Genius5000 手持式XRF光譜儀
- 公司名稱(chēng) 深圳市藝慈儀器有限公司
- 品牌 SanX/三翔
- 型號(hào) Genius5000
- 產(chǎn)地 昆山
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/1/10 17:21:37
- 訪問(wèn)次數(shù) 9680
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RoHS檢測(cè)儀，RoHS光譜分析儀，RoHS2.0檢測(cè)儀器，測(cè)厚儀，金屬合金元素分析儀，不銹鋼牌號(hào)檢測(cè)儀器，ROHS檢測(cè)儀器、rohs檢測(cè)儀、元素分析儀、x熒光光譜儀、液相色譜儀、分光光度計(jì)、X射線熒光光譜儀(XRF)、手持式便攜式礦石分析儀、古董鑒定儀、玩具安全檢測(cè)儀、鹵素ROHS檢測(cè)儀、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀、原子熒光光譜儀、氣相色譜儀、液相色譜等
| 激發(fā)方式 | 火花 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 檢測(cè)器類(lèi) | 雙檢測(cè)器（PMT+CCD) | 儀器種類(lèi) | 移動(dòng)、便攜式 |
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
1.關(guān)于一體化設(shè)計(jì)我公司手持式四代Genius 5000手持式XRF光譜儀采用的是顯示器與主機(jī)*一體，也是一體機(jī)設(shè)計(jì)，顯示屏可以上下90度和左右270度旋轉(zhuǎn)，戶外使用時(shí)可防止屏幕反光，使數(shù)據(jù)查看更清晰，方便客戶從各個(gè)角度觀看。實(shí)現(xiàn)了真正的一體化設(shè)計(jì)。
2.關(guān)于內(nèi)置校準(zhǔn)片我公司生產(chǎn)的Genius 系列均采用的內(nèi)置Ag校準(zhǔn)片功能。無(wú)需再采用外部的校準(zhǔn)片。直接通過(guò)操作軟件就可以直接進(jìn)行設(shè)備的能量校準(zhǔn)工作，使用方便。
3.關(guān)于可操作便捷性我公司生產(chǎn)的Genius手持式XRF光譜儀系列開(kāi)機(jī)時(shí)間只需要半分鐘就完成了儀器的開(kāi)機(jī)和數(shù)據(jù)的加載工作。Genius系列采用了第四代數(shù)字多道處理器，提高了每秒計(jì)數(shù)率，從原來(lái)的幾千達(dá)到幾萬(wàn)計(jì)數(shù)率，增大了統(tǒng)計(jì)掌握，減少了統(tǒng)計(jì)誤差，并縮短了測(cè)試時(shí)間。10秒即可以完成穩(wěn)定的測(cè)試；對(duì)于屏幕菜單設(shè)計(jì)上，我公司采用了分級(jí)操作權(quán)限，的用戶界面，一鍵化的操作，直觀的顯示，智能傻瓜式的操作。智能化體現(xiàn)：譜圖自動(dòng)定性分析，元素的自動(dòng)排序，測(cè)試元素達(dá)到三十多個(gè)元素，并采用了FP的軟件核心算法有效校正了合金樣品中元素間的增強(qiáng)吸收作用。（對(duì)于合金品的測(cè)試尤為重要）。
4.關(guān)于應(yīng)用軟件我司的Genius系列的地礦分析軟件的核心采用了北美研發(fā)核心團(tuán)隊(duì)的設(shè)計(jì)，在原有的算法基礎(chǔ)上并植入了FP算法。并將該算法成功應(yīng)用于合金元素的分析中，有效校正了合金材料中元素間的增強(qiáng)吸收作用，并解決了使用經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法無(wú)法解決的相似標(biāo)樣的問(wèn)題。
5.關(guān)于合金樣品測(cè)試的準(zhǔn)確度合金行業(yè)是個(gè)龐大體系，不同的行業(yè)不同的應(yīng)用對(duì)測(cè)量的要求不同，作為生產(chǎn)控制，測(cè)量的樣品即時(shí)生產(chǎn)的樣品，樣品相對(duì)單一，可以使用EDX4500等臺(tái)式儀器，使用類(lèi)似標(biāo)樣采用經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法就相關(guān)樣品進(jìn)行測(cè)試，儀器的穩(wěn)定性好，測(cè)試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確度高。如沒(méi)有類(lèi)似的國(guó)家標(biāo)樣，可選擇使用FP法(基本參數(shù)法)對(duì)樣品測(cè)試，根據(jù)測(cè)試結(jié)果調(diào)整生產(chǎn)。若作為質(zhì)量控制，與材料甄別來(lái)使用，則無(wú)需片面強(qiáng)調(diào)儀器的精確度和準(zhǔn)確度，使用Genius5000手持式XRF光譜儀，配備基本參數(shù)法就可以進(jìn)行較為準(zhǔn)確的測(cè)試。
6.關(guān)于XRF與其他設(shè)備對(duì)比結(jié)果差異鑒于儀器測(cè)量結(jié)果與SGS檢測(cè)結(jié)果存在很大差異，我司認(rèn)為有以下幾個(gè)方面：首先,化學(xué)方法與物理方法檢測(cè)的差異性。從SGS測(cè)試報(bào)告來(lái)看，對(duì)樣品采用ICP光譜法，按照IEC62321 Ed.1標(biāo)準(zhǔn),可用ICP-AES(電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜)和ICP-MS(電感耦合等離子體質(zhì)譜)或AAS(原子吸引光譜)三種方法對(duì)PB含量進(jìn)行檢測(cè)。而針對(duì)不同基體中的Pb含量，用不同的消解方法。X熒光對(duì)Pb的檢測(cè)是X 光通過(guò)照射樣品表面，在一定厚度范圍內(nèi)，激發(fā)原子而產(chǎn)生X射線作為分析檢測(cè)的依據(jù)。二者工作原理*不同。其次影響測(cè)量結(jié)果的因素不同，ICP法的前期抽樣工作對(duì)操作者要求很高，對(duì)*終結(jié)果影響也很能大。而XRF分析方法主要受表層材質(zhì)與內(nèi)部材質(zhì)的不同，以及雜質(zhì)含量的不均勻的影響。再次，相同原理的XRF檢測(cè)儀器對(duì)樣品的測(cè)量結(jié)果比較相近，建議貴司對(duì)樣品封存，與其他同類(lèi)的XRF檢測(cè)量結(jié)果作對(duì)比
7.樣品前處理方法,熒光測(cè)試屬于表面測(cè)試，測(cè)試的樣品表面必須能夠表征材料的內(nèi)部元素組成情況。因此在合金樣品測(cè)試前需要對(duì)樣品的表面進(jìn)行處理。目的是去除樣品表面的氧化層，油漆層，電鍍層等。合金樣品的測(cè)試一般有兩種方式：對(duì)于硬度較高的合金樣品（如鋼鐵類(lèi)或鈦合金等），使用光譜磨樣機(jī)對(duì)表面進(jìn)行打磨處理。如進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試，無(wú)法使用光譜磨樣機(jī)，則可以使用小型砂輪機(jī)對(duì)樣品表面進(jìn)行打磨處理。對(duì)于硬度較低的合金樣品（如銅合金，鋁合金等），可使用小型車(chē)床將樣品表面進(jìn)行處理?，F(xiàn)場(chǎng)測(cè)試，也可使用小型砂輪機(jī)或小鋼挫對(duì)樣品表面進(jìn)行打磨處理。
Genius5000手持式XRF光譜儀
手持式XRF光譜儀分析是對(duì)比分析，也是對(duì)點(diǎn)的分析；而對(duì)比的基準(zhǔn)就是標(biāo)樣，因此，標(biāo)樣的好壞和是否全面性是直接影響到測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確度。所以在進(jìn)行XRF分析的時(shí)候，首先要做的就是針對(duì)儀器進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)曲線的標(biāo)定工作。沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)曲線就無(wú)法定量分析。
1.標(biāo)樣的好壞指的是：標(biāo)樣的均勻性，已經(jīng)標(biāo)樣表面狀況。2.標(biāo)樣的全面性是指：標(biāo)準(zhǔn)樣品元素的含量范圍梯度是否很集全。3.*重要的是要注意標(biāo)樣各元素的結(jié)果是否為客戶認(rèn)可的結(jié)果并在XRF設(shè)備中是成線性變化的。
4.而被測(cè)樣品一般都建議均勻性，及取樣方式都與標(biāo)樣接近，這樣測(cè)出來(lái)的結(jié)果才更準(zhǔn)確。
Genius5000手持式XRF光譜儀優(yōu)點(diǎn)
1、快速：一般測(cè)量一個(gè)樣品只需要1～3分鐘，樣 品可不處理或進(jìn)行簡(jiǎn)單處理。
2、無(wú)損：物理測(cè)量，不改變樣品性質(zhì)
3、準(zhǔn)確：對(duì)樣品可以精確分析
4、直觀：直觀的分析譜圖，元素分布一幕了然， 定性分析速度快
產(chǎn)品超小、超輕、超美、超安全、超方便、超長(zhǎng)待機(jī)時(shí)間、超防水、超準(zhǔn)、超快等特點(diǎn)，并在小型X射線儀上引入了數(shù)字多道技術(shù)，使儀器檢出限更好，穩(wěn)定性更高，廣泛適用材料的現(xiàn)場(chǎng)原位區(qū)分測(cè)試。
5、環(huán)保：檢測(cè)過(guò)程中不產(chǎn)生任何廢氣、廢水
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