美國博曼膜厚儀BA-100

    博曼膜厚儀可應于含無鉛焊錫在內的合金電鍍或多層電鍍的測量，應用范圍廣泛。
利用Microsoft的Office操作系統(tǒng)可將檢測報告工作之便簡單快速地打印出來。
    只需輕輕按一下激光對焦按鈕，就可自動進行對焦。對于測量有高低差的樣品時，配置了為防止樣品和儀器沖撞的自動停止功能。
    博曼膜厚儀主要基于核心控制軟件的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。采用全新數學計算方法,采用FP（Fundamental Parameter）、DCM （Distenco ControlledMeasurement）及強大的電腦功能來進行鍍層厚度的計算，在加強的軟件功能之下，簡化了測量比較復雜鍍層的程序，甚至可以在不需要標準片之下，一樣精準測量。

產品描述：

美國博曼膜厚儀（Bowman）Bowman BA-100 Optics 臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀——為您提供準確、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析，以及電鍍液分析。

Bowman BA-100 Optics 機型采用*的的多孔毛細管光學聚焦裝置，有效縮小測量點斑點的同時，可數倍乃至數十倍提高X射線激發(fā)強度。

Bowman BA-100 Optics 機型配備大面積的SDD（硅漂移探測器），有效拓展元素分析范圍，適應嚴格的微區(qū)、超薄鍍層，以及痕量元素分析需求。

優(yōu)秀的測試性能、突出的微區(qū)測量能力，Bowman BA-100 Optics機型是研究開發(fā)、質量管控的XRF鍍層厚度及元素成分分析儀器。

穩(wěn)定的X射線管

         ● 微聚焦50瓦Mo靶射線管（其它靶材可選）; 小于100um的測量斑點

         ● 射線出射點預置于射線管Be窗正*

         ● 長壽命的射線管燈絲

         ● *的預熱和ISO溫度適應程序

多毛細管聚焦光學結構

         ● 顯著提高X射線信號強度

         ● 獲得較準直器機型數倍乃至數十倍的信號強度

         ● 小于100um直徑的測量斑點

         ● 經過驗證，接近*的測量精度
 

博曼膜厚儀分析：

元素范圍：鋁13到鈾92。

x射線激發(fā)能量：50 W(50 kv和1 ma)鎢靶射線管

探測器：硅PIN檢測器250 ev的分辨率或更高的分辨率

測量的分析層和元素：5層(4層鍍層+基材)和10種元素在每個鍍層成分分析的同時多達25元素

過濾器/準直器：4個初級濾波器,4個電動準直器（0.1 0.2 0.3 1.5mm）

聚焦:多固定聚焦與激光系統(tǒng)

數字脈沖處理:4096 多通道數字分析器與自動信號處理，包括X射線時間修正和防X射線積累　　

電腦:英特爾酷睿i5 3470處理器(3.2 ghz),8 gb DDR3內存,微軟Windows 7專業(yè)64位等效

鏡頭:1/4 " cmos - 1280 x720 VGA分辨率

電源:150 w、100 ~ 240伏,頻率范圍47赫茲到63赫茲　

工作環(huán)境:50°F(10°C)到104°F(40°C)小于98% RH,無冷凝水

重量:32公斤

內部尺寸:高:140毫米(5.5“),寬:310毫米(12),深:210毫米(8.3”)  140*310mm

外形尺寸:高:450毫米(18英寸),寬:450毫米(18),深:600毫米(24) 450*450mm

博曼膜厚儀主要用于鍍層或涂層厚度的測量，而且特別適合于對微細表面積或超薄鍍層的測量。博曼膜厚儀采用真正的基本參數原理（FP）來測量厚度。