CAMSIZER M1 麥奇克萊馳靜態(tài)圖像法粒度儀
- 公司名稱 弗爾德(上海)儀器設(shè)備有限公司
- 品牌 Retsch/德國萊馳
- 型號 CAMSIZER M1
- 產(chǎn)地 德國
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/11/4 21:06:16
- 訪問次數(shù) 9098
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樣品前處理設(shè)備,包括研磨儀等一系列研磨粉碎設(shè)備,篩分儀;分析篩粒度分析設(shè)備,分樣儀;自動進(jìn)樣機(jī);壓片機(jī);清洗設(shè)備;干燥儀等實(shí)驗(yàn)室輔助設(shè)備,Carbolite實(shí)驗(yàn)室箱式馬弗爐;管式爐;灰分爐;工業(yè)定制馬弗爐及其他箱體設(shè)備(高溫烘箱、培養(yǎng)箱),ELTRA(埃爾特)元素分析儀(碳硫分析儀、氧氮?dú)浞治鰞x、熱重分析儀),verder氣動隔膜泵;新一代電子級氣動隔膜泵;軟管泵;蠕動泵;齒輪泵等
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 生物產(chǎn)業(yè),石油,能源,交通,冶金 |
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麥奇克萊馳靜態(tài)圖像法粒度儀CAMSIZER M1是采用靜態(tài)圖像法對樣品顆粒進(jìn)行全面、準(zhǔn)確表征的粒度粒形分析儀。CAMSIZER M1為產(chǎn)品研發(fā)和質(zhì)量控制提供了非常好的應(yīng)用效果。
麥奇克萊馳靜態(tài)圖像法粒度儀CAMSIZER M1具備強(qiáng)大的照明裝置、高精度的樣品臺以及5個放大倍率為2.5x至50x的物鏡。寬闊的樣品臺可用于評估8個標(biāo)準(zhǔn)載物片相對應(yīng)的區(qū)域。CAMSIZER M1采用1810萬像素彩色攝像頭進(jìn)行圖像采集,確保在整個測量范圍內(nèi)快速準(zhǔn)確地分析顆粒。
麥奇克萊馳CAMSIZER M1靜態(tài)圖像法粒度儀應(yīng)用實(shí)例:
活性藥物成分和輔料、水泥、陶瓷粉體、化學(xué)品、精細(xì)研磨拋光劑、纖維、食品、工業(yè)金剛石、金屬粉末、礦物 ...
麥奇克萊馳CAMSIZER M1靜態(tài)圖像法粒度儀優(yōu)點(diǎn):
硬件
測量范圍0.5—1500 µm
1810萬像素彩色攝像頭
測量可用透射光或入射光或兩者同時使用
多種樣品板托盤可選,提供大靈活性
配有5個物鏡,選配1個物鏡
高精度可控樣品臺
手桿操控
使用M-Jet模塊對樣品粉末進(jìn)行有效分散
軟件
直觀的評估軟件
同時進(jìn)行粒度粒形分析
粒度定義包括寬度、等效球徑寬度、費(fèi)雷特直徑、馬丁直徑等
粒形參數(shù)包括圓度、凹凸度、縱橫比、緊實(shí)度等
Particle X-Plorer軟件評估測量后的每個顆粒
建立綜合顆粒數(shù)據(jù)庫
多種評估和篩選選型
結(jié)果顯示對應(yīng)的數(shù)量、面積、體積
無縫拼接算法
焦點(diǎn)疊加
常規(guī)優(yōu)勢
快速簡單的校準(zhǔn)
多種配件
高清圖像
同時記錄顆粒數(shù)據(jù)和圖像
自動測量
麥奇克萊馳CAMSIZER M1靜態(tài)圖像法粒度儀性能指標(biāo):
測量原理 | 靜態(tài)圖像分析 (ISO 13322-1) |
測量范圍 | 0.5 µm - 1500 µm |
分析類型 | 干法和濕法分析 |
測量時間 | ~ 5 — 60分鐘(取決于樣品類型和測量數(shù)據(jù)) |
分辨率 | 18.1 M像素彩色攝像頭 |
大數(shù)字分辨率 | 35 nm |
可用物鏡 | 標(biāo)準(zhǔn): 2.5x 5x 10x 20x 50x 可選: 1.25x or 100x |
重量 (測量單元) | ~ 45 kg |
操作單元 | PC,包括Windows 10操作系統(tǒng)、2臺顯示器、鍵盤、鼠標(biāo)、評估軟件 |
作用原理:
CAMSIZER M1采用靜態(tài)圖像法測量顆粒的粒度粒形,測量范圍0.5 µm-1500 µm。裝載樣品材料的滑塊部件隨著相機(jī)系統(tǒng)同步移動,確保每移動一步拍攝一張照片。干濕樣品(粉末、懸浮液)均可分析。對比動態(tài)圖像法 ,靜態(tài)圖像法的樣品在測量過程中是固定的,因此,可以獲得更高質(zhì)量的顆粒圖像,捕獲更豐富的細(xì)節(jié)。
每次檢測,粒度粒形分析儀CAMSIZER M1自動對焦在觀測板上,確保所選區(qū)域的所有顆粒都能得到高精度圖像(傾斜補(bǔ)償)。分析過程中可以儲存所有圖像和測量數(shù)據(jù),使用Particle X-Plorer軟件為后續(xù)數(shù)據(jù)評估提供了多種可能性。測量完成后,總體圖像帶給客戶直觀的顆粒質(zhì)量認(rèn)識。通過創(chuàng)新的拼接算法,實(shí)現(xiàn)多個測量區(qū)域的無縫拼接,甚至能夠評估尺寸大于1500μm的顆粒。
根據(jù)技術(shù)改造和誤差調(diào)整