高性能氣相色譜- 飛行時(shí)間質(zhì)譜儀
- 公司名稱 上海瑞第電子科技有限公司
- 品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì)
- 更新時(shí)間 2018/11/6 19:48:50
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高性能氣相色譜- 飛行時(shí)間質(zhì)譜儀系統(tǒng)介紹
第4代AccuTOFGC系列產(chǎn)品性能進(jìn)一步改進(jìn),升級(jí)為AccuTOFGCx!
將在更廣泛的領(lǐng)域?yàn)槟峁┓治鼋鉀Q方案。
通過(guò)高精度的精確質(zhì)量測(cè)試推測(cè)元素的組成AccuTOFGCx能長(zhǎng)時(shí)間且穩(wěn)定地進(jìn)行高靈敏度,高分辨率,高質(zhì)量準(zhǔn)確度的測(cè)試。此外,AccuTOFGCX作為GC-HRTOFMS具有最高數(shù)量級(jí)的動(dòng)態(tài)范圍,在同一譜圖內(nèi)不管是測(cè)試基峰還是小峰,質(zhì)量準(zhǔn)確度都非常高,因此能準(zhǔn)確地推測(cè)分子離子和碎片離子的元素組成,基于寬動(dòng)態(tài)范圍還能容易地對(duì)不同濃度的混合樣品進(jìn)行GC/MS測(cè)試。
高分辨率
全氟san丁胺
高質(zhì)量準(zhǔn)確度(不同濃度下的同一個(gè)離子峰)
八氟萘
長(zhǎng)時(shí)間的穩(wěn)定性
八氟萘
高靈敏度
連續(xù)測(cè)試八次100fg八氟萘(OFN)后,由EIC中的積分面積標(biāo)準(zhǔn)偏差計(jì)算出儀器的檢出限(IDL)為16fg。
CV:相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差I(lǐng)DL:儀器檢出限
寬質(zhì)量范圍用DirectTOFMS也能測(cè)試低聚物
AccuTOFGCx不僅具有寬質(zhì)量范圍,還有多種直接進(jìn)樣系統(tǒng),可以測(cè)試GC無(wú)法進(jìn)樣測(cè)試的大分子量樣品。
聚苯乙烯5200的FD質(zhì)譜圖
多種電離方法和進(jìn)樣技術(shù)FI法和FD法較適合于確認(rèn)分子量的軟電離方式
FI/FD法與EI法或CI法相比,是分子離子內(nèi)部能量較小的電離方法,由于這種軟電離方式不容易引起碎片化,因此較適合于確認(rèn)分子量。
FI(FieldIonization:場(chǎng)電離)法
通過(guò)GC或標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)樣口能將樣品導(dǎo)入離子源。
CI源需要依據(jù)待測(cè)對(duì)象化合物選擇試劑氣體種類(lèi),但FI源不需要。
軟電離技術(shù)也可以適用于難揮發(fā)性樣品,對(duì)容易碎片化的含氟化合物也檢測(cè)出了分子離子。
FD(FieldDesorption:場(chǎng)解吸)法
將樣品直接涂在發(fā)射體上。
很適合分析熱不穩(wěn)定化合物。
很適合于可溶于非極性溶劑的樣品
能測(cè)試可以分散在溶劑中的粉末樣品
能測(cè)試低~中極性的金屬絡(luò)合物。
能分析一般GC/MS無(wú)法測(cè)試的樣品,如聚合物,高分子材料等。
對(duì)難揮發(fā)性的離子液體也能迅速獲得分子量信息。
EI/FI/FD復(fù)合離子源(選配件)同一個(gè)離子源可以使用EI法(硬電離方式)和I/FD法(軟電離方式)。
可簡(jiǎn)單,迅速地切換EI和FI/FD電離方式。
直接進(jìn)樣方式(選配件)
根據(jù)用途備有兩種直接進(jìn)樣桿
電離方法可以選擇EI和CI。
DEP(DirectExposureProbe)
較適合高沸點(diǎn)化合物/熱不穩(wěn)定化合物,將溶在溶劑中的樣品涂在燈絲*。
DIP(DirectInsertionProbe)
直接進(jìn)樣桿較適合于高沸點(diǎn)化合物及不溶于溶劑的樣品。
固體樣品可以直接放入的玻璃樣品管
EI和FI結(jié)合的定性分析對(duì)EI的質(zhì)譜圖可用譜庫(kù)檢索,根據(jù)碎片離子的成份推斷可獲得結(jié)構(gòu)信息。另一方面根據(jù)FI檢測(cè)出的分子離子能推斷出分子量和元素成份。通過(guò)綜合來(lái)自EI和FI的信息,就可以進(jìn)行高度準(zhǔn)確的定性分析而不必單純地依賴譜庫(kù)檢索,這種組合技術(shù)對(duì)于雜質(zhì)等未知成分的定性分析非常有效。
高性能氣相色譜- 飛行時(shí)間質(zhì)譜儀參數(shù)
FI法和FD法較適合于確認(rèn)分子量的軟電離方式
FI/FD法與EI法或CI法相比,是分子離子內(nèi)部能量較小的電離方法,由于這種軟電離方式不容易引起碎片化,因此較適合于確認(rèn)分子量。
FI(FieldIonization:場(chǎng)電離)法
通過(guò)GC或標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)樣口能將樣品導(dǎo)入離子源。
CI源需要依據(jù)待測(cè)對(duì)象化合物選擇試劑氣體種類(lèi),但FI源不需要。
軟電離技術(shù)也可以適用于難揮發(fā)性樣品,對(duì)容易碎片化的含氟化合物也檢測(cè)出了分子離子。
FD(FieldDesorption:場(chǎng)解吸)法
將樣品直接涂在發(fā)射體上。
很適合分析熱不穩(wěn)定化合物。
很適合于可溶于非極性溶劑的樣品
能測(cè)試可以分散在溶劑中的粉末樣品
能測(cè)試低~中極性的金屬絡(luò)合物。
能分析一般GC/MS無(wú)法測(cè)試的樣品,如聚合物,高分子材料等。