MAIA3 TESCAN MAIA3分析用掃描電子顯微鏡
- 公司名稱(chēng) 上海巨納科技有限公司
- 品牌
- 型號(hào) MAIA3
- 產(chǎn)地 美國(guó)
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/6/3 12:10:38
- 訪問(wèn)次數(shù) 1838
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TESCAN MAIA3分析用掃描電子顯微鏡
MAIA3是新開(kāi)發(fā)的分析用掃描電子顯微鏡,它可以得到在15kV下1nm的超高分辨率。采用二次電子信號(hào),在1kV下分辨率為1.4nm。此型號(hào)電鏡配備肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)约?/span>TESCAN*的三透鏡電子光學(xué)系統(tǒng)。
相比于常規(guī)物鏡,它采用了TESCAN*構(gòu)造的60度磁浸沒(méi)物鏡,它能顯著地減小光學(xué)像差,在低電壓下依然有著超高的分辨率。另外,添加的中磁透鏡可以和物鏡同時(shí)使用或者代替物鏡觀察,以提供多種顯示模式。
zui重要的特性:
u 具有非凡分辨率的單極60度角物鏡;
u 無(wú)場(chǎng)模式用于磁性樣品的觀察;
u 高亮度肖特基電子槍可得到高分辨率/高束流/低噪聲的圖像;
u 鏡筒中的In-Beam二次電子探測(cè)器用于小工作距離條件下二次電子的檢測(cè);
u *的三透鏡大視野觀察設(shè)計(jì),提供了多種工作模式和顯示模式,體現(xiàn)了TESCAN專(zhuān)有中間透鏡(IML)的功能;
u 實(shí)時(shí)電子束追蹤技術(shù),可模擬和進(jìn)行束斑優(yōu)化,包括直接和連續(xù)控制電子束束斑和束流大?。?/span>
u 電子束減速模式在低電壓下獲取優(yōu)秀的分辨率(選配);
u In-Beam背散射電子探測(cè)器用于小工作距離的背散射電子成像;
u 成像速度快;
u 高通量大面積自動(dòng)化,例如自動(dòng)顆粒分布和分析;
u 計(jì)算機(jī)優(yōu)化、馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的樣品臺(tái);
u 利于EDX、EBSD分析的理想幾何設(shè)計(jì);
u 由于使用了強(qiáng)力的渦淪分子泵和機(jī)械泵,因而可以快速簡(jiǎn)單得到干凈的真空樣品室;電子槍的真空度由離子泵來(lái)維持;
u 包括電子光學(xué)設(shè)置和校準(zhǔn)的全自動(dòng)顯微鏡設(shè)置;
u 完善的軟件用于SEM控制,圖像采集、存檔、處理和分析;多用戶多語(yǔ)言操作界面;
u 網(wǎng)絡(luò)操作和內(nèi)置的遠(yuǎn)程控制/診斷是TESCAN的標(biāo)準(zhǔn)配置;
u *的3維電子束技術(shù)用于獲得實(shí)時(shí)立體圖像。
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