弗萊貝格--SDCOM 小晶體樣品臺(tái)式X射線單晶定向儀
- 公司名稱(chēng) 束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) 弗萊貝格--SDCOM
- 產(chǎn)地 德國(guó)
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/9/12 7:34:33
- 訪問(wèn)次數(shù) 2062
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MicroCT，顯微CT，微焦點(diǎn)CT，骨骼成像，顯微CT材料學(xué)檢測(cè)，微納顯微CT,X射線斷層掃描，TOC,元素檢測(cè)
| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類(lèi) | 雙晶衍射 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,交通,冶金,電氣 |
?技術(shù)特點(diǎn)
--能夠測(cè)量小至1mm的晶體到或更大的樣品
--各種樣品架及輸送夾具，用于線鋸、拋光等
--側(cè)晶方向標(biāo)記選項(xiàng)
--SDCOM（小晶體樣品臺(tái)式X射線單晶定向儀）無(wú)水冷卻
--精可達(dá)0.01°(視晶體質(zhì)量而定)
--確定單晶的*晶格取向
--使用Omega掃描方法的超高速晶體定位測(cè)量
--氣冷式X射線管，無(wú)需水冷
--適合于研究和生產(chǎn)質(zhì)量控制
--手動(dòng)操作(沒(méi)有自動(dòng)化選項(xiàng))
晶體的方向是由反射位置決定的
?SDCOM可測(cè)材料
--立方/任意未知方向：Si, Ge, GaAs, GaP, InP
--立方/特殊取向：Ag, Au, Ni, Pt, GaSb, InAs, InSb, AlSb, ZnTe, CdTe, SiC3C, PbS, PbTe, SnTe, MgO, LiF, MgAl2O4, SrTiO3, LaTiO3
--正方：MgF2, TiO2, SrLaAlO4
--六方/三角：SiC 2H, 4H, 6H, 15R, GaN, ZnO, LiNbO3, SiO2(石英)，Al2O3(藍(lán)寶石)，GaPO4, La3Ga5SiO14
--斜方晶系：Mg2SiO4 NdGaO3
--另可根據(jù)客戶的要求進(jìn)一步選料
適合多種材料
?行業(yè)應(yīng)用
平面方向的標(biāo)記和測(cè)量
--在晶圓片的注入和光刻過(guò)程中，需要平面或凹槽作為定位標(biāo)記。切割過(guò)程中，晶片必須正確地對(duì)準(zhǔn)晶圓片上易于切割的晶格面。因此，檢查平面或缺口的位置至關(guān)重要。
--為了確定平面或缺口的位置，就需要測(cè)量平面內(nèi)的部件。由于Omega掃描法可以在一次測(cè)量中確定完整的晶體方位，基于此，便可以直接識(shí)別在平面方向或檢查方向的單位或缺口。
--SDCOM（小晶體樣品臺(tái)式X射線單晶定向儀）通過(guò)旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤(pán)，可以將任何平面方向轉(zhuǎn)換成用戶的特定位置。在必須定義平面方向的情況下，這可以大大簡(jiǎn)化將標(biāo)記應(yīng)用到特定平面方向的過(guò)程。
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