可靠性測試箱,薄膜厚度測量儀,環(huán)境測試箱,恒溫恒濕箱,鹽霧箱,防水測試箱,防塵測試箱,冷熱沖擊試驗(yàn)箱,OLED光電測試系統(tǒng),OLED壽命測試系統(tǒng)
價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 石油,能源,電子 |
---|
XRF涂層厚度測量L系列產(chǎn)品概述:
L系列是博曼的通用機(jī)型。該系列將更大的樣品室和更大的XY平臺相結(jié)合。對于大的鍍件,L系列是*品。大樣品臺和XY行程可實(shí)現(xiàn)大鍍件的多點(diǎn)測量。 封閉式樣品倉可容納12"x22"x24"(LxWxH)的樣品。XY平臺的行程為13"x10"。
標(biāo)準(zhǔn)配置包括一個(gè)4位置多準(zhǔn)直器組件,以及一個(gè)可在凹陷區(qū)域進(jìn)行測量的變焦相機(jī)。 與其他型號一樣,準(zhǔn)直器尺寸和焦距可根據(jù)不同的客戶應(yīng)用進(jìn)行定制。 包括可編程的XY平臺,為了滿足更大樣品測測量,XY平臺可以移除。探測器采用硅PIN半導(dǎo)體探測器,可升級為高性能SDD探測器。
XRF涂層厚度測量L系列
可滿足以下類型用戶的需求:
- 樣品的長寬高分別超過12"但小于24"
- 需容納多個(gè)樣品進(jìn)行自動化多點(diǎn)測量
- 可擴(kuò)展到更大尺寸的樣品,用于未來的項(xiàng)目
- 符合IPC-4552A
博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀 L系列產(chǎn)品參數(shù):
類別 | 參數(shù) |
元素測量范圍: X射線管: 探測器: 分析層數(shù)及元素?cái)?shù): 濾波器/準(zhǔn)直器: 焦距: 數(shù)字脈沖器: 計(jì)算機(jī):
相機(jī): 電源: 重量: 可編程XY平臺: 樣品倉尺寸: 外形尺寸: | 13號鋁元素到92號鈾元素 50 W(50kV和1mA)微聚焦射線管 190eV及以上分辨率的Si-PIN固態(tài)探測器 5層,每層可分析10種元素,成分分析至多可分析25種元素 4位置一次過濾器/4種規(guī)格準(zhǔn)直器 可變焦 4096 多通道數(shù)字處理器,自動死時(shí)間和逃逸峰校正 英特爾, 酷睿 i5 3470 處理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 內(nèi)存, 微軟 Windows 10 專業(yè)版, 64位 1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率 150W,100-240V,頻率范圍為47Hz至63Hz 110kg 平臺尺寸:10"x 10"| 行程:10"x 10" 高度:280mm(11"),寬度:550mm(22"),深度:600mm(24") 高度:750mm(30"),寬度:700mm(28"),深度:750mm(30") |