XTU-50B珠寶、首飾X熒光光譜測厚儀
- 公司名稱 江蘇一六儀器有限公司-J
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2019/3/30 9:33:53
- 訪問次數(shù) 413
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價格區(qū)間 | 面議 |
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XTU-50B珠寶、首飾X熒光光譜測厚儀應(yīng)用:
手表、精密儀表制造行業(yè)
鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析
釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB
其他樣品鍍層測試
XTU-50B珠寶、首飾X熒光光譜測厚儀性能優(yōu)勢:
下照式設(shè)計:可以快速方便地定位對焦樣品。
無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進行無損檢測,凹槽深度范圍0-90mm。
微聚焦射線裝置:可檢測面積小于0.002mm2的樣品,可測試各微小的部件。
高效率的接收器:即使測試0.01mm2以下的樣品,幾秒鐘也能達到穩(wěn)定性。
精密微型滑軌:快速精準定位樣品。
EFP*算法軟件:多層多元素,甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。
儀器規(guī)格:
外形尺寸 :550 mm x 480mm x 470 mm (長x寬x高)
樣品倉尺寸 :500mm×360 mm ×215mm (長x寬x高)
儀器重量 :55kg
供電電源 :交流220±5V
大功率 :330W
環(huán)境溫度:15℃-30℃
環(huán)境相對濕度:<70%
技術(shù)參數(shù):