布魯克光學(xué)輪廓儀ContourX-200融合了高級(jí)表征、可定制選項(xiàng)和易用性，可提供快速、準(zhǔn)確和可重復(fù)的非接觸式三維表面計(jì)量方法。該設(shè)備作為可用于計(jì)量的小尺寸系統(tǒng)，配置了大視場的5百萬像素?cái)z像頭和新型電動(dòng)XY載物臺(tái)，可提供高性能的的2D / 3D高分辨率測量功能。

ContourX-200還配有業(yè)界*進(jìn)的操作和分析軟件Vision64。VisionXpress™提供了更易于使用的界面和簡潔的功能，可訪問多種預(yù)編程濾鏡和分析工具，用于精密加工的表面，薄膜，半導(dǎo)體，眼科，醫(yī)療設(shè)備，MEMS和摩擦學(xué)等領(lǐng)域的測量分析，可用于表面粗糙度，RDL進(jìn)封裝工藝厚度等測試。

布魯克光學(xué)輪廓儀ContourX-200測量與分析功能

·易于使用的界面，可快速準(zhǔn)確地獲得結(jié)果

·自動(dòng)化功能用于日常測量和分析

·*泛的濾鏡和分析工具選項(xiàng)，用于粗糙度和關(guān)鍵尺寸測量分析

·滿足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標(biāo)準(zhǔn)在內(nèi)的定制化分析報(bào)告

*進(jìn)計(jì)量設(shè)備

·基于超過四十年的專有WLI創(chuàng)新，ContourX-200光學(xué)輪廓儀展現(xiàn)出定量計(jì)量所需的低噪聲、快速、精度的準(zhǔn)確結(jié)果。

·通過使用多個(gè)鏡頭和集成的特征識(shí)別功能，設(shè)備可以在各種視野內(nèi)以亞納米垂直分辨率跟蹤特征，可用于各種不同行業(yè)中的質(zhì)量控制和過程監(jiān)控應(yīng)用。

·ContourX-200對于反射率從0.05％到100％的各種表面都非常易于測量。

高性能表面計(jì)量

·放大倍率無關(guān)的Z軸分辨率

·大尺寸的標(biāo)準(zhǔn)視場

·穩(wěn)定集成防震設(shè)計(jì)