儀器特性
1. 符合*飾新標準GB18043-2013。
2. 操作簡便,測量時間短,不需要輔助材料,不需損毀樣品。
3. 全封閉式金屬機箱及防泄漏保護設(shè)計,更好地保障操作員的人身安全。
4. 精確的樣品成像準直系統(tǒng),實現(xiàn)對樣品的準確點測。
5. 的數(shù)據(jù)分析方法,使測量結(jié)果更加精確。
6. 打印機可連續(xù)打印測量報告。
7. 具備高含量精密分析模式??蓪?9.9%(千足金)、99.99%進行有效分析。
8. 自定義工作曲線,可分析多種鍍層厚度。
9. 采用來自美國的*的電制冷SI-PIN半導體探測器,探測面積6mm2,具有優(yōu)秀的點對點測量能力,分辨率可達149eV,遠優(yōu)于國標GB18043-2008。因此大大降低了元素間的干擾,可準確檢測鉑金含銥、黃金含銥等復雜成分樣品,防止購回業(yè)務中產(chǎn)生誤判帶來經(jīng)濟損失。
10. 采用來自美國的第五代I型數(shù)字信號處理器,數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性和準確性遠高于國內(nèi)同類產(chǎn)品。
11. 采用來自美國的高壓電源,配合原廠的數(shù)字控制板,穩(wěn)定性遠高于國內(nèi)同類產(chǎn)品。
12. 我公司專業(yè)設(shè)計的X光管保養(yǎng)程序,能有效延長X光管壽命,降低用戶使用成本。
13. 高分辨率圖譜即時顯示,由不同色塊加以判斷區(qū)分,清晰明了,易于判別。
儀器技術(shù)指標
1. 外殼尺寸:630×445×400(mm)
2. 測量倉尺寸:360×260×145(mm)
3. 重量:約50kg
4. 適宜溫度:10—28℃ 相對濕度:≤80%
5. 元素分析范圍:硫(S)到鈾(U)
6. 含量分析范圍:1ppm—99.99%
7. 測量精度: ≤0.15%(足金以上精度≤0.1%)
8. 測量時間:100-300 s
9. 分辨率:149evFWHM@5.9keV
10. 探測器類型:電制冷SI-PIN半導體探測器
11. 信號處理器:美國原產(chǎn)第五代I型數(shù)字信號處理
12. 電源:交流220v±5v或110v±5v 頻率:47-63 HZ