Bi/Cu 手持式光譜儀用銅上鍍鉍厚度標(biāo)準(zhǔn)片
- 公司名稱 上海益朗儀器有限公司
- 品牌 Calmetrics/美國
- 型號 Bi/Cu
- 產(chǎn)地 美國
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2020/1/11 23:59:24
- 訪問次數(shù) 695
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涂鍍層測厚儀,涂鍍層標(biāo)準(zhǔn)片,水質(zhì)簡易測定器,輻射測量表,哈氏槽實(shí)驗(yàn)設(shè)備,鍍層內(nèi)應(yīng)力測試儀,離子污染測試儀,硫酸根快速測定儀,水質(zhì)分析儀
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
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手持式光譜儀用銅上鍍鉍厚度標(biāo)準(zhǔn)片
用于校準(zhǔn)手持式光譜儀,不管什么品牌什么型號均可使用。銅上鍍鉍厚度標(biāo)準(zhǔn)片用于建立和校準(zhǔn)銅上鍍鉍程式。
銅上鍍鉍厚度標(biāo)準(zhǔn)片
- Bi/Cu,理論厚度:20微英寸(0.50微米)
- Bi/Cu,理論厚度:50微英寸(1.25微米)
- Bi/Cu,理論厚度:100微英寸(2.5微米)
- Bi/Cu,理論厚度:150微英寸(3.75微米)
- Bi/Cu,理論厚度:200微英寸(5.0微米)
- Bi/Cu,理論厚度:250微英寸(6.25微米)
- Bi/Cu,理論厚度:300微英寸(7.5微米)
- Bi/Cu,理論厚度:400微英寸(10.0微米)
關(guān)于“理論厚度”:實(shí)際到貨值會在理論厚度的附近。原廠偏差控制在±15%范圍內(nèi)。
關(guān)于“底材”:常用為銅(Cu),如有其他底材要求或其他厚度要求,可聯(lián)系上海益朗儀器有限公司非標(biāo)定制。
由于箔片太脆弱而無法與手持式光譜儀一起使用,因此手持式光譜儀用銅上鍍鉍厚度標(biāo)準(zhǔn)片以*的方式包裝,以便與手持式光譜儀一起使用。標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)允許用戶在有或沒有視頻成像的情況下瞄準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn),以便校準(zhǔn)便攜式XRF儀器的薄膜厚度和材料分析測試。適合用于以下品牌但不限于以下品牌:尼通、伊諾斯、奧林巴斯、牛津、斯派克、日立、牛津、天瑞、浪聲等。
單層手持式XRF產(chǎn)品摘要
這些標(biāo)準(zhǔn)包括一層通過濺射或電鍍方法沉積在特定基材上的高純度薄膜。它們可以用于校準(zhǔn)便攜式手持XRF設(shè)備,以測量在基材上具有一層與標(biāo)準(zhǔn)涂層和基材相同的元素組成的涂膜的樣品。這些標(biāo)準(zhǔn)是堅(jiān)固的,不易彎曲的材料,安裝在帶有十字線的陽極氧化鋁板上,以方便手持XRF儀器的定位和校準(zhǔn)。
注意:
1.對于小于等于1微米(40μin)的厚度,交貨標(biāo)準(zhǔn)的允許厚度偏差為±10%。
2.如果厚度> 1微米(40μin),則所交付標(biāo)準(zhǔn)的允許層厚度偏差為±15%。
3.均勻度:5%。
4.認(rèn)證厚度不確定度(95%置信區(qū)間)±5%。
定義:
一。均勻度的定義是:(大厚度–小厚度)/平均
表示為百分比,其中可以在標(biāo)準(zhǔn)暴露表面的任何位置確定厚度。
b。除非報(bào)價(jià)中另有說明,否則以上述規(guī)格為準(zhǔn)。
C。“有庫存”表示交貨時(shí)間為下訂單后1-2周。
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