致遠(yuǎn)ZLG LAB6052邏輯分析儀
- 公司名稱 上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司
- 品牌 ZLG/致遠(yuǎn)電子
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/8/20 14:25:23
- 訪問次數(shù) 2300
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堅(jiān)融實(shí)業(yè)——上海市先JIN企業(yè)!
堅(jiān)融實(shí)業(yè)——專注工業(yè)測試行業(yè)十六年!
堅(jiān)融實(shí)業(yè)——通過德國萊茵TUV認(rèn)證供應(yīng)商!
堅(jiān)融實(shí)業(yè)——擁有替代進(jìn)口品牌儀器儀表設(shè)備及非標(biāo)定制工廠!
堅(jiān)融實(shí)業(yè)——儀器儀表設(shè)備代理經(jīng)銷商中唯YI 一家有技術(shù)支持工程師的公司!
堅(jiān)融實(shí)業(yè)——實(shí)繳注冊資金人民幣壹仟萬元整！實(shí)繳資本同行業(yè)中居全國QIAN三!
堅(jiān)融實(shí)業(yè)——抗金融風(fēng)險(xiǎn)實(shí)力超QIANG，且為行業(yè)里極少數(shù)通過會(huì)計(jì)事務(wù)所嚴(yán)格審計(jì)的公司，公司遵紀(jì)守法，用戶合作安全可靠!
堅(jiān)融實(shí)業(yè)——致力于為祖國用戶提供儀器設(shè)備售前演示實(shí)測、測試方案應(yīng)用、技術(shù)使用培訓(xùn)及售后維修計(jì)量，全面服務(wù)的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商!
專業(yè)儀器設(shè)備與測試方案供應(yīng)商——上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友（上海）測量儀器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，專注工業(yè)測試行業(yè)十六年，志在破舊立新！填BU進(jìn)口儀器設(shè)備大多數(shù)廠家僅在國內(nèi)設(shè)銷售點(diǎn)，但技術(shù)支持薄弱甚至沒有，而代理經(jīng)銷商也只做商務(wù)，不做售前技術(shù)支持/測試方案和售后使用培訓(xùn)/維修校準(zhǔn)的空白。我們的技術(shù)型銷售均為本科以上學(xué)歷，且均有10年以上測試行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，以我們先進(jìn)獨(dú)TE的經(jīng)營理念，與客戶互惠互利合作雙贏，重在協(xié)助用戶采購與技術(shù)工程師的工作，提供具競爭力的供應(yīng)鏈管理與售前售后技術(shù)支持。十六年精耕細(xì)作于儀器設(shè)備售前演示實(shí)測、測試方案應(yīng)用、技術(shù)使用培訓(xùn)及售后維修服務(wù)。
經(jīng)營品牌及產(chǎn)品：
一、測試技術(shù)方案【我們根據(jù)用戶實(shí)際應(yīng)用，撰寫有上百篇技術(shù)測試應(yīng)用文章】：
USB3.0/MIPI/eDP/eMMC5.1/SD4.1/DP AUX/SoundWire/I2C/SPI/UART/CAN/FlexRay/MVB/WTB協(xié)議測試、半導(dǎo)體I-V測試、表面電阻/體積電阻率、靜電壓/離子消散衰減、介電常數(shù)/電導(dǎo)率/阻抗分析、GaN/SiC/IGBT特性分析、IoT低功耗、材料耐壓絕緣電阻漏電流、ESD靜電放電/EMC電磁/雷擊浪涌、材料高低溫/冷熱沖擊試驗(yàn)、大眾VW80000/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測試、材料切割鑲樣磨拋金相分析......
二、環(huán)境可靠性試驗(yàn)/拉力試驗(yàn)/幾何精密測量/機(jī)器人手臂：
愛斯佩克ESPEC/賓德BINDER/廣五所GWS/偉思富奇Weiss-Technik烘箱、
高低溫試驗(yàn)箱、恒溫恒濕箱、冷熱沖擊箱、鹽霧箱。沖擊跌落機(jī)、振動(dòng)臺(tái)、英斯特朗INSTRON拉力試驗(yàn)機(jī)。?？怂箍礖EXAGON/蔡司ZEISS/法如FARO三坐標(biāo)測量儀/智能機(jī)械人手臂。
三、靜電檢測消除：
DESCO/KLEINWACHTER防靜電電阻測試儀、靜電測試儀、離子風(fēng)機(jī)、靜電吸塵器、手腕帶防靜電鞋ESD測試儀、電荷電量庫侖計(jì)、MET ONE百級(jí)潔凈室塵埃粒子計(jì)。
四、電子測量儀器：
是德KEYSIGHT/泰克Tektronix/KEITHLEY/ADCMT/日置HIOKI/普源RIGOL/致茂Chroma/羅德R&S/德國EA電源、電子負(fù)載、萬用表、數(shù)據(jù)采集、皮安表、源表、靜電計(jì)、高阻表、半導(dǎo)體圖示儀、信號(hào)源、示波器、頻譜儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、功率計(jì)、電池測試儀。ZEROPLUS邏輯分析儀、Wayne Kerr LCR電橋、阻抗分析儀、FOTRIC紅外熱像儀、菊水KIKUSUI/華儀EEC/高美GMC-I耐壓絕緣接地漏電流測試儀。
五、生物制藥化學(xué)實(shí)驗(yàn)儀器/傳感器：
賽默飛Thermo元素分析儀、博勒飛BrookField粘度計(jì)、安捷倫Agilent色譜/質(zhì)譜/光譜儀、萬通Metrohm滴定儀、電化學(xué)工作站、梅特勒METTLER/威卡WIKA壓力/流量/PH/溶氧/電導(dǎo)率傳感器，天平。艾卡IKA/Sartorius發(fā)酵罐、水分儀。愛色麗X-rite/美能達(dá)Minolta色彩分析儀、光度/亮度/照度計(jì)。COSMOS潤滑油鐵粉濃度計(jì)。
六、金相設(shè)備耗材：
賀利氏Heraeus/司特爾Struers/標(biāo)樂Buehler切割機(jī)、研磨拋光機(jī)、鑲嵌機(jī)、顯微鏡、硬度計(jì)。
企業(yè)在銷售過程中根據(jù)給用戶實(shí)際測試使用撰寫有《芯片集成電路I2C、SPI測試》、《存儲(chǔ)器SD4.1、eMMC5.1測試》、《電腦周邊USB3.0、UART測試》、《CAN、LIN、FlexRay、SENT汽車電子總線測試》、《MVB、WTB總線軌道交通測試方案》、《電源管理系統(tǒng)BMS測試》、《音視頻多媒體MIPI/HDMI/DP AUX/SoundWire測試》、《GB/T國標(biāo)、ANSI/ASTM美標(biāo)之材料表面電阻和體積電阻率測試方案》、《防靜電地板/臺(tái)面/鞋服/橡膠絕緣材料/薄膜/包裝材料ANSI/ESD規(guī)范防靜電測試》、《電子電器/防靜電產(chǎn)品的IEC 61340、EOS/ESD S.3.1和SAE J1645標(biāo)準(zhǔn)靜電消散測試》、《基于LCR電橋/阻抗分析儀/網(wǎng)絡(luò)分析儀之介電常數(shù)、電導(dǎo)率測試評(píng)估》、《6517B與B2985A高阻表測量電阻/體積電阻率》、《新材料先進(jìn)半導(dǎo)體微電流/微電阻/低噪聲測試》、《循環(huán)伏安法CV電化學(xué)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)工作站測量線性掃描伏安特性CV、電流-時(shí)間曲線I-t、電勢、電沉積、電阻率》、《基于源表和轉(zhuǎn)換開關(guān)的霍爾效應(yīng)與范德堡測試》、《MOSFET/CMOS/IGBT半導(dǎo)體晶體管特性曲線分析》、《電波暗室EMC電磁兼容測試》、《基于頻譜分析儀的EMI輻射預(yù)測試》、《相噪/頻響/數(shù)字模擬高速信號(hào)采集/射頻微波測試》、《音視頻綜合測試分析》、《Wi-Fi/藍(lán)牙Bluetooth/LTE/GPS測試》、《大眾VW80000/通用GMW3172/ISO7637瞬態(tài)傳導(dǎo)抗擾/ISO16750電源故障模擬標(biāo)準(zhǔn)測試》、《鑲嵌機(jī)、磨拋機(jī)在電子零部件中的應(yīng)用》、《Agilent34970A，KEITHLEY2700數(shù)據(jù)采集監(jiān)測多路溫度/電壓/電阻》、《精密電流源/納伏表納米超導(dǎo)材料，繼電器開關(guān)，汽車電子連接器微小電阻測試》、《靜電電量Static Charge電荷庫侖Coulomb測試方案》、《基于KEITHLEY6514靜電計(jì)，DMM7510圖形萬用表和高速示波器之nanogeneration納米發(fā)電機(jī)實(shí)驗(yàn)》、《基于皮安表的元器件/電路板泄漏電流，二極管暗電流測試》、《基于KEITHLEY2460-EC電化學(xué)工作站/恒電位測試》、《石墨烯/碳納米/晶體管測試》、《半導(dǎo)體材料SiC，GaN等電流/電壓特性分析和功能測試》、《光電子/納米電子器件測試》、《LED照明測試》、《OLED，TFT LCD液晶顯示集成電路及材料測試》、《IoT物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備低功耗測試》、《大功率編程電源/負(fù)載的太陽能光伏、新能源汽車、充電樁、燃料電池測試》、《機(jī)電/材料/生物醫(yī)學(xué)/汽車電子云熱像》、《ABS防抱死制動(dòng)系統(tǒng)、SRS汽車安全氣囊、TPMS胎壓監(jiān)測測試系統(tǒng)》、《薄膜/膠片介電擊穿/電氣強(qiáng)度試驗(yàn)》、《橡膠/電芯/陶瓷絕緣電阻試驗(yàn)》、《符合IEC61215、IEC61730光伏標(biāo)準(zhǔn)耐壓測試方法》、《GB/T 1695硫化橡膠擊穿電壓強(qiáng)度和耐電壓測定方法》、《GB/T 24344工業(yè)機(jī)械電氣設(shè)備耐壓試驗(yàn)規(guī)范》、《基于GB/T、IEC、EN、UL、VDE、JIS等各國安全規(guī)范要求》、《符合IEC、JIS、UL各類標(biāo)準(zhǔn)的醫(yī)療器械泄漏電流測試》、《燈具/開關(guān)插座/EV充電樁接地電阻測試》、《干濕球、不飽和、濕潤飽和模式高壓加速老化試驗(yàn)》、《腐蝕性物質(zhì)高低溫環(huán)境可靠試驗(yàn)》、《汽車電子零部件/內(nèi)飾件高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)》、《樹脂、涂料、油漆、膠帶易燃物質(zhì)防爆型高溫烘箱》等上百篇技術(shù)測試應(yīng)用解決方案文章，為工業(yè)測試行業(yè)做出了我們應(yīng)有的貢獻(xiàn)。
堅(jiān)忍不拔 圓融通達(dá) 是我們秉承的理念，嚶其鳴矣 求其友聲，我們渴望跟更多志同道合的同仁共建至真至誠共贏合作，為祖國測試行業(yè)“添磚加瓦”！
代理授權(quán)證/技術(shù)培訓(xùn)證：
用戶培訓(xùn)：
總線測試協(xié)議解碼邏輯分析儀，靜電阻/靜電場測試儀，源表，干燥箱烘箱，高低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱，LCR阻抗分析儀，示波器，頻譜儀，耐壓絕緣電阻測試儀
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
|---|
專業(yè)儀器設(shè)備與測試方案供應(yīng)商——上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友（上海）測量儀器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，為原安捷倫Agilent【現(xiàn)是德KEYSIGHT】品牌技術(shù)經(jīng)理-堅(jiān)JET與吉時(shí)利KEITHLEY【現(xiàn)泰克Tektronix】品牌產(chǎn)品經(jīng)理-融YOO于2011年共同創(chuàng)辦，專注工業(yè)測試領(lǐng)域十六年，志在破舊立新！*進(jìn)口儀器設(shè)備大多數(shù)廠家僅在國內(nèi)設(shè)銷售點(diǎn)，但技術(shù)支持薄弱甚至沒有，而代理經(jīng)銷商也只做商務(wù)，不做售前技術(shù)支持/測試方案和售后使用培訓(xùn)/維修校準(zhǔn)的空白。我們的技術(shù)型銷售均為本科以上學(xué)歷，且均有10年以上測試行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，以我們*進(jìn)*的經(jīng)營理念，與客戶互惠互利合作雙贏，重在協(xié)助用戶采購與技術(shù)工程師的工作，提供較有競爭力的供應(yīng)鏈管理與售前售后技術(shù)支持。堅(jiān)融實(shí)業(yè)——一家致力于為祖國用戶提供致遠(yuǎn)ZLG LAB6052邏輯分析儀儀器設(shè)備、測試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修計(jì)量全面服務(wù)的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。
產(chǎn)品型號(hào) 致遠(yuǎn)電子周立功ZLG LAB7504邏輯分析儀，致遠(yuǎn)ZLG LAB6052邏輯分析儀，LA2832A plus 致遠(yuǎn)電子周立功ZLG LA2832A邏輯分析儀
存儲(chǔ)容量（bits） 2G， 1G， 1G， 512M
存儲(chǔ)深度（bits/CH） 64M/128M(半通道)， 32M， 64M， 32M
高速定時(shí)采樣率 5GHz，-- ，-- ，--， --
分段存儲(chǔ)（段數(shù)） --， --，65536，32768
定時(shí)采樣率 500MHz/1GHz(半通道)， 500MHz， 200MHz， 200MHz
狀態(tài)采樣率 250MHz ，250MHz ，80MHz ，80MHz
頻寬 250MHz， 250MHz， 80MHz， 80MHz
輸入通道 34CH ，32CH ，32CH ，32CH
記錄模式 -- ，-- ，支持， 支持
通道復(fù)用 32CH/16CH， -- ，32CH
壓縮存儲(chǔ) 支持， 支持
頻率計(jì) 支持2路 ，支持32路
邏輯筆 支持， 支持32路
外部觸發(fā) 支持觸發(fā)輸出、輸入， 支持觸發(fā)輸出、輸入
輸入范圍 -30V～+30V， -30V～+30V
探頭參數(shù) 100KΩ/15pF ，1MΩ/15pF
門限電壓 -10～+10V， -6～+6V
供電電源 DC 12V@2A（內(nèi)正外負(fù)） ，DC 5V@1A（內(nèi)正外負(fù)）
協(xié)議解碼選型： 邏輯分析儀協(xié)議類型選型總覽表
1. 如何選擇邏輯分析儀
邏輯分析儀是一種類似于示波器的波形測試設(shè)備，它是用于監(jiān)測硬件電路工作時(shí)的邏輯電平，并加以存儲(chǔ)， 用圖形的方式直觀地表達(dá)出來，便于用戶檢測、 分析電路設(shè)計(jì)(硬件設(shè)計(jì)和軟件設(shè)計(jì)) 中的錯(cuò)誤。 邏輯分析儀是設(shè)計(jì)特別是數(shù)字設(shè)計(jì)中*的設(shè)備，通過它，
可以迅速地定位錯(cuò)誤，解決問題，達(dá)到事半功倍的效果。
相對(duì)于示波器， 邏輯分析儀往往給人有以下的感覺：
1. 操作復(fù)雜， 對(duì)使用者的要求高；
2. 與示波器功能差不多；
3. 價(jià)格昂貴。
其實(shí)不然，邏輯分析儀在近的幾年中隨著數(shù)字電路的廣泛使用發(fā)展迅速，已經(jīng)成為很多電子開發(fā)公司的必選設(shè)備之一。
邏輯分析儀的重要指標(biāo)有輸入通道數(shù)、定時(shí)采樣率、狀態(tài)采樣率、存儲(chǔ)容量、觸發(fā)方式、分析功能、其他功能等。表 1 為廣州致遠(yuǎn)電子有限公司出品邏輯分析儀的主要選型參數(shù)，也是邏輯分析儀的重要選型指標(biāo)。
采樣通道數(shù)
在需要邏輯分析儀的地方，要對(duì)一個(gè)系統(tǒng)進(jìn)行全面地分析， 邏輯分析儀的通道數(shù)至少應(yīng)當(dāng)足以把所有需要觀測的信號(hào)全部引入邏輯分析儀當(dāng)中。
定時(shí)采樣率
在定時(shí)采樣分析時(shí)，要有足夠的定時(shí)分辨率，就應(yīng)當(dāng)有足夠高的定時(shí)分析采樣速率，但并不是只有高速系統(tǒng)才需要高的采樣速率。如果采樣頻率高，則可以看見更加精細(xì)的結(jié)果。
像 LAB7504 邏輯分析儀擁有 5GHz 的定時(shí)采樣率，對(duì)信號(hào)間的時(shí)間分辨率高達(dá) 200ps，*現(xiàn)代器件 ns 級(jí)的測量。
狀態(tài)采樣率
在進(jìn)行狀態(tài)分析時(shí)，邏輯分析儀采樣時(shí)鐘使用外部輸入時(shí)鐘，在外部時(shí)鐘的驅(qū)動(dòng)下進(jìn)行數(shù)據(jù)存儲(chǔ)。外部輸入時(shí)鐘的高頻率決定了邏輯分析儀的高狀態(tài)采樣率。 LAB7000 和LAB6000 系列邏輯分析儀除了擁有標(biāo)準(zhǔn)的狀態(tài)采樣模式外，還擁有帶時(shí)間戳的狀態(tài)采樣模
式。帶時(shí)間戳的狀態(tài)采樣模式讓用戶不但可以觀察到不同的輸入狀態(tài)，更加可以測每個(gè)輸入狀態(tài)與外部同步時(shí)鐘之間的關(guān)系。
存儲(chǔ)容量
存儲(chǔ)容量是指邏輯分析儀能夠連續(xù)保存采樣點(diǎn)的數(shù)量，直接一點(diǎn)說，就是邏輯分析儀能夠測量多長時(shí)間的波形。存儲(chǔ)容量越大能夠觀察的時(shí)間就越長，但由于高速存儲(chǔ)器的價(jià)格都比較高，所以存儲(chǔ)容量越大相應(yīng)的邏輯分析儀價(jià)格就越高。 LAB7000、 LAB6000、 LA2000A
系列邏輯分析儀*的 Timing-State 模式可以很好的自動(dòng)平衡存儲(chǔ)容量、觀測時(shí)間和測量精度的三者關(guān)系，運(yùn)用 Timing-State 技術(shù)可以使邏輯分析儀在相同的存儲(chǔ)容量下同時(shí)具有很高測量精度和更長的觀測時(shí)間。
觸發(fā)方式
相比示波器，邏輯分析儀提供了豐富的觸發(fā)模式。除去邊緣觸發(fā)外，邏輯分析儀一般都具有針對(duì)總線范圍、總線間關(guān)系、事件次數(shù)等觸發(fā)方式。 LAB7000、 LAB6000、 LA2000A系列邏輯分析儀還可以對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行范圍、 =、！ =、 >、 <等比較。同時(shí)， LAB7000、 LAB6000、
LA2000A 系列邏輯分析儀提供可視觸發(fā)、協(xié)議觸發(fā)、插件觸發(fā)、用戶自定義觸發(fā)、高速 SPI觸發(fā)等多種觸發(fā)方式。
分析功能
分析功能是邏輯分析儀的大亮點(diǎn)，也是邏輯分析儀區(qū)別于其他儀器的重要指標(biāo)。邏輯分析儀對(duì)輸入信號(hào)進(jìn)行時(shí)序和狀態(tài)的分析。廣州致遠(yuǎn)電子有限公司出品的邏輯分析儀可以更進(jìn)一步的提供針對(duì) I2C、 SPI、 UART、 ModBus、 1-Wire 等總線分析和 SD 卡、 CF 卡等高層
協(xié)議的分析，針對(duì)處理器的反匯編分析等功能。
其他功能
廣州致遠(yuǎn)電子有限公司出品的邏輯分析儀提出了數(shù)字電路測量平臺(tái)的概念，在設(shè)計(jì)之初就融入了頻率計(jì)、邏輯筆、總線分析儀、協(xié)議分析儀等功能，用戶在一個(gè)軟件界面上實(shí)現(xiàn)同時(shí)對(duì)多種測量的觀察，一機(jī)多用，省去用戶重復(fù)投資。廣州致遠(yuǎn)電子有限公司
2. 解答邏輯分析儀使用過程中的常見問題解答
2.1 邏輯分析儀處于離線狀態(tài)
如果在硬件連接及軟件安裝都完成后， 將邏輯分析儀的電源接好，并用 USB 線將分析儀和電腦連接，此時(shí)如果邏輯分析儀處于離線狀態(tài)， 原因可能有以下三種：
一是供電不足，電源線沒有接好或者是沒有打開電源按鈕；
二是硬件連接問題， 請(qǐng)檢查 USB 線是否有問題或者 USB 線是否連接正常。
三是 USB 驅(qū)動(dòng)安裝有問題。 在 我的電腦→右擊屬性→硬件→設(shè)備管理器，在通用串行
總線控制器列表中尋找 zlglogic 設(shè)備，如果沒有此設(shè)備則證明確實(shí)是以上所陳述的兩種原因。
如果發(fā)現(xiàn)有一個(gè)前面打問號(hào)的 zlglogic 設(shè)備，則說明肯定是驅(qū)動(dòng)沒有安裝好，此時(shí)的解決方法是進(jìn)行強(qiáng)制驅(qū)動(dòng)安裝，您可在我們的網(wǎng)站上下載強(qiáng)制驅(qū)動(dòng)安裝文件并進(jìn)行手動(dòng)安裝。
四還是供電不足的問題，如果在設(shè)備管理器里查看設(shè)備的時(shí)候可以看到這個(gè)設(shè)備，而且前面沒有問號(hào)，那就有可能是供電不足的問題，此時(shí)插上電源適配器，看是否在線。
五是軟件被攔截。如果以上四個(gè)原因都已經(jīng)排除， 則有可能是殺毒軟件或者防火墻軟件等高安全系數(shù)將邏輯分析儀的軟件攔截了。將此類軟件先禁用，看問題是否可以解決。
六， 臺(tái)式機(jī)前面的 USB 口和后面的 USB 口的信號(hào)完整性不同，如果問題無法解決就換到后面的 USB 口試試，因?yàn)楹竺娴?USB 口是直接從主板上引出來的。
2.2 采集不到數(shù)據(jù)或者采集到錯(cuò)誤數(shù)據(jù)
若邏輯分析儀已經(jīng)處于在線狀態(tài)情況下， 信號(hào)線卻沒有任何反應(yīng)，則首先應(yīng)檢查測量線是否已經(jīng)連接在有信號(hào)的被測信號(hào)上，如果確定有輸入的信號(hào)，則應(yīng)該檢查接地是否良好，常常會(huì)因?yàn)闆]有接地良好，后導(dǎo)致信號(hào)無法正常采集。 甚至有時(shí)候被采集系統(tǒng)已經(jīng)斷電了，
但邏輯分析儀仍然采集到了數(shù)據(jù)，這也是因?yàn)榈鼐€沒有接好。所以信號(hào)采集出現(xiàn)問題時(shí)應(yīng)首先檢查地線是否接好。
2.3 邏輯分析儀測量線在懸空時(shí)測得的數(shù)據(jù)
邏輯分析儀（除 LA5034）的測量線在懸空（即不接任何負(fù)載）的情況下，測得的信號(hào)將是高電平。而 LA5034 的測量線在懸空時(shí)。測得的信號(hào)電平的狀態(tài)跟門限電壓的設(shè)置相關(guān)，處于不定態(tài)。
2.4 邏輯分析儀通道有電壓輸出，會(huì)不會(huì)影響設(shè)備？
用萬用表測量邏輯分析儀測量通道的輸出，有 2.6V 左右的電壓，會(huì)不會(huì)對(duì)設(shè)備提供上拉并造成影響？
問題解答： 邏輯分析儀的測量通道直接接到高速比較器輸入端，有可能由于比較器存在漏電流而產(chǎn)生漏電壓。
通過仔細(xì)測試，結(jié)果如下： A、 B 口對(duì)外的電壓是高速比較器的漏電流產(chǎn)生的，有 5uA左右的電流，這個(gè)漏電流在業(yè)界已經(jīng)很小， 經(jīng)測量，邏輯分析儀正向輸入電阻為 50M，反向輸入電阻為 5M。只要被測對(duì)象的輸出內(nèi)阻小于 500K 就不會(huì)對(duì)被測對(duì)象造成任何影響。
因?yàn)槿f用表的輸入阻抗大概有 10M 左右，所以能夠測量出電壓。一般我們設(shè)備輸出電阻都是很小的，如一個(gè) 5V 的 TTL 器件，其輸出電流一般有 10mA～20mA 以上，輸出電阻為5V/10mA=500 歐姆以下，只要你的輸出電流能夠大于 5uA 就不會(huì)對(duì)你的設(shè)備造成影響，所廣州致遠(yuǎn)電子有限公司
以對(duì)于一般的應(yīng)用不會(huì)造成影響的。
2.5 邏輯分析儀在使用 Timing_state 模式時(shí)不能將 32 根測量線全部接入
由于在使用 Timing_state 模式時(shí)，有一根測量線是用來存儲(chǔ)壓縮數(shù)據(jù)的，所以在使用Timing_state 模式時(shí)，多只能使用 31 根測量線。
2.6 軟件觸發(fā)對(duì)話框出現(xiàn)亂碼
安裝完軟件后在觸發(fā)設(shè)置菜單里面出現(xiàn)亂碼，如下圖所示。
問題解答： 在觸發(fā)設(shè)置窗口區(qū)域內(nèi)點(diǎn)擊鼠標(biāo)右鍵，選擇“編碼→簡體中文”選項(xiàng)即可，如下圖所示。如果還不行，可將“自動(dòng)選擇” 選項(xiàng)勾選上，然后再選擇“簡體中文”，多試兩次一定能夠解決問題。
2.7 邏輯分析儀能采樣多長時(shí)間
這個(gè)問題要分兩種情況來分析，一種是采用定時(shí)采樣（timing），第二種是采用動(dòng)態(tài)采樣（timing-state）。
一、定時(shí)采樣（timing）
定時(shí)采樣能采集的時(shí)間長短與采樣頻率和存儲(chǔ)深度有關(guān)，每一個(gè)存儲(chǔ)單元存儲(chǔ)對(duì)應(yīng)的時(shí)間為采集時(shí)鐘的周期。設(shè)采樣頻率為 Fc，每通道存儲(chǔ)容量為 M，則邏輯分析儀能夠持續(xù)的
采樣時(shí)間為：T = M × 1/Fc
舉例說明，使用 LA2532 邏輯分析儀，采樣頻率為 100MHz，則采樣時(shí)間為：T = 1Mbits × 1/100MHz = 1048576 × 10ns ≈ 10.5ms
即 1Mbits 存儲(chǔ)深度 100MHz 采樣頻率能采集 10ms 長度的信號(hào)。因此邏輯分析儀的型號(hào)一但確定，那么采集時(shí)間只與采集頻率有關(guān)。
二、動(dòng)態(tài)采樣（timing-state）
動(dòng)態(tài)采樣（timing-state）是 LAB7000、 LAB6000、 LA2000A 系列邏輯分析儀*的采樣模式。 當(dāng)邏輯分析儀的硬件確定后，采樣時(shí)間只與被采集信號(hào)的變化率有關(guān)。被采樣信號(hào)頻率越低，能采樣的時(shí)間就越長。
如果您想在不升級(jí)硬件的基礎(chǔ)上增大采樣時(shí)間，您可以通過適當(dāng)降低定時(shí)采樣率或者將采樣設(shè)置里的 timing-state 選項(xiàng)勾選上，一般情況下都是可以大大增加采樣時(shí)間的，但這是跟被采樣信號(hào)的變化率息息相關(guān)的，被采樣信號(hào)變化率越低，可以增加的采樣時(shí)間就越長。
但如果采取這些措施后仍然無法滿足時(shí)間需求，您就只能對(duì)硬件進(jìn)行升級(jí)了。 即購買更高型號(hào)的邏輯分析儀，從而增大每通道的存儲(chǔ)深度，從根本上解決采樣時(shí)間的問題。
2.8 關(guān)于狀態(tài)優(yōu)先和位置優(yōu)先的理解
位置優(yōu)先： 位置優(yōu)先模式保證了觸發(fā)點(diǎn)一定會(huì)落在用戶的觸發(fā)位置上。如圖所示。
從圖中可以看出，用戶設(shè)置的觸發(fā)位置為 xx%，當(dāng)啟動(dòng)邏輯分析儀采集時(shí)，數(shù)據(jù)會(huì)馬上被采集并存入存儲(chǔ)器中，在數(shù)據(jù)末存滿到的觸發(fā)位置前，即使有出現(xiàn)符合觸發(fā)條件的觸發(fā)信號(hào)，它也不會(huì)觸發(fā)的，只有當(dāng)數(shù)據(jù)存滿至用戶設(shè)置的觸發(fā)位置后，出現(xiàn)符合觸發(fā)條件
的信號(hào)才會(huì)觸發(fā)。
狀態(tài)優(yōu)先： 狀態(tài)優(yōu)先不能保證觸發(fā)點(diǎn)一定會(huì)落在用戶的觸發(fā)位置上。它符合觸發(fā)條件的觸發(fā)信號(hào)的出現(xiàn)有關(guān)，如圖所示。
從圖中可以看出，然后用戶設(shè)置的觸發(fā)位置為 xx%，但是實(shí)際的觸發(fā)位置確是在前面，也即是只要有符合觸發(fā)條件的信號(hào)，它就會(huì)立即觸發(fā)，而不管是否到了用戶設(shè)置的觸發(fā)位置。
當(dāng)然狀態(tài)優(yōu)先也有可能會(huì)存在觸發(fā)點(diǎn)剛好在觸發(fā)位置上的情況，當(dāng)數(shù)據(jù)存滿到用戶觸發(fā)位置前沒出現(xiàn)符合觸發(fā)條件的信號(hào)，那么它的觸發(fā)點(diǎn)將會(huì)落在觸發(fā)位置上，如下圖所示。
狀態(tài)優(yōu)先的存在是為了避免錯(cuò)過出現(xiàn)機(jī)率較少的觸發(fā)條件，假若只使用位置優(yōu)先，觸發(fā)條件只出現(xiàn)一次，且出現(xiàn)在數(shù)據(jù)存滿觸發(fā)位置之前，那么該觸發(fā)將捕抓不到，造成無觸發(fā)的錯(cuò)誤分析。
上面分析所講的存儲(chǔ)空間，其地址和觸發(fā)位置都是相對(duì)的，并不是存儲(chǔ)器的物理地址，這點(diǎn)要注意。另外為了便于理解，你可以認(rèn)為當(dāng)數(shù)據(jù)存到觸發(fā)位置時(shí)，之后每存一個(gè)數(shù)據(jù)，先存的那個(gè)數(shù)據(jù)就丟掉，這樣觸發(fā)位置就一直保持在用戶設(shè)置的觸發(fā)位置點(diǎn)上，只需
等待符合觸發(fā)條件的信號(hào)到達(dá)就可以繼續(xù)往前存儲(chǔ)了，直到存滿存儲(chǔ)器。
2.9 關(guān)于邏輯分析儀觸發(fā)次數(shù)的理解
邏輯分析儀采集數(shù)據(jù)直到存儲(chǔ)器滿才能觸發(fā)一次，即觸發(fā)一次后，如果還有觸發(fā)信號(hào)到來時(shí)，它并不會(huì)提示觸發(fā)，但會(huì)繼續(xù)記錄數(shù)據(jù)，直至此次采集數(shù)據(jù)完成。因此并不是一有觸發(fā)信號(hào)觸發(fā)次數(shù)就會(huì)增加。
2.10 UART 不能進(jìn)行插件觸發(fā)
UART 的分析，實(shí)質(zhì)上是由邏輯分析儀對(duì)信號(hào)進(jìn)行抽樣分析，分析檢測原理和 UART接收器一樣，需要 16 倍 UART 波特率以上的采樣頻率才能正確解析。因此要求邏輯分析儀的采樣頻率至少要是 UART 波特率的 16 倍以上才能正確的進(jìn)行插件分析和插件觸發(fā)。如采
115200bps 的信號(hào)，則至少要用 2MHz 的采樣頻率。
2.11 以 CSV 格式導(dǎo)出的文件中 Time 間隔不一樣
在邏輯分析儀采集完數(shù)據(jù)后， 這些數(shù)據(jù)往往需要被導(dǎo)出并進(jìn)行二次利用。因此我們的軟件具有數(shù)據(jù)導(dǎo)出功能，可以以 CSV 格式或者二進(jìn)制文件格式進(jìn)行導(dǎo)出。
以CSV文件格式導(dǎo)出后的結(jié)果如下圖所示，其中Time的時(shí)間是狀態(tài)變化的時(shí)刻的時(shí)間，只要信號(hào)變化不大，則時(shí)間也不會(huì)改變，因此時(shí)間欄的時(shí)間不是等長的。
然而， 保存成 Bin 格式文件時(shí)，它是按 Timing 格式保存，也即是不管壓不壓縮，都按32位（因?yàn)橛?2個(gè)通道）采樣點(diǎn)來保存，即兩數(shù)據(jù)間的時(shí)間是等長的；如采樣頻率為100MHz，則兩個(gè)數(shù)據(jù)之間的間隔為 10nS。
2.12 CAN 總線測量方案
由于我們的邏輯分析只能測量單端信號(hào)，而 CAN 總線是差分信號(hào)，所以只能單獨(dú)測CAN 總線的 CANH 或者 CANL，不能同時(shí)測量兩根信號(hào)（若要同時(shí)測也有辦法，見下述第三種測量方式）。根據(jù) CAN 的電平屬性（CANH 平時(shí)為 2.5V，高時(shí)為 4~5 伏， CANL 平時(shí)
為 2.5V，低時(shí)為 0V），所以 CAN 總線有三種測量方式。
一種測量方式，邏輯分析儀的地線接系統(tǒng)地，其中一通道接 CANH，然后設(shè)置邏輯分析的比較門限電平為 3V 左右就可以。
第二種測量方式，系統(tǒng)地沒引出來，邏輯分析儀的地線接 CANL，測量通道接 CANH，這種方式要特別注意，由于 PC 地(即邏輯分析儀地)與被測系統(tǒng)地是共地的，所以需要做隔
離，這個(gè)要特別注意，操作方法如下，需要用筆記本電腦測，而且電腦不能接外置電源，以保證隔離效果。
第三種測量方式，同時(shí)測 CANL 和 CANH，邏輯分析儀的 PODA，和 PODB 的比較電壓是可以單獨(dú)調(diào)的，這時(shí)我們可以用 PODA 的測量通道接 CANH，并且設(shè)置 PODA 的比較電平設(shè)為 3V 左右。用 PODB 的測量通道接 CANL，并且設(shè)置 PODB 的比較電平為 1.5V 左
右。這樣就可以同時(shí)觀測兩個(gè)信號(hào)。
2.13 邏輯分析儀保存的文件不能打開
以前用邏輯分析儀保存的文件，現(xiàn)在打不開。
問題解答： 以前的軟件（3.x 版本）和現(xiàn)在的軟件（4.x 版本）的架構(gòu)是不同的，保存的文件格式是不兼容的，所以會(huì)出現(xiàn)上述問題。只能用回舊的軟件來打開文件。
2.14 IIC 插件分析錯(cuò)誤碼
IIC 插件分析每次分析結(jié)果都不一樣，而數(shù)據(jù)實(shí)際上是一樣的，如下圖所示，兩個(gè)圖的IIC 數(shù)據(jù)目測都能看得出來 IIC 地址都是 0x2A 是一樣的，而分析結(jié)果有時(shí)確是錯(cuò)誤的。
問題解答： IIC插件分析是根據(jù)SCL信號(hào)跳變來判斷的，如果分析的數(shù)據(jù)中出現(xiàn)有毛刺，極有可能會(huì)造成協(xié)議分析錯(cuò)誤。這里可將數(shù)據(jù)放大，觀察 SCL 信號(hào)線的邊沿附近是否有毛
刺。將上面協(xié)議分析錯(cuò)誤部分放大，如下圖所示，確實(shí)可以觀察到有毛刺存在，從而導(dǎo)致協(xié)議分析錯(cuò)誤。
由于 IIC 總線的時(shí)鐘頻率比較低，因此可以通過降低采樣頻率來解決協(xié)議分析錯(cuò)誤的問題，或者打開軟件濾波將毛刺過濾掉，使插件解碼正確。
2.15 RS485 總線測量方案
使用單端采樣方式進(jìn)行分析；
分析過程： RS-485 的協(xié)議和 RS-232 是一樣的，只不過電平特性是差分的，因?yàn)槲覀兊倪壿嫹治鲋荒軠y量單端信號(hào)，因此只能單獨(dú)測 RS-485 總線的 A 端或 B 端。因?yàn)?RS485 協(xié)議規(guī)定當(dāng)在接收端 A-B 之間有大于+200mV 的電平時(shí)，輸出為正邏輯電平；小于-200mV 時(shí)，
輸出為負(fù)邏輯電平。單端信號(hào)線的協(xié)議和 UART 協(xié)議是一樣的，因此可以對(duì) A 端數(shù)據(jù)進(jìn)行UART 分析，邏輯分析儀的地線接設(shè)備系統(tǒng)地。如果不知哪個(gè)是 A 端，可以先用邏輯分析進(jìn)行預(yù)采樣判斷， A、 B 端都接到邏輯分析儀，然后進(jìn)行采樣，如下圖所示，空閑時(shí)為高電
毛刺平的線的為 A 端。
通訊參數(shù)的設(shè)置和 UART 協(xié)議一樣。分析的結(jié)果如下圖所示：
注意事項(xiàng)： 由于差分信號(hào)根據(jù)系統(tǒng)的不同及傳輸距離的的長度不同，電壓幅值范圍不定。
因此分析之前要調(diào)整好邏輯分析的比較電壓，以確保能夠正確采樣到數(shù)據(jù)。如果有必要的話可以先用示波器測量 A 端的信號(hào)幅值范圍，然后再確定一個(gè)中間比較值，如果沒有示波器的話，可以用默認(rèn)的 1.5V 比較電平進(jìn)行采樣，然后按照已采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行協(xié)議分析，如果
不正確的話則要重新調(diào)整比較電壓，直到正確分析為止。
如果能保證設(shè)備的地和 PC 的地是隔離的，也可以用邏輯分析儀的測試通道接 A 端，邏輯分析儀的地線接 B 端進(jìn)行測量分析（注意：設(shè)備的地和 PC 的地是一定要是隔離的才能這么接，否則可能會(huì)損壞設(shè)備）。
2.16 SPI、 IIC、 SSI 具有時(shí)鐘信號(hào)數(shù)據(jù)分析錯(cuò)誤問題描述： SPI、 IIC、 SSI 等具有 CLK 時(shí)鐘信號(hào)的協(xié)議，在分析數(shù)據(jù)時(shí)。在不夠位數(shù)的情況下分析出數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)分析混亂，出錯(cuò)。
問題分析： 出現(xiàn)此種情況一般是由于 CLK 信號(hào)出現(xiàn)毛刺造成的。 例如，在此圖中 0xC 是 8bit 位的是 5 個(gè) CLK 信號(hào)就顯示出來， 其錯(cuò)位原因主要是因?yàn)樵谏蠄D畫紅線的地方出現(xiàn)了毛刺。放大前兩個(gè)時(shí)鐘部分分別是：
解決辦法：
1、在采集數(shù)據(jù)時(shí)開啟數(shù)據(jù)濾波（部分邏輯分析儀支持）
2、降低采樣頻率（此方法可以降低，但是還是有一定的幾率）
3、微調(diào)門限電壓
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