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MPROBE 50 INSITU 原位薄膜厚度測(cè)量?jī)x
- 公司名稱(chēng) 上海昊量光電設(shè)備有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) MPROBE 50 INSITU
- 產(chǎn)地 國(guó)外
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2022/4/13 10:12:33
- 訪問(wèn)次數(shù) 1399
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激光器調(diào)制器,激光測(cè)量加工設(shè)備,光學(xué)部件,光譜儀,光纖器件,晶體,精密定位系統(tǒng)掃描系統(tǒng),探測(cè)器光子計(jì)數(shù)器,專(zhuān)用實(shí)驗(yàn)設(shè)備,相機(jī)
產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 生物產(chǎn)業(yè),電子,綜合 | 原位薄膜厚度測(cè)量?jī)x | MPROBE 50 INSITU |
原位薄膜厚度測(cè)量?jī)x
原位薄膜厚度測(cè)量?jī)x用于測(cè)量薄膜厚度和 n&k(光學(xué)常數(shù))的實(shí)時(shí)光學(xué)測(cè)量?jī)x。該系統(tǒng)可以在高環(huán)境光下工作,因?yàn)樗褂瞄T(mén)控?cái)?shù)據(jù)采集,使用高強(qiáng)度閃光氙燈在寬帶 ( UV-NIR) 波長(zhǎng)范圍內(nèi)進(jìn)行精確測(cè)量。MProbe 50 系統(tǒng)是*可定制的,以支持不同的真空室幾何形狀。根據(jù)可用的光學(xué)端口,可以使用斜入射或垂直入射。光可以聚焦在樣品表面或準(zhǔn)直。反射探頭可以放置在沉積室光學(xué)端口的外部或內(nèi)部(使用光纖饋通)。MProbe 50 系統(tǒng)沒(méi)有活動(dòng)部件。典型測(cè)量時(shí)間~10ms??梢钥焖倏煽康販y(cè)量任何半透明薄膜。
優(yōu)勢(shì):
1.原位薄膜厚度和 n&k 測(cè)量
2.用于高環(huán)境光環(huán)境下測(cè)量的門(mén)控?cái)?shù)據(jù)采集
3.材料:500+ 擴(kuò)展材料數(shù)據(jù)庫(kù)
4.連續(xù)、快速和可靠的測(cè)量
5.靈活的配置——*定制以匹配沉積室的幾何形狀
選型列表:
MProbe50 | 波長(zhǎng)范圍 | 厚度范圍 |
VIS | 400nm -1100nm | 15nm – 20 μm |
HRVIS | 700nm-1000nm | 1μm-400μm |
NIR | 900nm-1700nm | 100nm – 200μm |
UVVisF | 200nm -900nm | 1nm – 20μm |
UVVISNIR | 200nm-1700nm | 1nm -200μm |
XT | 1590nm -1650nm | 10μm-1mm |
關(guān)于昊量光電:
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