白俄羅斯EssentOptics公司基于*性設(shè)計(jì)的分光光度計(jì)和單色儀來開發(fā)和生產(chǎn)光學(xué)儀器設(shè)備。PHOTON RT 紫外可見中波紅外分光光度計(jì)可以滿足目前以及未來的光學(xué)工業(yè)用戶的需求。

該光度計(jì)可以實(shí)現(xiàn)對(duì)光學(xué)鍍膜樣品進(jìn)行無人值守測(cè)量的儀器。其測(cè)量波長(zhǎng)范圍185nm到5200nm，可以在寬角度和寬波長(zhǎng)范圍測(cè)量反射率、透過率和偏振態(tài)。

紫外可見中波紅外分光光度計(jì)優(yōu)勢(shì)：

擁有比市場(chǎng)上同類儀器超過10倍的測(cè)量速度；

改變測(cè)量入射角度時(shí)不需重新校準(zhǔn)基準(zhǔn)；

在基片的同一區(qū)域可以測(cè)量透過濾和反射率——*用于薄膜設(shè)計(jì)的逆推分析；

*的自動(dòng)化過程將測(cè)量過程中的人為錯(cuò)誤*地zui小化；

單一儀器中可設(shè)置、記錄寬波長(zhǎng)范圍： 190-4900 nm和 380-5200 nm；

特點(diǎn)和測(cè)量能力 (不需額外附加裝置):

可設(shè)置波長(zhǎng)范圍：190-4900 nm 和 380-5200 nm

內(nèi)置寬譜帶高對(duì)比偏光鏡，覆蓋 波長(zhǎng)范圍220-5200 nm

*的偏光鏡設(shè)置： S， P， S+P+(S+P)/2， 隨機(jī)和用戶自定義S：P

鏡面反射測(cè)量(R, Rs, Rp)@ 8-75deg AOI

透射比測(cè)量 (T, Ts, Tp)@ 0-75 deg AOI

無人值守測(cè)量和隨機(jī)T(s+p)/2和 R(s+p)/2偏振計(jì)算

無反射基片的吸收比測(cè)量

內(nèi)建光束位移補(bǔ)償對(duì)厚樣品的任意角度下的透射比測(cè)量

對(duì)單個(gè)或多個(gè)樣品的無人值守批量測(cè)量

對(duì)單層均勻膜層的復(fù)折射率和膜層厚度的測(cè)定

在用戶選擇波長(zhǎng)范圍內(nèi)對(duì)R和T值的平均化

依據(jù)A型照明光源和人眼光譜敏感性對(duì)R和T值進(jìn)行積分調(diào)整

樣品的光密度測(cè)量，0 – 4 (D)

展示圖：