日本中央電機(jī)cew微缺陷檢測設(shè)備
- 公司名稱 秋山科技(東莞)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2024/9/9 18:26:12
- 訪問次數(shù) 1115
聯(lián)系方式:陳小姐18922517093 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時(shí)請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,建材,電子,冶金,制藥 |
日本中央電機(jī)cew微缺陷檢測設(shè)備
使用高分辨率相機(jī)和高精度XY載物臺(tái)的二維檢查設(shè)備。
適用于檢查光學(xué)膜,片,觸摸面板等的表面劃痕,異物和缺陷。
光學(xué)分辨率為“ 1.8μm”,可以進(jìn)行超高清檢查。
它也可以用于尺寸測量,并且可以檢查二維沖壓產(chǎn)品。
特征
- 檢查數(shù)據(jù)和圖像自動(dòng)保存
- 相機(jī)像素?cái)?shù):900萬像素
- 高光學(xué)分辨率(1.8μm)使精美的檢查點(diǎn)看起來更漂亮
- 非常適合檢查觸摸屏的外圍電極,印刷電路板上的細(xì)線斷線和短路
檢查使用
用于檢查觸摸屏和異物等缺陷!
- 觸摸屏周邊電極缺陷檢查
- 板材表面劃痕,異物檢查
- 板缺陷檢查
規(guī)格
外形尺寸 | 1000 x 1200 x 1080毫米 |
---|---|
重量 | 400公斤 |
測量范圍 | 600 x 400毫米 |
被測物體的最大高度 | 30毫米 |
光學(xué)分辨率 | 1.8微米 |
控制分辨率 | 1.0微米 |
重復(fù)定位精度 | ±5微米 |
光學(xué)倍率 | 2次 |
視場 | 6.3毫米x 5.0毫米 |
監(jiān)視器 | TFT 23.6型寬 分辨率:1920 x 1080像素 |
相機(jī) | CCD單色1英寸 像素?cái)?shù):900萬像素 |
鏡片 | 遠(yuǎn)心鏡頭 WD:65毫米 景深0.095毫米 |
照明 | 同軸落射照明 |
電源 | AC100V 50/60赫茲 |
開發(fā)語言 | LabVIEW |
日本中央電機(jī)cew微缺陷檢測設(shè)備
光學(xué)分解能1.8μm?スピード検査 タッチパネス周辺電極?基板表面など、微細(xì)欠陥の検査が可能
高解像度カメラと高精度X-Yステージを用いた二次元の検査裝置です。
光學(xué)フィルム、シートやタッチパネルなどの表面キズ、異物の検査や欠陥検査に適しています。
光學(xué)分解能「1.8μm」で、非常に高精細(xì)な検査が可能です。
寸法測定にも対応でき、二次元の打ち抜き加工品などの検査もできます。