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          BeamScope-P8激光光束分析儀

          具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          • 公司名稱 科藝儀器有限公司
          • 品牌 DataRay/美國(guó)
          • 型號(hào)
          • 產(chǎn)地
          • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
          • 更新時(shí)間 2021/12/15 16:18:44
          • 訪問次數(shù) 1170
          產(chǎn)品標(biāo)簽

          激光光束分析儀BeamScope-P8

          聯(lián)系方式:陸王君查看聯(lián)系方式

          聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!


          科藝儀器(A &P Instrument),1984年成立于香港,著名的激光、光電產(chǎn)品,教學(xué)儀器及實(shí)驗(yàn)室通用儀器代理商,是許多歐美在中國(guó)的代理,其中包含:博光,Apico,Velodyne,PHOTON ENERGY,Dataray,SLM,Admatec,Directphotonic,Pasco,Cole-Parmer,hrwallingford,F(xiàn)esto,GCC,Jasper,Matrix,Motic,Photron,PALAS,PolyScience,PreSens等??扑噧x器致力于引進(jìn)優(yōu)秀的產(chǎn)品和技術(shù)、提供給客戶完善的服務(wù),幫助客戶解決在科研、生產(chǎn)中遇到的問題,帶動(dòng)國(guó)內(nèi)教育、科研及相關(guān)行業(yè)水平的提高。

          公司產(chǎn)品內(nèi)容涉及以下三個(gè)方面:

          1. 各種激光器件及系統(tǒng)、光學(xué)器件及系統(tǒng)、精密移動(dòng)控制產(chǎn)品及光電測(cè)試設(shè)備;

          2. 大學(xué)、中學(xué)各學(xué)科的教學(xué)儀器:普通物理教學(xué)設(shè)備;工程研究及教學(xué)儀器;電工電子,電力;通信,液壓,自動(dòng)化和機(jī)器人,馬達(dá)控制,空調(diào)與制冷技術(shù);儀表與過程控制,多種培訓(xùn)系統(tǒng)等。

          3. 氣溶膠及顆粒分析監(jiān)測(cè)儀及采樣器、實(shí)驗(yàn)室通用儀器及設(shè)備、工業(yè)在線監(jiān)測(cè)儀器、流量計(jì)、及食品、環(huán)保監(jiān)測(cè)、材料測(cè)試儀器和設(shè)備。

          三十多年來,科藝儀器一貫秉持“專業(yè)·品質(zhì)·服務(wù)”的經(jīng)營(yíng)理念,切實(shí)為國(guó)內(nèi)廠家和用戶提供優(yōu)質(zhì)的服務(wù)和產(chǎn)品解決方案而倍受用戶的信賴。我們以提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品和專業(yè)的服務(wù)為宗旨,以專業(yè)高效的員工隊(duì)伍為依托,以客戶的滿意為己任??扑噧x器的銷售、技術(shù)服務(wù)網(wǎng)絡(luò)覆蓋全國(guó),輻射東南亞,公司已在北京、上海、廣州、深圳、成都、武漢、中國(guó)臺(tái)灣、新加坡等地設(shè)有分公司或辦事處,常駐銷售和技術(shù)人員,為客戶提供全面的售前、售中、售后支持和服務(wù)。同時(shí)我們?yōu)榭蛻籼峁└皶r(shí)、周到及滿意的服務(wù)。

           

           

          光譜儀;激光器;教學(xué)產(chǎn)品;氣溶膠測(cè)試儀器;過濾器測(cè)試系統(tǒng);蠕動(dòng)泵;

          產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 綜合

          BeamScope-P8激光光束分析儀

          狹縫掃描

          波長(zhǎng)范圍  190-1100nm

                      800-1800nm

                      1.5-3.5um

          分辨率   2um

          最小光束  100um

          掃描區(qū)域    5*7mm-Si

                 3mm-Ge

                 3mm-InGAS

          結(jié)合二維運(yùn)動(dòng)臺(tái)    23*43mm

          典型應(yīng)用

          à 激光/二極管激光表征

          à 激光組件開發(fā)、對(duì)準(zhǔn)、表征、生產(chǎn)測(cè)試和品控

          à 如下應(yīng)用的激光器和激光器組件

          - 磁盤/晶圓表征

          - 激光打印/打標(biāo)

          - 醫(yī)療激光

          - 條形碼掃描儀等。

          即時(shí)的:

          à X-Y 輪廓測(cè)量

          à 發(fā)散

          à 橢圓、質(zhì)心、高斯擬合

          à 相對(duì)功率

          特征:

          à 光束尺寸 100um 45 mm

          à 分辨率 2um 或 范圍0.5 %

          à 190 nm 至 3.5um 項(xiàng)

          à M2 測(cè)量附件

          à 符合 ISO 11146

          à 適用于密閉空間的窄探頭

          à 前置

          à 寬動(dòng)態(tài)范圍

          à 功能強(qiáng)大、直觀的軟件

          à 升級(jí)選項(xiàng),BeamScope-P7 至 USB 2.0

          配件和選項(xiàng)

          à M2 測(cè)量附件-USB 2.0

          à UV - NIR 選項(xiàng) 190 至 3.5 µm

          à 2-D 掃描平臺(tái),用于 23 x 45 mm 輪廓分析

           

          BeamScope-P8 系統(tǒng)包括:一個(gè)緊湊測(cè)頭、接口盒、一根3 m (10 ft.) USB 2.0 纜、用戶手冊(cè)和適用于 Windows XP、Vista 或 Windows7 的軟件。

          工作原理:線性掃描探頭帶有單個(gè)針孔、單個(gè)狹縫或正交 X-Y 狹縫。這種線性掃描滿足 ISO 11146 激光輪廓標(biāo)準(zhǔn)的嚴(yán)格要求。穿過狹縫的光落在硅(190 至 1150 nm)或鍺(800 至 1800 nm)測(cè)器上。 [* 在推出 DataRay BeamScope 光束分析儀之前,沒有市售的狹縫掃描或刀刃掃描光束分析儀符合 ISO 11146 標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)要求在與傳播軸正交的平面上進(jìn)行掃描。鼓式掃描儀不符合標(biāo)準(zhǔn)。 DataRay *的線性掃描探頭的設(shè)計(jì)*符合標(biāo)準(zhǔn)。]

          獲取狹窄區(qū)域的光束輪廓BeamScope-P8 使曾經(jīng)難以測(cè)量的光束輪廓的測(cè)量不僅成為可能,而且變得簡(jiǎn)單。*的探頭式掃描頭可輕松觀察透鏡、反射鏡和濾光片之間狹窄的軸向間隙。它能夠探測(cè)窄至 12 毫米的沿軸空間,開創(chuàng)了一個(gè)全新的應(yīng)用場(chǎng)景。

          沒有來自光學(xué)元件或濾光片的光束失真

          光束不會(huì)因輔助光學(xué)元件或濾光片而失真,因?yàn)?/span> BeamScope-P8 在分析大多數(shù)類型的激光器時(shí)不需要它們。 AUTO GAIN 功能可以連續(xù)調(diào)整探測(cè)器放大器增益,以確保充分利用 55 dB (300,000:1) 增益范圍??梢詮膯蝹€(gè)掃描頭測(cè)量 3um 到 23 mm 的光斑尺寸。結(jié)合新的 2-D 運(yùn)動(dòng)臺(tái)附件掃描高達(dá) 23 x 45 mm 的光束區(qū)域。

          前置光闌

          前置光闌使您能夠準(zhǔn)確地看到光束被測(cè)量的位置。如果您可以靠近光源,快速發(fā)散和快速聚焦的光束很容易捕獲。現(xiàn)在測(cè)量激光二極管陣列、微透鏡源、寬條紋激光器等比以往任何時(shí)候都更容易??捎玫?/span>光闌可以在孔徑上容納高達(dá) 100 W/mm2 的功率密度。 (最大總功率 = 0.5 W)在幾分鐘內(nèi)將孔徑從狹縫變?yōu)獒樋?。這賦予 BeamScope-P8 成為光束分析儀中良好的價(jià)值。

          USB 2.0 的筆記本電腦便攜性

          BeamScope 將接口插入您的筆記本電腦上的 USB 2.0 端口,以提供占用空間小的便攜式設(shè)備。

           

          研發(fā)、品控和生產(chǎn)的良好選擇

          研發(fā)用戶將感受全面的分析功能。 QA 和生產(chǎn)工程師會(huì)喜歡將測(cè)試配置保存為 JOB 文件并在屏幕上指示通過/失敗的功能。

          良好 M2 測(cè)量

          BeamScopeTM P8 可選 M2DU-P8 附件不同于市場(chǎng)上的任何其他附件。沒有復(fù)雜的調(diào)整,但用戶可以實(shí)現(xiàn)高度可重復(fù)的測(cè)量。該軟件會(huì)自動(dòng)在腰部區(qū)域進(jìn)行更頻繁的測(cè)量,以準(zhǔn)確確定真實(shí)的束腰直徑。

          23 x 45 mm 2-D 掃描臺(tái)

          DataRay 最新的光束分析創(chuàng)新技術(shù)可在高達(dá) 23 x 45 毫米的光束區(qū)域上提供非凡的 0.2%(512 x 512 像素)分辨率, 5 x 5um (HxV)。二維掃描結(jié)果顯示在用于區(qū)域圖像分析的集成成像軟件中。

          光束范圍

          P8產(chǎn)品規(guī)格 [如有更改,恕不另行通知.]

          測(cè)得對(duì)象

          CW 或脈沖激光 > 5kHz 脈沖重復(fù)率 @ 5% 占空比。 PRR越高越好。

          測(cè)量光束功率

          請(qǐng)參閱下面注釋中的圖表。 例如。 6 uW 至 3 W,對(duì)于 1 mm 直徑 (1/e2 ) 高斯光束 @ 633 nm,5um 狹縫。

          光學(xué)動(dòng)態(tài)范圍

          55 dB (= 300,000:1) [75 dB 使用中性密度 2.0衰減片]

          最大掃描形狀

          區(qū)域

          針孔(PA系列)

          狹縫(SS系列)

          X-Y 狹縫(XY 系列)

          二維運(yùn)動(dòng)臺(tái) (M2B)

          重要提示:為了準(zhǔn)確測(cè)量,光束寬度應(yīng) < 0.5 x 掃描尺寸

          使用 /EPH 擴(kuò)展探頭時(shí),以下 23 毫米的尺寸變?yōu)?35 毫米。

          形狀   交叉掃描 x 掃描長(zhǎng)度

          線掃描   針孔直徑 x 23 mm

          矩形     7* x 23 毫米,(* 5 用于 Ge,3 用于 InAs)

          梯形   5* x 15/5 mm,(* 3 用于 Ge,2 用于 InAs,3.5 x 13.5/6.5 用于 XYPl5)

          矩形 45 x 23 毫米掃描區(qū)域圖像。 在該區(qū)域掃描針孔。

          測(cè)量的光束直徑/寬度

          100um 至 ~ 25 毫米。 定義為 1/e2 直徑,= 高斯光束峰值的 13.5%)

          測(cè)量分辨率

          2um 或測(cè)量光束直徑的 0.5 %,以較大者為選項(xiàng)

          測(cè)量精度

          ±±2um或者測(cè)量光束直徑的 ±2%

          測(cè)量的光束輪廓

          X & Y

          線性和對(duì)數(shù)輪廓顯示模式

          測(cè)量的輪廓參數(shù)

          高斯光束直徑

          高斯擬合

          二次力矩光束直徑

          光束直徑

          質(zhì)心相對(duì)和絕對(duì)位置,

          橢圓度 + 主軸方向

          光束漂移顯示  

          顯示的配置文件

          僅 X、僅 Y、X 和 Y

          二維圖(10,16 或 256 色)重構(gòu)見注 1

          3-D 繪圖(10,16 或 256 色)重構(gòu)見注 1

          更新率

          1 到 2Hz。 取決于 PC 處理器速度、掃描的配置文件和選定的選項(xiàng)

          數(shù)據(jù)分析

          通過/失敗

          平均

          標(biāo)準(zhǔn)差

          在所有測(cè)量參數(shù)上,在屏幕上,以可選的通過/失敗顏色顯示 光束直徑運(yùn)行平均和累積平均選項(xiàng) 在累積平均屏幕上

          功率測(cè)量

          單位 mW、dBm、dB、% 或用戶輸入(相對(duì)于用戶提供的參考測(cè)量。)

          源到狹縫距離

          最小 1.0 毫米

          孔徑大小

          狹縫

          針孔

          重要提示:有關(guān)可測(cè)量的光束尺寸,請(qǐng)參見掃描區(qū)域(前述),請(qǐng)參見注釋 2 2.5、5、10、25 和 100um 寬 7 毫米長(zhǎng)

          (5 um 狹縫的平面版為 5 毫米長(zhǎng))

          5, 10, 25 和 50um 直徑(更大或更小的針孔,特殊訂單)見注 2

          波長(zhǎng)范圍

          硅探測(cè)器

          鍺探測(cè)器

          砷化鎵

          190 to 1150 nm

          800 to 1800 nm

          1.5 to 3.5 µm

          安裝

          ?-20 & M6 螺紋安裝孔

          溫度范圍(包括附件)

          操作

          貯存

          10oto 35

          5 to 45

          zhui低電腦要求 PC 或 Intel-Mac

          USB2.0 端口,Windows XP、Vista 或 Windows 7; 1024 MB 內(nèi)存; 10 MB 硬盤空間; 1024 x 768 顯示器。

           

           

           

          1. 2-D 和 3-D 輪廓是通過 X-Y 掃描“重建”的,假設(shè)測(cè)量的 X 光束輪廓對(duì)于所有 Y 值都相同,并且測(cè)量的 Y 光束輪廓對(duì)于所有值X都相同。

          2. 在單縫或針孔模式下,縫/針孔寬度應(yīng)小于等于被測(cè)光束直徑的1/3。對(duì)于傾斜±45°  X-Y 狹縫對(duì),該比率約為 1/5。

          3. 在刀刃模式下,狹縫寬度應(yīng)大于等于光束直徑的 3 倍。對(duì)于以±45° 傾斜的 X-Y 狹縫對(duì),該比率是不小于光束直徑的4.3 倍。

          功率限制。該圖允許您簡(jiǎn)單地確定 BeamScope 可以在沒有額外衰減的情況下測(cè)量的近似最大光功率。該限制是探測(cè)器電流限制。

          PxS 是以瓦特為單位的功率限制。

          計(jì)算激光波長(zhǎng)的功率極限:

          該圖顯示了直徑為 100 μm 的光束 (1/e2 ) 和 5 μm 狹縫的近似飽和光束功率(以 mW 為單位)與波長(zhǎng)的關(guān)系。

          1) 確定波長(zhǎng)的標(biāo)繪值 PS mW。 (例如 633 nm 時(shí)為 70 mw)

          2) 對(duì)于不同的狹縫或光束,將 PS 乘以:0.05.(光束直徑,μm)/(狹縫寬度,μm)

          3) 對(duì)于針孔,將 PS 乘以0.05 x(光束直徑,μm)2 /(針孔直徑μm)2 




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