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日本理學(xué)ZSX Primus III+ X射線熒光光譜儀
參考價(jià) | ¥ 1500 |
訂貨量 | ≥1 件 |
- 公司名稱 北京冠遠(yuǎn)科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地 日本
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2019/12/20 10:51:37
- 訪問(wèn)次數(shù) 556
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 石油,地礦 |
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日本理學(xué)ZSX Primus III+ X射線熒光光譜儀可在慢速和快速直接切換抽真空和卸真空速率,使粉末和金屬樣品的樣品處理量達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)形式,真空室內(nèi)飄散粉末損壞光管的風(fēng)險(xiǎn),以很少的標(biāo)準(zhǔn)在各種樣品類型中快速定量測(cè)定從氧氣(O)到鈾(U)的主要和次要原子元素,具有創(chuàng)新的光學(xué)上述配置,由于樣品室的維護(hù),再也不用擔(dān)心被污染的光束路徑或停機(jī)時(shí)間。光學(xué)元件以上的幾何結(jié)構(gòu)消除了清潔問(wèn)題并延長(zhǎng)了使用時(shí)間,并且無(wú)需在進(jìn)行粉末樣品分析時(shí)使用粘合劑,使樣品制備更快捷簡(jiǎn)便。
產(chǎn)品特點(diǎn):
1、操作界面簡(jiǎn)潔、自動(dòng)化程度高;
2、元素從O到U的分析;
3、樣品室可簡(jiǎn)單移出方便清潔;
4、管道上方的光學(xué)器件使污染問(wèn)題小化;
5、特殊光學(xué)系統(tǒng)減少樣品表面不平而引起的誤差;
6、占地面積小,使用的實(shí)驗(yàn)室空間有限;
7、精度定位樣品臺(tái)滿足合金分析高精度要求;
8、統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制軟件工具(SPC)吞吐量可以優(yōu)化疏散和真空泄漏率。
日本理學(xué)ZSX Primus III+ X射線熒光光譜儀在處理樣品的時(shí)候精度定位確保樣品表面與X射線管之間的距離保持恒定,這對(duì)于要求高精度的應(yīng)用很重要,例如合金分析。ZSX Primus III +采用*的光學(xué)配置進(jìn)行高精度分析,可實(shí)現(xiàn)粉末、固體樣品不同元素不同含量的高精度分析。