǎn)擊，真實(shí)地檢測(cè)出產(chǎn)品的處理能力及精準(zhǔn)度；

3.        劃線線性度測(cè)試：支持平行線、垂直線、對(duì)角線、圓弧等多種圖像來(lái)檢測(cè)產(chǎn)品的線性偏差?？稍跍y(cè)試區(qū)域內(nèi)任意設(shè)置線距、線數(shù)及弧度的大小，并支持兩點(diǎn)同時(shí)劃線、兩點(diǎn)劃圓等多種測(cè)試方式，達(dá)到更精確的體現(xiàn)產(chǎn)品的特性；

4.        靈敏度測(cè)試：可設(shè)定不同的劃線軌跡，實(shí)現(xiàn)接觸式劃線或非接觸式劃線，觸筆離產(chǎn)品的高度可按設(shè)定調(diào)節(jié)，并能自動(dòng)找出觸控高度；

5.        坐標(biāo)抖動(dòng)測(cè)試：在測(cè)試區(qū)域內(nèi)可設(shè)置多種測(cè)試圖形，并對(duì)每個(gè)點(diǎn)的數(shù)據(jù)進(jìn)行多次讀取，并計(jì)算出偏差值；

6.        劃線可靠性測(cè)試：在測(cè)試區(qū)域內(nèi)設(shè)置多種測(cè)試圖形，并按特定的時(shí)間及順序進(jìn)行劃線，判定在測(cè)試過(guò)程中是否有斷線現(xiàn)象；

7.        信噪比測(cè)試：通過(guò)對(duì)產(chǎn)品多點(diǎn)點(diǎn)擊測(cè)試，采集IC 采集的信號(hào)值并計(jì)算信噪比（需IC 協(xié)議支持）；

8.        報(bào)點(diǎn)頻率測(cè)試：在測(cè)試區(qū)域中心位置觸控產(chǎn)品，多次采集數(shù)據(jù)，計(jì)算出產(chǎn)品發(fā)出數(shù)據(jù)的頻率；

9.        響應(yīng)時(shí)間測(cè)試：在測(cè)試區(qū)域內(nèi)任意位置點(diǎn)擊，通過(guò)控制觸控并采集計(jì)算出產(chǎn)品的響應(yīng)時(shí)間，支持多點(diǎn)響應(yīng)時(shí)間測(cè)試；

10.     功耗測(cè)試：通過(guò)高精度毫瓦級(jí)功耗測(cè)試模塊測(cè)試出產(chǎn)品的靜態(tài)及動(dòng)態(tài)功耗（需IC 協(xié)議支持）；

11.     強(qiáng)大的數(shù)據(jù)庫(kù)功能，能快速的對(duì)采集回來(lái)的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析統(tǒng)計(jì)，實(shí)現(xiàn)圖形與數(shù)據(jù)鏈接，自動(dòng)生成各種測(cè)試報(bào)告，此報(bào)告格式可能要根據(jù)不同客戶要求改動(dòng)；

12.     軟件防呆能力、權(quán)限設(shè)置、一鍵式測(cè)試，操作簡(jiǎn)易，測(cè)試完畢可根據(jù)設(shè)定指標(biāo)（偏差值）自動(dòng)判定PASS OR FAIL；

13.     可滿足客戶雙指同時(shí)觸摸，可分離、合擾測(cè)試。

，分離型電容屏測(cè)試儀，兩指分離型觸摸屏綜合測(cè)試儀程序內(nèi)置多種模擬操作動(dòng)作手勢(shì)測(cè)試：

1.        二點(diǎn)同時(shí)點(diǎn)擊（A、B 點(diǎn)同時(shí)觸發(fā)面板連續(xù)二次，間隔0.1sec---此時(shí)間可設(shè)）

2.        單點(diǎn)觸發(fā)屏后直線移動(dòng)往返2 次（來(lái)回算一次，移動(dòng)長(zhǎng)度90mm，移動(dòng)距離可設(shè)）

3.        單點(diǎn)下筆觸發(fā)屏后直線移動(dòng)50mm 后抬筆

4.        單點(diǎn)觸發(fā)屏后停留2sec 并抬筆

5.        二點(diǎn)移動(dòng)（A、B 點(diǎn)互相遠(yuǎn)離、靠近直線移動(dòng)90mm，移動(dòng)距離可設(shè)，重復(fù)2 次（遠(yuǎn)離+靠近算一次）

6.        A 點(diǎn)觸摸后（A 點(diǎn)一直都是按壓狀態(tài)），間隔0.2sec后，由B點(diǎn)觸摸再抬筆，間隔0.2sec后，A 點(diǎn)離開(kāi)，重復(fù)2 次

，分離型電容屏測(cè)試儀，兩指分離型觸摸屏綜合測(cè)試儀主要配置：

，分離型電容屏測(cè)試儀，兩指分離型觸摸屏綜合測(cè)試儀主要參數(shù)：