| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 應用領(lǐng)域 | 生物產(chǎn)業(yè),能源,電子,電氣 |
|---|
Thorlabs 剪切干涉儀 25.4-50 mm光束直徑
提供5種型號，光束直徑范圍從1到50 mm
定性地確定光的準直性
磁鐵球?qū)骞潭ㄔ诘鬃?/span>
適用的光束直徑刻在板上
根據(jù)所用剪切板的不同，剪切干涉儀可用于直徑小到1 mm、大到50 mm的入射光。剪切干涉儀產(chǎn)生的干涉條紋對光束發(fā)散很敏感，因此可以用來定性地確定光是否準直。如右圖所示，剪切板有三個鋼球，以磁性吸附的方式固定在板的底部。當采用不同直徑的光束時，這種磁性固位機制易于更換不同的平板。
30 mm籠桿固定在SI254剪切干涉儀的輸出端上
Thorlabs 剪切干涉儀 25.4-50 mm光束直徑
此外，底板的背面鉆有通孔，因此可以使得透射光通過楔形光學平板繼續(xù)毫 wu 阻 ai 地傳播。除了SI500，所有型號的通孔均為SM1螺紋(1.035"-40)。SI500的通孔為?2.95英寸(?75 mm)滑孔。底板、散射屏和剪切板包裝在一個手提箱內(nèi)。
請注意由于SI100、SI254和SI500剪切板的厚度原因，剪切板的后表面會超出安裝板(如右圖所示)。因此，當插入或者移除這些板的時候要格外小心，尤其是安裝了SICP或者SICPSM1籠式轉(zhuǎn)接板的情況下。
規(guī)格
| Item # | Wedge Angle | Diameter | Diameter Tolerance | Thickness | Thickness Tolerance | Approximate ΔOPLa |
|---|---|---|---|---|---|---|
| SI035P | 117 arcsec | 7.94 mm | +0/-0.25 mm | 0.75 mm | ±0.25 mm | 1.9 mm |
| SI050P | 83 arcsec | 12.7 mm | +0/-0.25 mm | 1.30 mm | ±0.25 mm | 3.3 mm |
| SI100P | 40 arcsec | 15.60 mm | +0/-0.25 mm | 2.60 mmb | ±0.25 mm | 6.6 mm |
| SI254P | 18 arcsec | 38.00 mm | +0/-0.25 mm | 6.35 mmb | ±0.25 mm | 16.2 mm |
| SI500P | 10 arcsec | 78.00 mm | +0/-0.25 mm | 13.00 mmb | ±0.25 mm | 33.1 mm |
a. 為了確保能產(chǎn)生干涉，請檢查所用的光源的有效相干長度大于光程長(ΔOPL)的近似變化。當使用光源的相干長度達到ΔOPL的幾倍，干涉條紋的對比度會下降。一旦相干長度接近ΔOPL，就是在對非相干光有效成像。假設(shè)平行反射表面被厚度分開，針對UVFS(n=1.457@632.8 nm)計算的ΔOPL列在上表中。
b. 由于光學元件的厚度，剪切儀的背面會超出安裝板。因此，在插入或移除這些板的時候，尤其是安裝了SICP和SICPSM1這些籠式轉(zhuǎn)接件時，要格外小心。
| Item # | Included Platea | Beam Diameter for Included Plateb | Compatible Plates | Compatible Accessories | Threaded Mounting Holes | Dimensions (L x W x H) |
|---|---|---|---|---|---|---|
| SI035 | SI035P | 1 - 3 mm | SI035P, SI050P, SI100P, and SI254P | SIVS, SITST, SICP, SICPSM1 | 8-32 and M4 | 50.8 mm x 48.3 mm x 55.9 mm |
| SI050 | SI050P | 2.5 - 5 mm | ||||
| SI100 | SI100P | 5 - 10 mm | ||||
| SI254 | SI254P | 10 - 25.4 mm | SIVSc, SICP, SICPSM1 | |||
| SI500 | SI500P | 25.4 - 50 mm | SI500P | None Available | 1/4"-20 and M6 | 116.8 mm x 133.4 mm x 134.6 mm |
a. 楔形板用UVFS制成
b. 帶有不同楔形角的不同板可以提供不同大小的光束。這是優(yōu)化特定光束直徑的板之間距離，從而產(chǎn)生干涉條紋。
c. SIVS是設(shè)計用來觀察由小直徑光束產(chǎn)生的條紋。雖然它與SI254兼容，但沒必要和SI254一起使用，因為SI254就是用來觀察大直徑光束。
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