Bruker PI 89 掃描電鏡納米壓痕儀
- 公司名稱 深圳市晧辰電子科技有限公司
- 品牌 Bruker/布魯克
- 型號 Bruker PI 89
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2024/11/11 16:48:04
- 訪問次數(shù) 466
聯(lián)系方式:王海濤13715327187,13982098642 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
產(chǎn)地類別 | 進口 | 應用領域 | 環(huán)保,化工,電子,電氣 |
---|
Hysitron PI 89 SEM PicoIndenter 利用掃描電子顯微鏡(SEM、FIBSEM、PFIB)的先進成像功能,可以在成像的同時進行定量納米力學測試。PI 89 進一步推動了布魯克市場的電容式傳感器技術(shù),該技術(shù)實現(xiàn)了第一個商用原位
SEM 納米力學平臺。新的 PI 89 Auto 為四種技術(shù)增加了自動化:EBSD、EDS、SEM 成像和機械特性映射。
PI 89 上可用的技術(shù)包括納米壓痕、拉伸測試、支柱壓縮、顆粒壓縮、懸臂彎曲、斷裂、疲勞、動態(tài)測試和機械性能映射。
Hysitron PI 89 的緊湊設計可實現(xiàn)最大的載物臺傾斜和最小工作距離,從而在測試過程中實現(xiàn)最佳成像。PI 89 為研究人員
提供了比競爭對手系統(tǒng)更大的多功能性和性能:重新設計的平臺提高了多功能性和易用性1 nm 編碼線性平臺在自動測試模式下提供更高的可重復性,同時增加行程范圍
改進的框架剛度 (~0.9 x 106N/m) 在整個測試過程中提供更高的穩(wěn)定性旋轉(zhuǎn)和傾斜 (RT) 載物臺配置可實現(xiàn)成像、FIB 銑削,并可使用 EDS、CBD、EBSD 和 TKD 等探測器進行分析數(shù)據(jù)和成像