日本理學(xué)X射線粉末衍射儀Rigku XRD
- 公司名稱(chēng) 柜谷科技發(fā)展（上海）有限公司
- 品牌 Rigaku/理學(xué)
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2020/8/20 14:43:14
- 訪問(wèn)次數(shù) 1027
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| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類(lèi) | 單晶衍射儀 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,食品,化工,生物產(chǎn)業(yè) |
日本理學(xué)X射線粉末衍射儀Rigku XRD?產(chǎn)品介紹
1. MiniFlex
具有600W功率，是其他臺(tái)式機(jī)的兩倍;高分辨、高精度、高信噪比;豐富的附件可供選擇，滿(mǎn)足廣泛應(yīng)用需要。
安全設(shè)計(jì)： 采用聯(lián)鎖裝置，在X射線開(kāi)啟狀態(tài)下無(wú)法打開(kāi)樣品室操作窗。在測(cè)試中如果指令樣品室解鎖，則快門(mén)關(guān)閉同時(shí)停止X射線。
高分辨率： 入射和發(fā)散狹縫可選，為您提供所需的分辨率。
高 精 度： 實(shí)時(shí)角度校正功能，大幅提高角度精度、強(qiáng)度等基本性能，得到高精度測(cè)試數(shù)據(jù)。
高信噪比： 可以選配單色器，用于扣除熒光X射線背底，提高信噪比進(jìn)行高質(zhì)量數(shù)據(jù)測(cè)試。
豐富附件： 一維高速探測(cè)器、6位樣品自動(dòng)轉(zhuǎn)換器、旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)、氣密樣品臺(tái)等
應(yīng) 用： 石棉、游離氧化鈣等定量分析 ● 醫(yī)藥、工業(yè)原材料品質(zhì)管理 ● 大學(xué)、科研等
2. Ultima IV
快速
Ultima IV 是多功能X射線衍射儀的*代表。他結(jié)合了理學(xué)公司不拆卸CBO技術(shù)，長(zhǎng)期對(duì)準(zhǔn)，平行光與聚焦光靈活轉(zhuǎn)換，Ultima IV X射線衍射儀可快速執(zhí)行多種不同測(cè)量。
靈活
The Ultima IV 是當(dāng)今市場(chǎng)采用全自動(dòng)校準(zhǔn)的X射線衍射儀。CBO技術(shù)與自動(dòng)校準(zhǔn)相結(jié)合，使Ultima IV X射線衍射儀成為多功能應(yīng)用的靈活系統(tǒng)。
在Ultima IV XRD 系統(tǒng)中, CBO 技術(shù)縮短了切換測(cè)角儀時(shí)花費(fèi)的時(shí)間，使日常用戶(hù)可以運(yùn)行兩組試驗(yàn)而無(wú)需重新設(shè)置系統(tǒng)，可以減少經(jīng)常切換造成的磨損和光路損壞。
CBO 與自動(dòng)校準(zhǔn)相結(jié)合后功能如下：
粉末衍射
薄膜衍射
小角散射
In-plane散射
Ultima IV: 快速 • 靈活 • 實(shí)用
3. Smatlab
智能X射線衍射儀SmartLab系列，是當(dāng)今高性能的多功能的X射線衍射儀，它采用了理學(xué)的CBO交叉光學(xué)系統(tǒng)、自動(dòng)識(shí)別所有光學(xué)組件、樣品臺(tái)、智能的測(cè)量分析軟件SmartLab Guidance，一臺(tái)儀器可以智能進(jìn)行普通粉末樣品、液體樣品、納米材料、藥品、半導(dǎo)體、薄膜樣品測(cè)試。The SmartLab 高分辨衍射系統(tǒng)是*的全自動(dòng)模塊化XRD系統(tǒng)的代表。該系統(tǒng)配備了高分辨θ/θ閉環(huán)測(cè)角儀驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)，選配的in-plane 掃描臂、9kW轉(zhuǎn)靶發(fā)生器，全自動(dòng)光學(xué)系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)*的測(cè)量。
主要特點(diǎn)
智能X射線衍射儀SmartLab系列，可以廣泛應(yīng)用于各種材料結(jié)構(gòu)分析的各個(gè)領(lǐng)域。
可以分析的材料包括：金屬材料、無(wú)機(jī)材料、復(fù)合材料、有機(jī)材料、納米材料、超導(dǎo)材料
可以分析的材料狀態(tài)包括：粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區(qū)微量樣品
主要的應(yīng)用有：
1. 粉末樣品的物相定性與定量分析
2. 計(jì)算結(jié)晶化度、晶粒大小
3. 確定晶系、晶粒大小與畸變
4. Rietveld定量分析
5. 薄膜樣品分析，包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度，電荷密度
6. In-Plane裝置可以同時(shí)測(cè)量樣品垂直方向的結(jié)構(gòu)及樣品深度方向的結(jié)構(gòu)
7. 小角散射與納米材料粒徑分布
8. 微區(qū)樣品的分析
日本理學(xué)X射線粉末衍射儀Rigku XRD技術(shù)參數(shù)
1、X射線發(fā)生器功率為3KW、新型9KW轉(zhuǎn)靶
2、測(cè)角儀為水平測(cè)角儀
3、測(cè)角儀小步進(jìn)為1/10000度，高精度測(cè)角儀(雙光學(xué)編碼、直接軸上定位)
4、測(cè)角儀配程序式可變狹縫
5、自動(dòng)識(shí)別所有光學(xué)組件、樣品臺(tái)
6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高強(qiáng)度高分辨平行光路(帶Mirror)
7、小角散射測(cè)試組件(SAXS / Ultra SAXS)
8、多用途薄膜測(cè)試組件
9、微區(qū)測(cè)試組件、CBO-F微區(qū)光學(xué)組件
10、In-Plane測(cè)試組件(理學(xué)*)
11、入射端Ka1光學(xué)組件
12、高速探測(cè)器D/teX-Ultra(能量分辨率20%以下)
13、二維面探PILATUS 100K/R(用于同步輻射環(huán)的探測(cè)器，可以接收直射X射線)
14、智能的測(cè)量分析軟件SmartLab Guidance
注：該儀器未取得中華人民共和國(guó)醫(yī)療器械注冊(cè)證，不可用于臨床診斷或治療等相關(guān)用途
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