更高分辨率、更高襯度、更快速度

蔡司是的能在實(shí)驗(yàn)室儀器中提供 50 nm 分辨率無(wú)損三維 X 射線成像解決方案的廠商。除吸收襯度和 Zernike 相襯技術(shù)外，蔡司 Xradia 810 Ultra 還運(yùn)用了改裝自同步加速器的*光學(xué)器件，用以為研究提供業(yè)界出眾的分辨率和襯度。通過(guò)在傳統(tǒng)成像工作流程中加入關(guān)鍵的無(wú)損分析步驟，從而讓這款創(chuàng)新型儀器實(shí)現(xiàn)了研究領(lǐng)域的突破。

Xradia 810 Ultra 能夠利用 5.4 keV 下的更高襯度對(duì)大量難于成像的材料進(jìn)行高分辨率 X 射線成像。借助吸收襯度和相襯技術(shù)來(lái)優(yōu)化大量材料的成像，如聚合物、氧化物、復(fù)合材料、燃料電池、地質(zhì)樣品及生物材料等。在*的同步加速器實(shí)驗(yàn)室內(nèi)*引入納米級(jí) X 射線成像技術(shù)，蔡司 XRM 開創(chuàng)性解決方案始終讓您走在科學(xué)研究的zui前列。

通過(guò)將納米級(jí) X 射線成像的速度提升一個(gè)數(shù)量級(jí)，拓展了 XRM 在科學(xué)和工業(yè)領(lǐng)域中的應(yīng)用。對(duì)于中心顯微實(shí)驗(yàn)室而言，更快的工作流程意味著有更多的用戶能在更短的時(shí)間內(nèi)綜合利用儀器，從而利于擴(kuò)大 XRM 的用戶群。同樣，您也可以快速地重復(fù)執(zhí)行內(nèi)部結(jié)構(gòu)的四維和原位研究，使這些技術(shù)的應(yīng)用面更廣。在諸如數(shù)字巖石物理技術(shù)等有針對(duì)性的應(yīng)用中，Xradia 810 Ultra 可用于評(píng)估油氣鉆探的可行性，在數(shù)小時(shí)內(nèi)提供測(cè)量數(shù)據(jù)來(lái)表征關(guān)鍵性參數(shù)，如孔隙度。