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          產(chǎn)品展廳

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          發(fā)布詢價(jià)單
          飛馳(北京)科學(xué)儀器有限公司

          化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>粒度儀>納米粒度儀>nanoSAQLA 多檢體納米粒徑測量系統(tǒng)

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          nanoSAQLA 多檢體納米粒徑測量系統(tǒng)

          具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          • 公司名稱 大塚電子(蘇州)有限公司
          • 品牌 OTSUKA/日本大冢
          • 型號 nanoSAQLA
          • 產(chǎn)地
          • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
          • 更新時(shí)間 2020/6/30 13:21:24
          • 訪問次數(shù) 1592

          聯(lián)系我們時(shí)請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!


                大塚電子(蘇州)有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價(jià)·檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源·照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價(jià)·檢查。

            以高速·高精度·高可靠性且有市場實(shí)際應(yīng)用的分光器MCPD系列為基礎(chǔ), 在中國的顯示器 市場上有著20年以上銷售實(shí)例, 為許多廠家在研究開發(fā)、生產(chǎn)部門所使用。并且在光源·照明 相關(guān)方面,對研究機(jī)構(gòu)、各個(gè)廠家的銷售量在逐步擴(kuò)大。

            在中國的蘇州有設(shè)立售后服務(wù)點(diǎn),為了能迅速且周到的為顧客服務(wù)而努力。

            我公司的母公司日本大塚電子集團(tuán),隸屬于大冢集團(tuán), 一直以來都謹(jǐn)守大冢集團(tuán) 的企業(yè)理念「Otsuka-people creating new products for better health world wide」(大冢為人類的健康創(chuàng)造革新的產(chǎn)品),不斷的推出創(chuàng)新產(chǎn)品,面向開展業(yè)務(wù),為社會作出貢獻(xiàn)。

           

          zeta電位?粒徑?分子量測量系統(tǒng),晶圓在線測厚系統(tǒng),線掃描膜厚儀,顯微分光膜厚儀,線掃描膜厚儀,分光干涉式晶圓膜厚儀,相位差膜?光學(xué)材料檢測設(shè)備,非接觸光學(xué)膜厚儀,小角激光散射儀,多檢體納米粒徑量測系統(tǒng),量子效率測量系統(tǒng)

          測量范圍 0.6nm~10μm微米 產(chǎn)地類別 進(jìn)口
          分散方式 濕法分散 價(jià)格區(qū)間 20萬-30萬
          儀器種類 動態(tài)光散射 應(yīng)用領(lǐng)域 食品,電子,制藥

           多檢體納米粒徑測量系統(tǒng) nanoSAQLA

          多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)nanoSAQLa

          多檢體納米粒徑測量系統(tǒng)nanoSAQLA利用動態(tài)光散射法(DLS法)的粒徑測量(粒徑0.6nm~10μm)儀器。

          追求更高品質(zhì)管理的需求,搭載了各種功能。

          可對應(yīng)檢體范圍廣,低濃度~高濃度類,新光學(xué)系,輕便•小型,實(shí)驗(yàn)室標(biāo)配。實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)1分鐘高速測量。

          新產(chǎn)品,非浸泡型,不受夾雜物的影響,無自動取樣器,“5檢體連續(xù)測量”的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備。

          特點(diǎn)

          • 只需一臺,輕松實(shí)現(xiàn)5檢體連續(xù)測量
          • 低濃度到高濃度都可對應(yīng)
          • 高速測量,標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間1分鐘
          • 搭載了簡單的測量功能 (1鍵測量)
          • 內(nèi)置非浸泡型的cell block,無分注夾雜物
          • 搭載溫度梯度功能

          測量范圍(理論值)

          • 粒徑 0.6nm~10μm
          • 濃度范圍 0.00001~40%
          • 溫度范圍 0~90℃*

          式樣

          型號 多檢體納米粒徑測量系統(tǒng)
          測量原理 動態(tài)光散射法
          光源 高出力半導(dǎo)體激光*1
          檢出器 高感光度APD
          連續(xù)測量 5檢體
          測量范圍 0.6nm ~ 10μm
          對應(yīng)濃度 0.00001 ~ 40% *2
          溫度 0 ~ 90℃ (有溫度梯度功能) *3
          規(guī)格 遵照 ISO 22412:2017
          遵照J(rèn)IS Z 8828:2013
          遵照J(rèn)IS Z 8826:2005
          尺寸 W240 X D480 X H375 mm
          重量 約18 kg
          軟件 平均粒徑解析 (累積法解析)
          粒度分布解析
          (Marquardt法/NNLS/Contin法/Unimodal法)
          粒度分布疊寫
          逆相關(guān)函數(shù)?殘差plot
          粒徑monitor
          粒徑顯示范圍 (0.1 ~ 106 nm)
          分子量計(jì)算功能

           

          *1 根據(jù)激光安全基準(zhǔn) (JIS C6802)級別區(qū)分,本儀器的安全級別為1級。
          *2 Latex120nm:0.00001 ~ 10%、牛黃膽酸:~40%
          *3 標(biāo)準(zhǔn)glass cell的批量測量的情況。
          一次性cell或連續(xù)測量時(shí), 15 ~ 40℃ (不對應(yīng)溫度梯度)

           

          測量范例

          01.png

           

          a02.jpg

           

          03.png

          關(guān)聯(lián)產(chǎn)品

           



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