FSD-200 型薄膜表面在線檢測(cè)儀

SUNPLUS 薄膜表面在線檢測(cè)儀的用途

▲實(shí)時(shí)檢測(cè)薄膜的表面疵點(diǎn)，如魚(yú)眼、污點(diǎn)、雜質(zhì)、破洞、斑塊、條紋等。

▲薄膜材質(zhì)可以是PP、PE、PVC 或其它樹(shù)酯膜。

▲對(duì)透明薄膜的檢測(cè)，是本系統(tǒng)的特點(diǎn)所在，但也可以檢測(cè)其它不透明膜。

SUNPLUS 薄膜表面在線檢測(cè)儀的適用標(biāo)準(zhǔn)

GB6595-86、ASTM 3351-93、GB/T 4611-2008、GB/T 11115-2009，or any

standard, depending on film or resin material.

Model FSD-200 Film Surface Detector

技術(shù)指標(biāo)

1. 適用薄膜寬度： 210mm 及以下.

2. 最小檢測(cè)目標(biāo)：0.1mm， 需更小時(shí)可選用不同的CCD

3. 檢測(cè)精度：最大分辯 30μm，需更小時(shí)可選用不同的CCD

4. 檢測(cè)元件：面陣CCD

5. 薄膜移動(dòng)速度： 18m/min 以下。

6. 通訊接口： RS232/RS485/Ethernet/USB

7. 光源：LED 冷光源30W

8. 電源： 220VAC 50Hz

9. 外形尺寸(長(zhǎng)ⅹ寬ⅹ高)： upper unit: 230mmⅹ131mmⅹ108mm

儀器功能特點(diǎn) Application Highlights

1. 實(shí)時(shí)檢測(cè)薄膜的疵點(diǎn)大小、數(shù)量和分類(lèi)統(tǒng)計(jì)

2. 可以檢測(cè)薄膜的邊界尺寸

3. 界面顯示薄膜面的實(shí)測(cè)狀況及圖像

4. 界面圖像可放大縮小以便于觀測(cè)目標(biāo)點(diǎn)的細(xì)節(jié)

5. 檢測(cè)結(jié)果可儲(chǔ)存，可打印

6. 按要求的檢測(cè)表格輸出，并包含產(chǎn)品的生產(chǎn)信息

7. 檢測(cè)表格的項(xiàng)目可編輯修改，以確定合格的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)定

8. 歷史數(shù)據(jù)和圖表可分類(lèi)顯示及趨勢(shì)

9. 精巧的設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)。小型化現(xiàn)場(chǎng)安裝，外形結(jié)實(shí)美觀