W6型全譜直讀光譜儀采用標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)計(jì)和制造工藝技術(shù)，采用全數(shù)字化技術(shù)，替代龐大的光電倍增管（PMT）模擬技術(shù)，與光譜儀技術(shù)同步，采用真空光學(xué)室設(shè)計(jì)及全數(shù)字化激發(fā)光源、*的CCD檢測(cè)器、高速數(shù)據(jù)讀出系統(tǒng)，使儀器具有*的性能、極低的檢出線(xiàn)、*的穩(wěn)定性和重復(fù)性。適用于金屬制造業(yè)、加工業(yè)及金屬冶煉業(yè)用于質(zhì)量監(jiān)控、材料牌號(hào)識(shí)別、材料研究和開(kāi)發(fā)的主要設(shè)備之一。滿(mǎn)足冶煉、金屬制造和機(jī)械加工的用戶(hù)要求，采用全電腦控制全數(shù)字火花光源，運(yùn)用CCD檢測(cè)技術(shù)及*的真空光室，可精確測(cè)定非金屬元素中各種合金元素含量，實(shí)現(xiàn)全譜分析。測(cè)定結(jié)果精準(zhǔn)，重現(xiàn)性及*穩(wěn)定性。

1、優(yōu)化設(shè)計(jì)的真空光學(xué)系統(tǒng)

W6型全譜直讀光譜儀整體光學(xué)室裝置、帕邢-龍格光學(xué)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，覆蓋所有譜線(xiàn)。

直射式光學(xué)技術(shù)及透鏡MgF2材料，保證C、S、P、N紫外波長(zhǎng)的能量。

2、全數(shù)字激發(fā)光源

全數(shù)字、高能預(yù)燃技術(shù)（HEPS），不同樣品設(shè)置不同的激發(fā)參數(shù)，，提高樣品的測(cè)量精度和相似性，提高樣品激發(fā)速度，提高火花穩(wěn)定性，使樣品有更好的重現(xiàn)性。

3、功能性設(shè)計(jì)的激發(fā)裝置

集成氣路、噴射電極技術(shù)，開(kāi)放式火花臺(tái)，不僅保證樣品測(cè)量精度還能夠測(cè)量各種復(fù)雜形狀的樣品（含線(xiàn)材）。

單板式透鏡裝置設(shè)計(jì)，一般人員都能方便對(duì)激發(fā)臺(tái)進(jìn)行維護(hù)和透鏡的清洗。

4、*的氬氣供給系統(tǒng)

全新集成氣路模塊供氬系統(tǒng)及火花臺(tái)氬氣流向設(shè)計(jì)顯著提高氬氣清理金屬粉塵的能力，內(nèi)置熱氬供給裝置，確保達(dá)成的激發(fā)條件和穩(wěn)定的激發(fā)環(huán)境。保證數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性。

5、*的真空系統(tǒng)

采用了全新的真空光室系統(tǒng)設(shè)計(jì)，在儀器非工作狀態(tài)下不需要實(shí)時(shí)的對(duì)光室進(jìn)行氬氣吹掃，大大降低了氬氣的使用量，節(jié)約了客戶(hù)的使用成本。

采用標(biāo)準(zhǔn)真空裝置，大限度地保證真空系統(tǒng)的安全性，確保超低紫外波段（VUV）光譜信號(hào)有很好的性能。

儀器實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)真空光室的工作狀態(tài)。  

6、高精度、高速度讀出系統(tǒng)

高性能CCD固態(tài)檢測(cè)技術(shù)、波段內(nèi)的譜線(xiàn)全譜接收。

FPGA及高速數(shù)據(jù)通訊技術(shù)，數(shù)據(jù)讀入功能強(qiáng)大，檢測(cè)數(shù)據(jù)整體讀入時(shí)間短。

7、直觀、易操作的分析軟件

基于WIN系統(tǒng)的多國(guó)語(yǔ)言的CCD全譜分析軟件，*的管理和控制整個(gè)測(cè)量過(guò)程，為用戶(hù)提供強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理能力和測(cè)試報(bào)告輸出能力。

儀器在軟件中配備多條工廠校正曲線(xiàn)及更多材質(zhì)分析及*解決方案。

儀器實(shí)現(xiàn)全譜分析，智能扣干擾、扣暗電流、背景和噪聲的算法，*的提高儀器分析能力