DEKTAK XT布魯克臺(tái)階儀/表面輪廓儀
- 公司名稱 深圳市新瑪科技有限公司
- 品牌 Alicona/奧地利
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/1/28 17:00:44
- 訪問(wèn)次數(shù) 1934
DEKTAK XT布魯克臺(tái)階儀布魯克表面輪廓儀德國(guó)Bruker DEKTAK XTDEKTAK XT臺(tái)階儀
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示波器,電子負(fù)載,熱像儀,邏輯分析儀,頻譜分析儀,數(shù)據(jù)采集器,安規(guī)綜合測(cè)試儀,交直流電源,電磁兼容EMC測(cè)試和EMC整改的解決方案,
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,能源,電子,電氣 |
DEKTAKXT布魯克臺(tái)階儀/探針式表面輪廓儀)可以提供更高的重復(fù)性和分辨率,測(cè)量重復(fù)性可以到5?。臺(tái)階儀這項(xiàng)性能的到了過(guò)去四十年Dektak技術(shù),更加鞏固了其行業(yè)。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測(cè)量,通過(guò)在研究工作中的廣泛使用,DektakXT能夠做到功能更強(qiáng)大,操作更簡(jiǎn)易,檢測(cè)過(guò)程和數(shù)據(jù)采集更完善。第十代DektakXT臺(tái)階儀(探針式表面輪廓儀)的技術(shù),使納米尺度的表面輪廓測(cè)量成為可能,從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件,半導(dǎo)體,電池,高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域。
DEKTAKXT布魯克臺(tái)階儀/探針式表面輪廓儀)
1、使用溫度條件:10-30℃;
2、臺(tái)階高度重現(xiàn)性低于4A
3、Single-arch設(shè)計(jì)提供掃描穩(wěn)定性
4、*的“智能電子器件”設(shè)立了新低噪音基準(zhǔn)
5、新硬件配置使數(shù)據(jù)采集時(shí)間縮短
6、64-bit,Vision64同步數(shù)據(jù)處理軟件,使數(shù)據(jù)分析速度高了10倍
7、頻率,操作簡(jiǎn)易
8、直觀的Vision64用戶界面,操作簡(jiǎn)易
9、針尖自動(dòng)校準(zhǔn)系統(tǒng)
1968年臺(tái)階儀DektakⅠ面世以來(lái),迄今已有50多年的發(fā)展歷程。通過(guò)整合技術(shù),突破創(chuàng)新,Dektak系列臺(tái)階儀已經(jīng)來(lái)到了第十代,目前我們主要有兩種型號(hào):桌面式DektakXT(圖1),樣品兼容可到8寸;另外一款是集成了防震臺(tái)一體化的落地式DektakXTL,它的兼容樣品可以達(dá)到12寸(圖2)。布魯克第十代Dektak產(chǎn)品在過(guò)去五十年不斷的技術(shù)創(chuàng)新,得到眾多使用客戶的認(rèn)可。
DektakXT是使用single-arch設(shè)計(jì)的探針輪廓儀,single-arch設(shè)計(jì)及智能電子器件,大大改善了設(shè)備穩(wěn)定性,進(jìn)一步提高防震性能。DektakXT在測(cè)量臺(tái)階高度重復(fù)性方面具有優(yōu)異的表現(xiàn),臺(tái)階高度重復(fù)性可低于4?。使用single-arch結(jié)構(gòu)比原先的懸臂梁設(shè)計(jì)更加穩(wěn)固,降低了對(duì)不利環(huán)境條件的敏感性,如聲音和震動(dòng)噪音。
對(duì)多用戶儀器而言,能快速輕松更換探針以適應(yīng)不同應(yīng)用是必要的。Dektak臺(tái)階儀的轉(zhuǎn)接頭和探針通過(guò)強(qiáng)磁吸附進(jìn)行連接,在探針更換工具的配合下,更換探針簡(jiǎn)單、方便、易操作(圖3)。DektakXT新的針尖自動(dòng)校準(zhǔn),消除任何潛藏的針尖更換/校準(zhǔn)隱患。這一技術(shù)讓其他困難并耗時(shí)的任務(wù)變得輕松且快速。為盡量滿足使用的要求,Bruker提供了范圍廣泛的標(biāo)準(zhǔn)和客戶定制探針規(guī)格,包括用于深溝渠測(cè)量的高徑比針尖。
作為探針式表面輪廓儀核心的部件—傳感器,DektakXT采用LVDT傳感器原理,即LinearVariableDifferentialTransformer線性可變差動(dòng)變壓器(圖4),其優(yōu)勢(shì)包括:無(wú)摩擦測(cè)量、延長(zhǎng)機(jī)械壽命、提高分辨率、零位可重復(fù)性、軸向、堅(jiān)固耐用、環(huán)境適應(yīng)性、輸入/輸出隔離。
數(shù)據(jù)采集和分析速度
直接驅(qū)動(dòng)掃描平臺(tái),DektakXT減少了掃描間的時(shí)間,而沒(méi)有影響分辨率和背景噪聲。這一改進(jìn)大范圍掃描3D形貌或者對(duì)于表面應(yīng)力長(zhǎng)程掃描(就探針輪廓儀而言,通常是耗時(shí)的)的掃描速度。在行業(yè)的質(zhì)量和重現(xiàn)性前提下,DektakXT可以將數(shù)據(jù)采集處理的速度。另外,DektakXT采用Bruker64-bit數(shù)據(jù)采集分析同步操作軟件Vision64,它可以大范圍3D形貌圖的高數(shù)據(jù)量處理速度,并且可以加快濾波器的工作速度和多模式掃描是的數(shù)據(jù)分析。Vision64還具有行業(yè)內(nèi)的直觀用戶界面,簡(jiǎn)化了實(shí)驗(yàn)操作設(shè)置,自動(dòng)完成多掃描模式,讓重復(fù)和常規(guī)的實(shí)驗(yàn)操作變得更快速簡(jiǎn)潔。。