加拿大C-Therm公司(C-Therm Technologies Ltd. )擁有高科技的導熱系數儀TCi。
C-Therm TCi導熱系數儀采用“改良瞬態(tài)平面熱源法(Modified Transient Plane Source,”MTPS”)”的技術,可直接對固體、液體、粉末和膠體等各種材料的導熱系數(thermal conductivity)和熱逸散率(thermal effusivity)進行快速、精確地測定。TCi的應用領域包括聚合物材料、相變材料、粉末材料、熱界面材料、納米材料、傳熱流體、隔熱材料、熱電材料、含能材料、建筑材料、地質材料和功能性織物等等,的客戶包括美國*、NASA、3M、霍尼韋爾、寶潔、杜邦、三星、清華大學、中國工程物理研究院、中科院化學所、北京理工等研究機構和高校。
C-Therm TCi導熱系數儀可用于實驗室研發(fā),質檢控制及生產制造過程。測試僅需短短幾秒,無需對樣品進行制備,沒有樣品尺寸限制,且測試對樣品無損。
測試導熱系數范圍為0-500 W/mK,適用溫度范圍為-50°C~200°C,并可根據需要擴展至500°C。測試精確度優(yōu)于5%,重復性優(yōu)于1%。
TCi導熱系數儀能非常方便地同控溫箱、高壓倉和手套箱等其他實驗設備聯合使用,滿足用戶對各種測試環(huán)境的不同需求。
除MTPS探頭外,TCi另有瞬態(tài)法(Transient Line Source)探頭可選,用于測試熔融高分子,土壤,瀝青、油、蠟等材料。
技術指標
導熱系數測試范圍 0 to 500 W/mK
測試時間 0.8 到 3 秒
zui小測試樣品尺寸 17.8mm 直徑
zui大測試樣品尺寸 無限
zui小測試樣品厚度 通常 0.5mm, 基于測試物體的熱傳導性
zui大測試樣品厚度 無限
溫度范圍 -50℃ 到 200℃, 可拓展至500 ℃
重復性 優(yōu)于 1%
精確度 優(yōu)于 5%
其他測量屬性 熱擴散值 比熱容 密度
標準 ASTM D7984-16、 ASTM D5334、ASTM D5930,IEEE 442-1981