SR Series 光譜反射儀
- 公司名稱 韋氏納米系統(tǒng)(深圳)有限公司
- 品牌
- 型號 SR Series
- 產(chǎn)地 美國
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2018/8/23 11:16:44
- 訪問次數(shù) 350
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光譜反射儀(SR)系列是一款相對較低成本和操作簡單的工具。
SR 系列特征:
簡單易操作
系統(tǒng)性能基于*的光學(xué)設(shè)計(jì)
基于陣列的探測器系統(tǒng)保證快速測量
測量薄膜厚度和折射率可達(dá)5層
允許在毫秒內(nèi)獲得反射、透射和吸收光譜
可用于實(shí)時(shí)或在線厚度,折射率的監(jiān)測
系統(tǒng)具有全面的光學(xué)常數(shù)數(shù)據(jù)庫
*的TFprobe軟件允許用戶使用NK表、分散或有效介質(zhì)近似(EMA)每個(gè)單獨(dú)的膜。
可升級到MSP(顯微分光光度計(jì))系統(tǒng),SRM映射系統(tǒng),多通道系統(tǒng),大點(diǎn)的·直接測量圖案或功能結(jié)構(gòu)
適用于多種不同厚度的基材
各種附件可用于特殊配置,如運(yùn)行曲線測量曲面
2D和3D輸出圖形和用戶友好的數(shù)據(jù)管理接口