剪切電子散斑干涉術(shù)是一種測量離面位移導(dǎo)數(shù)場的激光干涉測量新技術(shù)。它除了電子散斑干涉術(shù)(ESPI，Electronic Speckle Pattern Interferometry)的許多優(yōu)點(diǎn)外，還有光路簡單，對(duì)測量環(huán)境要求低等特點(diǎn)。由于剪切電子散斑干涉是測量位移導(dǎo)數(shù)，因此，在自動(dòng)消除剛體位移的同時(shí)對(duì)于缺陷受載的應(yīng)變集中十分靈敏，因此被廣泛地應(yīng)用于無損檢測（NDT, nondestructive testing）領(lǐng)域。該儀器使用大功率綠色半導(dǎo)體激光器作光源，具有電子散斑條紋實(shí)時(shí)處理軟件，操作方便，便于攜帶，可用于現(xiàn)場測量。采用相移技術(shù)分析條紋，可獲得離面位移導(dǎo)數(shù)場的全場數(shù)據(jù)。

相移剪切電子散斑干涉儀主要技術(shù)指標(biāo)及配置：

1.光源：半導(dǎo)體激光器，功率20mW，波長 532nm

2.定焦鏡頭： C接口, 配進(jìn)口25mm定焦鏡頭

3.相機(jī)： 1280×1024 USB攝像頭

4.工作距離：400～1000mm

5.光學(xué)平臺(tái)：600mm×900mm

6.圖像采集分辨率：1280×1024

7.剪切角： 0°±5°連續(xù)可調(diào)

8.軟件： 條紋實(shí)時(shí)顯示，圖像處理軟件

9.演示試件： 圓盤受均布載荷

相移剪切電子散斑干涉儀主要配置

主機(jī)：1臺(tái)

25mm定焦鏡頭：1個(gè)

20mW半導(dǎo)體激光器：1臺(tái)

400mm*900mm光學(xué)平臺(tái)：1套

相移控制器：1套

圓盤受均布載荷試件：1套

筆記本電腦：1臺(tái)

條紋實(shí)時(shí)顯示軟件和圖像處理軟件：各1套

原理示意：

剪切散斑的基本原理是散斑照相和剪切機(jī)理的結(jié)合，它是在散斑照相的基礎(chǔ)上，通過不同的錯(cuò)位元件，把單光束散斑變?yōu)殡p光束散斑，因而它具有雙光束散斑的特性，即原始波面與錯(cuò)位的波面之間將產(chǎn)生干涉。

離面位移梯度測量原理如圖2所示，物體A的散斑場經(jīng)過小剪切棱鏡、偏振片和CCD的物鏡，在CCD攝像機(jī)的靶面上形成兩幅錯(cuò)位量為Δ的像，并在CCD靶面上相干涉。