QC3 QC3 高分辨率X射線衍射儀
- 公司名稱 北京亞科晨旭科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 QC3
- 產(chǎn)地 美國
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/9/25 12:53:33
- 訪問次數(shù) 1624
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價格區(qū)間 | 200萬-300萬 | 儀器種類 | 小角散射儀 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子 |
簡介
QC3 高分辨率X射線衍射儀是Jordan Valley公司推出的半導(dǎo)體生產(chǎn)質(zhì)量控制設(shè)備的zui新機型,專注于化合物半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中的生產(chǎn)監(jiān)控需求。Jordan Valley公司質(zhì)量控制型
(QC)設(shè)備已經(jīng)有三十余年的歷史,并在被廣泛應(yīng)用于Si, GaAs, InP, GaN, 及其他常見的半導(dǎo)體襯底或外延層材料的測試和生產(chǎn)控制。QC3實現(xiàn)了高分辨率X射線衍射測試技術(shù)的部分或*自動化,并可根據(jù)客戶產(chǎn)品的具體需求,度身設(shè)計的自動化控制程序和質(zhì)量控制參數(shù)。
QC3可依需要配置自動化機械手臂,實現(xiàn)半導(dǎo)體晶圓片的自動化裝載,在生產(chǎn)線上執(zhí)行測試流程的全自動化。QC3也可以提供一次性同時放置多個小尺寸晶圓片。樣品盤上可以同時放置20片2英寸晶圓片,或者5片4英寸晶圓片??刂栖浖梢詫⒆詣踊瘻y試菜單程序添加給同一批次的不同晶圓片,并依次針對樣品盤上所有的晶圓片執(zhí)行測試菜單,有效減少人工操作及干預(yù),提高測試效率。
產(chǎn)品特色及優(yōu)勢
- 專注于半導(dǎo)體材料的高分辨率X射線衍射,未因兼顧其他X射線測試技術(shù)而降低高分辨率 的要求。
- 與前期質(zhì)量控制型設(shè)備相比,提高了X射線強度。在相同測試速度的情況下,可提高測試精度。在相同測試精度的條件下,將提高測試速度。
- 降低了設(shè)備及附件的購置和維護成本。
- 更低的運行成本。
- XRGProtect™可以有效延長X射線光管的使用壽命。
- 環(huán)保的綠色工作模式,待機時有效降低能耗。
- 可依據(jù)客戶需求,選擇性地配置自動化裝卸晶圓片用機械手臂,具備多片批次式同時測試的功能,提高生產(chǎn)測試效率。
- 操作簡便,無需專業(yè)人才操作。
- *自動化準直、測量晶圓片,數(shù)據(jù)分析自動化
- 工業(yè)界領(lǐng)xian的RADS衍射數(shù)據(jù)自動化擬合軟件已經(jīng)被客戶廣泛使用并獲得肯定。
- 測試和分析的數(shù)據(jù)結(jié)果可以進行自動化遠程報告。
- 可依客戶需要的格式自動創(chuàng)建測試數(shù)據(jù)報告。
高強度的X射線衍射儀
與過去相類似的衍射儀相比,QC3衍射儀非常顯著地提高了X射線的強度。QC3衍射儀對束線強度的優(yōu)化設(shè)計,使其比市場同類型產(chǎn)品提供了HRXRD測試技術(shù)所需的更多優(yōu)勢。
入射束線
QC3衍射儀的入射光學(xué)系統(tǒng)采用統(tǒng)一的標準化配置,保證高強度信號的獲得,且無需額外的費用購置其他的選配件。
入射光學(xué)系統(tǒng)的配置將依所測試材料的結(jié)構(gòu)特征做如下優(yōu)化:
- 所有的QC3衍射儀均配置多層膜高反鏡,以提高入射強度。
- 對于具有明顯的馬賽克結(jié)構(gòu)的材料,所配置的參考晶體提供
25”的X射線角發(fā)散度,入射強度更高。
- 對于傳統(tǒng)的高結(jié)晶完整性的III-V材料,所配置的參考晶體提供<10”的X射線角發(fā)散度,提高了X射線入射束的分辨率。
- 入射光學(xué)系統(tǒng)的準直簡便、快捷、安全。準直時衍射儀機箱空間內(nèi)沒有X射線。
X射線探測臺
探測臺包含了多項特色的X射線衍射用光學(xué)元件,并作為標準化配置,以提高QC3 的性能。
- EDRc(動態(tài)響應(yīng)范圍增強)型X射線探測器提供
>5×107的動態(tài)響應(yīng)范圍。
- 提供自動化衰減片。控制軟件自動控制衰減片的操作,從而使QC3衍射儀的動態(tài)響應(yīng)范圍超過5×108。
- 提供三軸分析晶體。三軸晶HRXRD是GaN基材料測試獲得足夠分辨率所必需的光學(xué)配置。
- 提供馬達驅(qū)動的探測臺接收狹縫,可由自動化程序?qū)崟r調(diào)控狹縫大小,無需手動調(diào)節(jié)。
- 所有探測臺光學(xué)元件均通過控制計算機自動準直。
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