LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 京海興樂科技(北京)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2021/8/2 11:15:15
- 訪問次數(shù) 897
產(chǎn)品標簽
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產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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應用領域 | 交通,冶金,航天,汽車 |
LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀
涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042具有精準的測量技術和簡單的操作方法,是萬能的涂層測厚儀。通過解鎖代碼,可以使儀器在現(xiàn)場迅速的升級。
可定制帶系統(tǒng)的涂層測厚 |
涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042 利用磁感應法(DIN EN ISO 2178)測量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法(DIN EN ISO 2360)測量非鐵磁材料上覆蓋的非導電層厚度。 |
儀器將一種把測厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統(tǒng)相結合,同時提供10種可供任意選擇的語言,以滿足客戶的各種需求。 涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042是一種經(jīng)濟的產(chǎn)品,電池壽命長,可以連續(xù)工作100小時以上。儀器記錄工作時間和測量數(shù)量,因此一些重要的參數(shù)可以被保存。 彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內(nèi),可以保護儀器在工業(yè)環(huán)境中意外滑落不受損害。 | ||
隨機附送儀器箱 (儀器的舉例) |
特點概述 |
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LEPTOSKOP 2042 帶有45°微型探頭 | * 取決于配置級別 |
3種配置級別以更好的完成測量人任務 |
LEPTOSKOP 2042 有3種配置級別 |
基本型 – 證明質量的基本特征 | |
高級型 - 附加統(tǒng)計評估 | |
專業(yè)型 - 統(tǒng)計評估和數(shù)據(jù)存儲 | |
如果針對新的測量要求,而需要儀器增加新的功能,可以在任何時候把儀器升級為高級型和/或專業(yè)型。升級只需在現(xiàn)場輸入解鎖代碼,“統(tǒng)計”和/或“統(tǒng)計& 數(shù)據(jù)存儲”,便可完成;而不需要把儀器反廠或重新購買新機器。 這里有操作指南和制定模塊的參考說明。 | ||
通過解鎖代碼可以很方便的升級 (證書舉例) |
舉例:儀器上的用戶界面圖像 |
選擇菜單項目(例如:語言清單) | ||||||
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清晰的統(tǒng)計讀數(shù)值和當前測量值 | ||||||||||||||||||
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電腦讀數(shù)也被存儲在目錄和文件中 | ||||||||
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多樣的探頭 |
多樣的外部探頭使LEPTOSKOP 2042在困難的條件下,更容易地測量復雜幾何圖形上的特殊涂層厚度。涂層厚度是20mm 也是可以的。根據(jù)需求,我們也可以訂做特殊探頭。 |
探頭類型 | 測量方法 | 測量范圍 | 訂貨號 | |
標準探頭Fe 0?br> 用于在寬闊的、容易測量的地方 | Fe | 0 - 3000 祄 | 2442.100 | |
標準探頭 NFe 0?/font> | NFe | 0 - 1000 祄 | 2442.130 | |
標準探頭 NFe S 0?/font> | NFe | 0 - 3750 祄 | 2442.140 | |
標準探頭 Fe S 0?br>用于測量表面有寬闊的涂層厚度 | Fe | 0.5 - 20 mm | 2442.120 | |
標準探頭 Fe 90?br>用于測量難接近的部位,例如:管子的內(nèi)部 | Fe | 0 - 3000 祄 | 2442.110 | |
雙晶探頭用于測量表面有寬闊的涂層例如:管子的內(nèi)部涂層. | Fe | 0.5 - 12.5 mm | 2442.200 | |
微型探頭0?用于測量小尺寸和難接近的部位例如:鉆孔的底部 | FeNFe | 0 - 500 祄 | 2442.300 2442.310 | |
微型探頭 45?用于測量小尺寸和難接近的部位 | FeNFe | 0 - 500 祄 | 2442.320 2442.330 | |
微型探頭 90?用于測量小尺寸和難接近的部位例如:管子的內(nèi)壁和鉆孔 | FeNFe | 0 - 500 祄 | 2442.340 2442.350 | |
注:點擊單獨的探頭圖片,可以得到更多詳細信息 |
技術資料 |
數(shù)據(jù)傳輸接口RS232 或 USB | |
電源:電池、充電電池、USB或外接電源 | |
測量范圍: 0 - 20000 um (取決于探頭) | |
測量速度: 每秒測量2個數(shù)值 | |
存儲: 最多 9999 個數(shù)值,140個文件 | |
誤差: 涂層厚度 < 100 祄: 1 % 的數(shù)值 +/- 1 祄 (校準后) 涂層厚度 > 100 祄: 1..3 % 的數(shù)值 +/- 1 祄 涂層厚度 > 1000 祄: 3..5 % 的數(shù)值 +/- 10 祄 涂層厚度 > 10000 祄: 5 % 的數(shù)值 +/- 100 祄 |
附件 |
試塊和膜片 | |
探頭定位裝置 (適用于微型探頭) | |
定位輔助裝置 (適用于微型探頭) | |
電腦軟件 STATWIN 2002 用于數(shù)據(jù)傳輸和對整個目錄結構的便捷管理 | |
電腦軟件 EasyExport 用于把單獨的杜說或全部文件傳輸?shù)?span id="ymtomdm" class="en" style="font-family: Arial, Helvetica, sans-serif; line-height: 20.8px;">Windows 程序里 |