SDM4065A-SC高速六位半萬用表
| 參考價(jià) | ￥ 10999 |
| 訂貨量 | ≥1件 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 深圳市聚儀精密電子有限公司
- 品牌 SIGLENT/鼎陽(yáng)
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/1/11 15:28:01
- 訪問次數(shù) 1738
產(chǎn)品標(biāo)簽
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
|---|
SDM4065A-SC高速六位半萬用表主要特性
6? 位讀數(shù)分辨率（2,200,000 count）
最大讀數(shù)速率50k rdgs/s，最小采樣間隔20μs
真有效值交流電壓和交流電流測(cè)量
記錄儀功能和數(shù)字化儀功能
5英寸觸摸屏，分辨率800*480
SDM4065A-SC高速六位半萬用表概述
真正的六位半萬用表
SDM4000A系列數(shù)字萬用表?yè)碛?? 位讀數(shù)分辨率（2,200,000 count），滿量程可顯示 ±0000000 ~ 2,199,999。性能使小電流的變化到大電壓的波動(dòng)，盡在掌控之中。
高速&高精度測(cè)量
SDM4000A最高可實(shí)現(xiàn)50000讀數(shù)/秒，最小采樣間隔20 μs，最大單次可采集2M點(diǎn)，同時(shí)支持讀數(shù)時(shí)間戳功能。在采樣間隔方面，支持最大100 PLC和最小0.001 PLC的精細(xì)設(shè)置，使其在高速數(shù)據(jù)采集和微小變化監(jiān)測(cè)方面具有的性能，適用于各種需要精確測(cè)量的應(yīng)用場(chǎng)景。
三種采樣方式
•持續(xù)采樣模式
萬用表以恒定的速率連續(xù)不斷地進(jìn)行采樣和測(cè)量，用戶可實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)變化
•記錄儀
最大可記錄100小時(shí)的數(shù)據(jù)，適用于需要長(zhǎng)時(shí)間記錄讀數(shù)的應(yīng)用場(chǎng)景
•數(shù)字化儀
在低頻高精度采樣領(lǐng)域，數(shù)字化儀的性能表現(xiàn)要優(yōu)于示波器和頻譜儀。極其適用于高精度數(shù)字采樣、音頻信號(hào)數(shù)字化等應(yīng)用場(chǎng)景
萬用表以恒定的速率連續(xù)不斷地進(jìn)行采樣和測(cè)量，用戶可實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)變化
•記錄儀
最大可記錄100小時(shí)的數(shù)據(jù)，適用于需要長(zhǎng)時(shí)間記錄讀數(shù)的應(yīng)用場(chǎng)景
•數(shù)字化儀
在低頻高精度采樣領(lǐng)域，數(shù)字化儀的性能表現(xiàn)要優(yōu)于示波器和頻譜儀。極其適用于高精度數(shù)字采樣、音頻信號(hào)數(shù)字化等應(yīng)用場(chǎng)景
強(qiáng)大的數(shù)學(xué)運(yùn)算
SDM4000A支持五種運(yùn)算：統(tǒng)計(jì)、限值、dBm、dB和相對(duì)運(yùn)算。不僅能快速統(tǒng)計(jì)各種測(cè)量數(shù)據(jù)，如最大值、最小值、平均值、峰峰值、標(biāo)準(zhǔn)差和樣本數(shù)，還能根據(jù)預(yù)設(shè)的上下限值進(jìn)行通過/失敗測(cè)試。此外，其支持將電壓?jiǎn)挝晦D(zhuǎn)換為功率單位；還能以dB為單位展示測(cè)量值與參考值的相對(duì)關(guān)系；通過相對(duì)運(yùn)算，還可精確地找出實(shí)際測(cè)量值與預(yù)期值間的差異。
遠(yuǎn)程控制及編程
SDM4000A內(nèi)置USB Host，USB Device，LAN標(biāo)準(zhǔn)通信接口，選配USB-GPIB模塊。支持標(biāo)準(zhǔn)SCPI遠(yuǎn)程控制命令、上位機(jī)軟件、兼容最新主流萬用表命令集。內(nèi)嵌的Web Server可直接通過網(wǎng)頁(yè)遠(yuǎn)程控制萬用表，實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程編程和通信需求。
多功能掃描卡
SDM4065A-SC搭載的多功能掃描卡（SC1016）可以擴(kuò)展萬用表功能，快速準(zhǔn)確地測(cè)量各種電路參數(shù)。SC1016具有16個(gè)通道測(cè)量接口(12個(gè)多功能通道+ 4個(gè)電流通道)，可以在多個(gè)測(cè)試點(diǎn)或器件上同時(shí)測(cè)量多個(gè)電路參數(shù)，并可通過上位機(jī)實(shí)現(xiàn)對(duì)設(shè)備和掃描卡控制。
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