MPS-C-3X0 磁體探針臺(tái)
- 公司名稱 韋氏納米系統(tǒng)(深圳)有限公司
- 品牌
- 型號(hào) MPS-C-3X0
- 產(chǎn)地 美國(guó)
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2018/8/21 15:25:47
- 訪問次數(shù) 919
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MPS-C-3X0磁體探針臺(tái)系統(tǒng)是世界上*個(gè)探針臺(tái),能夠在被測(cè)試的器件上提供三維磁場(chǎng)控制。
真正*的設(shè)計(jì)使自旋電子器件的做晶圓級(jí)測(cè)試、納米電子和許多其他材料和器件在所需磁場(chǎng)中準(zhǔn)確的測(cè)試和測(cè)量。自旋流和自旋矩振蕩器測(cè)試,磁模擬和識(shí)別復(fù)雜的多層結(jié)構(gòu)的各向異性只是應(yīng)用
我們的MPS系統(tǒng)的幾個(gè)案例。
MPS系列磁體探針臺(tái)特點(diǎn):
MPS系列磁體探針臺(tái)是能提供在應(yīng)用磁場(chǎng)中對(duì)任意兩或三維定位的探針臺(tái),是自旋電子器件的特性和自旋電子學(xué)研究的一個(gè)最終的探針臺(tái)解決方案。
MPS系列磁探針臺(tái)是能提供的晶圓級(jí)別的矢量磁場(chǎng)探測(cè)的探針臺(tái),特適合于在生產(chǎn)環(huán)境中自旋和磁電子器件測(cè)試。
MPS系列磁體探針臺(tái)*可定制的,基于開源的LabVIEW的控制軟件,很容易與較常見的測(cè)試和測(cè)量設(shè)備集成。
高分辨率微定位器40、80、100和200tpi下探針的微米級(jí)定位螺釘。
數(shù)據(jù)收集和/或分析與廣泛的輸出格式和選項(xiàng)可用。
系統(tǒng)提供了三維霍爾探頭,以提供的穩(wěn)定性和精度所施加的磁場(chǎng)通過閉環(huán)控制。
可選項(xiàng):
升級(jí)為150mm或200mm晶圓。
擴(kuò)展磁場(chǎng)均勻性/穩(wěn)定性。
高分辨率顯微鏡。
用于探測(cè)期間的域成像偏振顯微鏡。
升級(jí)射頻探針
擴(kuò)展溫度范圍探測(cè)
相機(jī)的廣泛選擇
晶片卡盤廣泛的選擇
對(duì)micropositioners廣泛的選擇,探針和探針*武器
超真空泵
受控環(huán)境測(cè)量