1化學(xué)鎳自動(dòng)加藥系統(tǒng)，酸性蝕刻添加系統(tǒng)，鍍金自動(dòng)添加系統(tǒng)，禾威WALCHEM WCU/WNI/WEC/WPH 控制器，倒置式金相顯微鏡;金相消耗品;手提式涂層測(cè)厚儀;長(zhǎng)臂板厚測(cè)量?jī)x;熒光金屬鍍層測(cè)厚儀;測(cè)厚儀/標(biāo)準(zhǔn)片;磨拋機(jī);研磨/拋光兩用機(jī);金相切割機(jī);環(huán)氧乙烷滅菌箱;比重-密度天平;電子分析天平;鍍鎳自動(dòng)添加系統(tǒng);X射線測(cè)厚儀;鍍銅蝕銅自動(dòng)添加控制器;導(dǎo)電率自動(dòng)添加控制器;凝膠化時(shí)間測(cè)試儀;水質(zhì)測(cè)試包;銅箔抗剝離強(qiáng)度測(cè)試儀;
品牌： Specialty Coating System
型號(hào)： Omegameter 600SMD
測(cè)量范圍： 0~100μg/cm2
測(cè)量對(duì)象： 裸板、組裝板、半導(dǎo)體封裝產(chǎn)品
重量： 230公斤
適用范圍： 66.04厘米
作為一種被客戶廣泛接受的產(chǎn)品，600SMD成為了電子行業(yè)內(nèi)離子污染測(cè)試儀的代表設(shè)備，應(yīng)用于半導(dǎo)體生產(chǎn)，封裝，電子組裝，印刷電路板制造中的過(guò)程監(jiān)控和出廠檢驗(yàn)。自2010年下半年起，OM600SMD將完成全新改型，新機(jī)型保持了先前機(jī)型的方便性，同時(shí)提高了自動(dòng)化程度、測(cè)試精度，以及使用安全性，并且增加了選配軟件功能，可以在電腦上查看并記錄測(cè)試過(guò)程曲線，生成測(cè)試報(bào)告，先前的可存儲(chǔ)料號(hào)數(shù)量也從30個(gè)增加到99個(gè)。
無(wú)論從外觀還是性能上，新600SMD都更加*，相信會(huì)給您帶來(lái)新的測(cè)試感受！
深圳瑞思遠(yuǎn)科技有限公司長(zhǎng)期供應(yīng)Omegameter 600SMD離子污染測(cè)試儀 各種配件
離子污染測(cè)試儀探頭,600SMD探頭
離子污染測(cè)試儀打印機(jī)組,打印頭,打印機(jī)
離子污染測(cè)試儀用離子交換樹(shù)脂, 陰陽(yáng)離子混合交換樹(shù)脂,交換柱 （4個(gè)一組）
離子污染測(cè)試儀標(biāo)準(zhǔn)溶液,離子污染測(cè)試儀3#
離子污染測(cè)試儀測(cè)試液
離子污染測(cè)試儀打印控制板
離子污染測(cè)試儀色帶
離子污染測(cè)試儀主板
離子污染測(cè)試儀顯示屏
離子污染測(cè)試儀電磁泵
離子污染測(cè)試儀電磁閥
操作原理：
SMD600離子污染測(cè)試儀通過(guò)監(jiān)控混合液中所含離子的電阻大小從而得出所所含離子的數(shù)量。
在測(cè)試的開(kāi)始時(shí)，系統(tǒng)的檢測(cè)器和記錄器會(huì)根據(jù)測(cè)試槽內(nèi)zui初的離子含量建立一個(gè)基準(zhǔn)數(shù)據(jù)，然后計(jì)算在測(cè)試的過(guò)程中增加的離子量，當(dāng)所有的離子溶解入測(cè)試液中時(shí)，就可達(dá)到一個(gè)平衡的數(shù)值。在測(cè)試通孔的板時(shí)，這些操作大約需要5-10分鐘，測(cè)試SMD的板時(shí)，大約需要30-45分鐘。
測(cè)試結(jié)素后，zui后的離子含量水平，會(huì)編成一份微觀圖，包括NaCl/sq.inch 、測(cè)試的參數(shù)以及根據(jù)設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)是否合格情況，在進(jìn)行下一次測(cè)試之前，通過(guò)儀器內(nèi)的除離子系統(tǒng)清潔測(cè)試液，從而達(dá)到再生的功能，并且建立新的基準(zhǔn)水平。
特性: 緊湊獨(dú)立、微處理器控制的精確可重復(fù)性的系統(tǒng)
簡(jiǎn)單友好的操作界面，數(shù)據(jù)庫(kù)可儲(chǔ)存30個(gè)測(cè)試樣品數(shù)據(jù)
自動(dòng)測(cè)試終止，污染曲線及測(cè)試參數(shù)的打印輸出
加熱測(cè)試溶液改良污染物的溶解度
測(cè)試腔內(nèi)淹沒(méi)式噴射增加溶液滲透
高速測(cè)試溶解循環(huán)泵
可互換的測(cè)試腔體從 8"x8"到26"x26"
深圳瑞思遠(yuǎn)科技有限公司
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