E+H電容式物位計可靠的全絕緣探頭可用于液體液位連續(xù)測量，尤其適用于小型儲罐、有黏附形成的介質(zhì)以及高溫的場合，是大量程測量的佳之選。測量與DK值（介電常數(shù)）無關(guān)。與FieldgateFXA320（使用因特網(wǎng)技術(shù)的遠(yuǎn)程測量值訪問）配套使用，Liquicap提供理想的庫存管理解決方案。
   E+H電容式物位計使用的微波頻率有三個頻段：C波段(5.8～6.3GHz)、X波段(9～10.5GHz)、K波段(24～26GHz)。制造商根據(jù)自己的技術(shù)及國家批準(zhǔn)的頻率來設(shè)計產(chǎn)品。
   物位測量中的微波一般是定向發(fā)射的，通常用波束角來定量表示微波發(fā)射和接收的方向性。波束角和天線類型有關(guān)，也和使用的微波頻率(波長)有關(guān)。
   對于常用的圓錐形喇叭天線來說，微波的頻率越高，波束的聚焦性能越好，即波束角小，在實際使用中這是十分重要的，低頻微波物位計有較寬的波束，如果安裝不得當(dāng)，將會收到內(nèi)部結(jié)構(gòu)產(chǎn)生的較多的虛假回波，例如：采用4”喇叭天線的26GHz雷達(dá)的典型波束角為8°，而5.8GHz 的典型波束角為17°。并且，微波的頻率越高，其喇叭尺寸也可以做的越小，更易于開孔安裝。還沒有頻率高于K波段(24—26GHz)的微波(雷達(dá))物位計。
   E+H電容式物位計FMI52型而X波段雷達(dá)由于沒有明顯的應(yīng)用特點(diǎn)，而在各大物位廠商的雷大物位技術(shù)發(fā)展中趨于被淘汰。現(xiàn)今物位測量領(lǐng)域困擾用戶的是一些大型固體料倉的物位測量，特別是用于50/100米以內(nèi)的充滿粉塵和擾動的加料狀態(tài)下的料倉。相關(guān)技術(shù)的儀表例如電容或?qū)Рɡ走_(dá)TDR在放料時物位下降時會受到很強(qiáng)的張力負(fù)載，可能會損壞儀表或把倉頂拉塌掉。重錘經(jīng)常有埋錘的問題，需要經(jīng)常維修，大多數(shù)其他機(jī)械式儀表也是這樣。而高粉塵工況又可能會超出非接觸式超聲波物位測量系統(tǒng)的能力。 高頻的調(diào)頻雷達(dá)技術(shù)尤其適合這種大型固體料倉的物位測量!
   現(xiàn)今的高頻雷達(dá)一般為工作在K波段(24～26GHz)的雷達(dá)物位計，雷達(dá)的工作頻率越高其電磁波波長越短，越容易在傾斜的固體表面有更好的反射，并具有較窄的波束寬度，可有效避開障礙物，高的頻率還可使雷達(dá)使用更小的天線。而FMCW調(diào)頻連續(xù)波微波物位計發(fā)射和接受信號是同時的，相同時間內(nèi)發(fā)射的微波信號更多，固體測量中可減少高粉塵固體料倉測量中的失波現(xiàn)象。因此固體測量中高頻的調(diào)頻雷達(dá)能提供準(zhǔn)確、可靠的測量，并在例如化工行業(yè)中的PP粉末、PE粉末等介質(zhì)中也有良好應(yīng)用。但由于技術(shù)限制，現(xiàn)今還沒有工作在K波段以上的高頻雷達(dá)物位計。
   接下來小編為大家介紹下E+H電容式物位計的幾個優(yōu)勢.
優(yōu)勢1:對于電導(dǎo)率大于100μS/cm的液體無需標(biāo)定，探頭長度0%/100%出廠預(yù)設(shè)定，調(diào)試快速簡單。
優(yōu)勢2:文本顯示，菜單引導(dǎo)式現(xiàn)場設(shè)置（可選）。
優(yōu)勢3:已獲得各項認(rèn)證與許可，適用范圍廣泛。
優(yōu)勢4:符合IEC61508標(biāo)準(zhǔn)，適用于需要SIL2級安全度的安全系統(tǒng)中。
優(yōu)勢5:接液部分采用抗腐蝕材料和FDA認(rèn)證材料制作。
優(yōu)勢6:雙重過壓保護(hù)（氣體放電器+防護(hù)二極管）可預(yù)防儲罐放電。
優(yōu)勢7:電子元件提供內(nèi)置黏附補(bǔ)償
   FMI52結(jié)構(gòu)堅固（自密封錐體），探頭承壓范圍從真空至100bar。儲罐使用的密封與隔離材料溫度范圍可達(dá)-80~+200℃。液體電導(dǎo)率大于100μS/cm時，測量值與DK（介電常數(shù)）無關(guān)，因此無需重新標(biāo)定即可測量不同液體。
   我司除有現(xiàn)貨外，還常備E+H電容式物位計FMI52型其它型號現(xiàn)貨，具體如下.
FMU90-R11CA212AA3A
FTL260-0010
FTL20-0010