nanoSAQLA 納米粒徑儀
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 大塚電子（蘇州）有限公司
- 品牌 OTSUKA/日本大冢
- 型號(hào) nanoSAQLA
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2020/6/12 9:39:52
- 訪問次數(shù) 1669
產(chǎn)品標(biāo)簽
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zeta電位?粒徑?分子量測(cè)量系統(tǒng)，晶圓在線測(cè)厚系統(tǒng)，線掃描膜厚儀，顯微分光膜厚儀，線掃描膜厚儀，分光干涉式晶圓膜厚儀，相位差膜?光學(xué)材料檢測(cè)設(shè)備，非接觸光學(xué)膜厚儀，小角激光散射儀，多檢體納米粒徑量測(cè)系統(tǒng)，量子效率測(cè)量系統(tǒng)
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 分散方式 | 濕法分散 |
|---|---|---|---|
| 價(jià)格區(qū)間 | 20萬-30萬 | 儀器種類 | 動(dòng)態(tài)光散射 |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 食品,電子,制藥 |
nanoSAQLA納米粒徑儀利用動(dòng)態(tài)光散射法(DLS法)的粒徑測(cè)量（粒徑0.6nm～10μm）儀器。
追求更高品質(zhì)管理的需求，搭載了各種功能。
可對(duì)應(yīng)檢體范圍廣，低濃度～高濃度類，新光學(xué)系，輕便•小型，實(shí)驗(yàn)室標(biāo)配。實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)1分鐘高速測(cè)量。
新產(chǎn)品，非浸泡型，不受夾雜物的影響，無自動(dòng)取樣器，“5檢體連續(xù)測(cè)量”的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備。
特點(diǎn)
- 只需一臺(tái)，輕松實(shí)現(xiàn)5檢體連續(xù)測(cè)量
- 低濃度到高濃度都可對(duì)應(yīng)
- 高速測(cè)量，標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間1分鐘
- 搭載了簡(jiǎn)單的測(cè)量功能 (1鍵測(cè)量)
- 內(nèi)置非浸泡型的cell block，無分注夾雜物
- 搭載溫度梯度功能
測(cè)量范圍（理論值）
- 粒徑 0.6nm～10μm
- 濃度范圍 0.00001～40％
- 溫度范圍 0～90℃*
式樣
| 型號(hào) | 納米粒徑儀 |
|---|---|
| 測(cè)量原理 | 動(dòng)態(tài)光散射法 |
| 光源 | 高出力半導(dǎo)體激光*1 |
| 檢出器 | 高感光度APD |
| 連續(xù)測(cè)量 | 5檢體 |
| 測(cè)量范圍 | 0.6nm ～ 10μm |
| 對(duì)應(yīng)濃度 | 0.00001 ～ 40% *2 |
| 溫度 | 0 ～ 90℃ （有溫度梯度功能） *3 |
| 規(guī)格 | 遵照 ISO 22412：2017 |
| 遵照J(rèn)IS Z 8828：2013 | |
| 遵照J(rèn)IS Z 8826：2005 | |
| 尺寸 | W240 X D480 X H375 mm |
| 重量 | 約18 kg |
| 軟件 | 平均粒徑解析 （累積法解析） |
| 粒度分布解析 | |
| （Marquardt法/NNLS/Contin法/Unimodal法） 粒度分布疊寫 逆相關(guān)函數(shù)?殘差plot 粒徑monitor 粒徑顯示范圍 （0.1 ～ 106 nm） 分子量計(jì)算功能 |
*1 根據(jù)激光安全基準(zhǔn) （JIS C6802）級(jí)別區(qū)分，本儀器的安全級(jí)別為1級(jí)。
*2 Latex120nm：0.00001 ～ 10％、牛黃膽酸：～40%
*3 標(biāo)準(zhǔn)glass cell的批量測(cè)量的情況。
一次性cell或連續(xù)測(cè)量時(shí)， 15 ～ 40℃ （不對(duì)應(yīng)溫度梯度）
測(cè)量范例
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