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          產(chǎn)品展廳

          產(chǎn)品求購企業(yè)資訊會(huì)展

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          SR Series 光譜反射儀

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          光譜反射儀儀器

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          First-Nano System GmbH 

          • 2003年          創(chuàng)立于德國德累斯頓工業(yè)大學(xué)(Dresden University of Technology)

          • 2008年          香港成立德國韋氏納米系統(tǒng)(香港)有限公司   

          • 2015年          上海成立德國韋氏納米系統(tǒng)(香港)有限公司中國代表處,負(fù)責(zé)中國區(qū)業(yè)務(wù)

          • 2018年          深圳正式成立韋氏納米系統(tǒng)(深圳)有限公司,更好的為中國南方區(qū)市場

             

          德國韋氏納米系統(tǒng)成立以來,一直為客戶想的更多,Thinking more ?。?!

           

          產(chǎn)品范圍:

          薄膜沉積/Thin Film Deposition 
          E-Beam and Thermal Evaporation, PECVD, PLD, DLC, DC & RF Sputtering, Ion Beam Sputtering
          刻蝕/Etching
          RIE, DRIE, ICP, Ion Beam Milling, RIBE, Plasma, ALE
          薄膜制程/Growth
          ALD, PA-MOCVD, CNT, Graphene
          表面處理/Surface Treatment
          Ion Beam, PIII, Plasma Cleaner, RTP
          清洗/Cleaning
          - Dry: Ion Beam, Plasma Cleaner
          - Wet: Megasonic, 杜邦EKC清洗液
          其他/Other,
          Device Testing System for Space Simulation, Heated Platens, Plasma Sources, Resist Stripping Systems

          等離子清洗機(jī),均膠機(jī),薄膜沉積,刻蝕

          光譜反射儀(SR)系列是一款相對較低成本和操作簡單的工具。

           

          SR 系列特征:

          • 簡單易操作                        

          • 系統(tǒng)性能基于*的光學(xué)設(shè)計(jì)            

          • 基于陣列的探測器系統(tǒng)保證快速測量            

          • 測量薄膜厚度和折射率可達(dá)5層            

          • 允許在毫秒內(nèi)獲得反射、透射和吸收光譜            

          • 可用于實(shí)時(shí)或在線厚度,折射率的監(jiān)測            

          • 系統(tǒng)具有全面的光學(xué)常數(shù)數(shù)據(jù)庫           

          • *的TFprobe軟件允許用戶使用NK表、分散或有效介質(zhì)近似(EMA)每個(gè)單獨(dú)的膜。            

          • 可升級到MSP(顯微分光光度計(jì))系統(tǒng),SRM映射系統(tǒng),多通道系統(tǒng),大點(diǎn)的·直接測量圖案或功能結(jié)構(gòu) 

           

          • 適用于多種不同厚度的基材            

          • 各種附件可用于特殊配置,如運(yùn)行曲線測量曲面            

          • 2D和3D輸出圖形和用戶友好的數(shù)據(jù)管理接口

           



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