Genesis XM系列X射線能譜儀（EDX）
- 公司名稱(chēng) EDAX Inc.美國(guó)伊達(dá)克斯有限公司-J
- 品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷(xiāo)商
- 更新時(shí)間 2019/4/2 16:10:19
- 訪問(wèn)次數(shù) 1215
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息，謝謝!
1.GENESIS X射線能譜儀(EDS, EDX)2.電子背散射衍射分析系統(tǒng) EBSP/OIM (EBSD)3.LEXS/TEXS新型高精度自動(dòng)聚焦波譜儀 (WDS, WDX)4.TEM 自動(dòng)晶體學(xué)分析系統(tǒng) ACT/TOCA
5.EAGLE III X射線微探針熒光能譜儀 (XRF)
| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 探測(cè)器類(lèi) | 鋰漂移硅探測(cè)器Si(Li) |
|---|---|---|---|
| 儀器種類(lèi) | 進(jìn)口 |
Genesis XM系列X射線能譜儀(EDX)已廣泛應(yīng)用于國(guó)內(nèi)外各種型號(hào)的掃描電鏡和透射電鏡，并且可以同EDAX公司的OIM（電子背散射衍射取向成像分析系統(tǒng)）和ACT（自動(dòng)晶體學(xué)分析系統(tǒng)）構(gòu)成一體化分析系統(tǒng)。
Genesis XM系列X射線能譜儀(EDX)技術(shù)參數(shù)：
1.探頭分辨率優(yōu)于129eV，峰背比優(yōu)于20000:1
2.檢測(cè)元素范圍Be4 - Es99
3.大計(jì)數(shù)率500,000cps
4.大圖象采集分辨率8192x6400象素（矩形）；8192x8192像素（方形）
5.大面分布圖采集分辨率2048x1600象素（矩形）；2048x2048（方形）
主要特點(diǎn)：
1.探頭指標(biāo)高，性能好，壽命長(zhǎng)。
2.全新32位軟硬件系統(tǒng)，工作可靠，效率高。
3.具有操作引導(dǎo)的集成式界面，使用直觀方便。
4.具有多種專(zhuān)有技術(shù)軟件，分析精度高。
5.軟件種類(lèi)及功能豐富，且具有報(bào)告生成系統(tǒng)。
采購(gòu)中心
化工儀器網(wǎng)