ST-Thermal_Zth 瞬熱阻測(cè)試儀
- 公司名稱 西安天光測(cè)控技術(shù)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) ST-Thermal_Zth
- 產(chǎn)地 西安
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2021/11/5 16:41:53
- 訪問次數(shù) 655
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半導(dǎo)體分立器件測(cè)試篩選系統(tǒng)|IGBT靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀|IGBT動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試儀| 功率循環(huán)試驗(yàn)臺(tái)|高溫反偏差測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 1-1萬 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
產(chǎn)品系列
晶體管圖示儀
半導(dǎo)體分立器件測(cè)試篩選系統(tǒng)
靜態(tài)參數(shù)測(cè)試(包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等)
動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試(包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等)
環(huán)境老化測(cè)試(包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等)
熱特性測(cè)試(包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等)
可測(cè)試 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件
瞬態(tài)熱阻測(cè)試儀
ST-Thermal_X 功率器件熱特性測(cè)試系統(tǒng)
可測(cè)試 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的熱特性
包括 功率循環(huán)
·秒級(jí)&分鐘級(jí)/Pcsec&PCmin,被動(dòng)循環(huán)/TC,熱阻(抗)/Rth/Zth,K曲線/Kcurve
?電路原理簡(jiǎn)圖
說明: Qf為總進(jìn)線保護(hù)斷路器,電源電壓經(jīng)過電壓調(diào)節(jié)到主功率變壓器,由主功率變壓器到整流和濾波單元,產(chǎn)生大功率直流電源。再由電子開關(guān)施加到被測(cè)單元。圖中二極管為隔離二極管,熱敏電流單元提供足夠大的熱敏電流。觸發(fā)單元施加規(guī)定的觸發(fā)電壓,處于導(dǎo)通狀態(tài)。工控機(jī)和PLC智能系統(tǒng)保證設(shè)備的正常工作時(shí)序和操作人員安全。冷卻系統(tǒng)和氣路系統(tǒng)保證設(shè)備的可靠運(yùn)行
?產(chǎn)品特點(diǎn)
? *的DUT適配器(針對(duì)不同封裝外觀的器件及模塊,提供的適配連接裝置);
? 系統(tǒng)具有過流、過熱、水壓不足等保護(hù)功能。具有連續(xù)工作的特點(diǎn);
? 測(cè)試程序由計(jì)算機(jī)控制,按設(shè)定的程序進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試,且系統(tǒng)采用內(nèi)控和外控兩種方式,便于工作人員操作;
? 脫機(jī)狀態(tài)時(shí),面板顯示每個(gè)工位的殼溫,試驗(yàn)電流、試驗(yàn)次數(shù)、加熱時(shí)間、冷卻時(shí)間等;
? 器件保護(hù):被測(cè)器件及模塊的特性變化超過限值后自動(dòng)停止測(cè)試;
? 安全穩(wěn)定(PLC 對(duì)設(shè)備的工作狀態(tài)進(jìn)行全程實(shí)時(shí)監(jiān)控并與硬件進(jìn)行互鎖);
? 智能化,通過主控計(jì)算機(jī)進(jìn)行操控及數(shù)據(jù)編輯,測(cè)試結(jié)果自動(dòng)保存及上傳局域網(wǎng);
? 安全防護(hù):系統(tǒng)具有防爆、防觸電、防燙傷、煙霧、漏液等多重保護(hù),結(jié)合遠(yuǎn)程測(cè)試能力確保操作人員安全。
? 配有漏電保護(hù)器及空氣開關(guān),對(duì)短路、過載及漏電等情況進(jìn)行保護(hù),設(shè)計(jì)符合CE認(rèn)證;
?技術(shù)規(guī)格