老化正極的集流體厚度變大。由于在負(fù)極側(cè)已經(jīng)檢測(cè)到微米級(jí)的Al顆粒存在，考慮到微米級(jí)的顆粒較難通過(guò)隔膜，因此推測(cè)溶解的鋁離子從正極上遷移到負(fù)極，在降低電化學(xué)電位下還原成金屬Al。

德國(guó)蔡司工業(yè)ct無(wú)損光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)采用計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù)，在不損傷被測(cè)物體的情況下，以二維斷層攝影圖像或三維立體圖像的形式清晰、準(zhǔn)確、直觀地顯示被測(cè)物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)、成分、材料和缺陷狀態(tài)，小可檢測(cè)缺陷為4.5微米。

　　尺寸測(cè)量項(xiàng)目簡(jiǎn)介：

　　德國(guó)蔡司工業(yè)ct無(wú)損光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)產(chǎn)品的實(shí)際尺寸往往*，但因物體型面復(fù)雜或客觀物理?xiàng)l件限制等原因會(huì)出現(xiàn)無(wú)法獲取的情況，CT技術(shù)能很好地應(yīng)對(duì)此類問題。

　　根據(jù)被測(cè)物體各部分對(duì)射線的吸收與透射率不同，收集每個(gè)角度的穿透圖像，之后利用電腦運(yùn)算重構(gòu)出待測(cè)物體的實(shí)體圖像。

　　總之，作者借助X射線工業(yè)CT方法考察了電極的結(jié)構(gòu)變化，發(fā)現(xiàn)正極側(cè)的顆粒裂紋不會(huì)影響電池容量。在負(fù)極，發(fā)現(xiàn)孔被覆蓋層不均勻地填充。電極表面的覆蓋層會(huì)增加循環(huán)過(guò)程的電極厚度。在電極多孔結(jié)構(gòu)內(nèi)部，還觀察到電極沉積層。覆蓋層的生長(zhǎng)過(guò)程高度不均勻，導(dǎo)致孔阻塞，孔數(shù)量降低。此外，還發(fā)現(xiàn)正極集流體腐蝕的現(xiàn)象。

逆向工程項(xiàng)目簡(jiǎn)介：

　　德國(guó)蔡司工業(yè)ct無(wú)損光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)逆向工程是一種產(chǎn)品設(shè)計(jì)技術(shù)再現(xiàn)過(guò)程，即對(duì)一項(xiàng)目標(biāo)產(chǎn)品進(jìn)行逆向分析及研究，從而演繹并得出該產(chǎn)品的處理流程、組織結(jié)構(gòu)、功能特性及技術(shù)規(guī)格等設(shè)計(jì)要素，以制作出功能相近，但又不*一樣的產(chǎn)品。

　　CAD數(shù)模對(duì)比項(xiàng)目簡(jiǎn)介：

　　德國(guó)蔡司工業(yè)ct無(wú)損光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)實(shí)際生產(chǎn)的產(chǎn)品與理想的CAD模型可能存在一定尺寸差異從而影響產(chǎn)品的性能和使用，分析對(duì)比存在的差異反諸于生產(chǎn)工藝的改進(jìn)是常用的措施。

德國(guó)蔡司工業(yè)ct無(wú)損光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)CT掃描即三維X射線掃描是以非破壞性X射線透視技術(shù)(簡(jiǎn)稱CT)，將待測(cè)物體做360°自轉(zhuǎn)，通過(guò)單一軸面的射線穿透被測(cè)物體