FPCON-toolinspect 表面粗糙度測量儀
- 公司名稱 孚光精儀(中國)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 FPCON-toolinspect
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2024/8/27 10:48:11
- 訪問次數(shù) 509
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,電氣,綜合 |
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表面粗糙度測量儀可高精度測試分析各種表面,可用作臺階儀,納米表面形貌儀器。
表面粗糙度測量儀TOOLinspect測量系統(tǒng)是用于測量功能表面的工業(yè)解決方案。獲得**的共焦顯微鏡和焦點變化的結(jié)合,使得在3D中測量和分析各種各樣的表面成為可能。共焦測量技術(shù)支持標(biāo)準(zhǔn)可追蹤表面測量,測量范圍可達(dá)一位數(shù)納米。焦點變化也可以測量陡峭側(cè)面(例如刀具)上的幾何圖形。
復(fù)雜的測量任務(wù)被編程為自動直觀的“示教”測量計劃。因此,即使沒有編程技能的用戶也可以可靠地執(zhí)行新任務(wù),并以協(xié)議格式獲得測量結(jié)果。這些顯示為目標(biāo)/實際比較,偏差以簡單的紅綠燈顏色突出顯示。
表面粗糙度測量儀TOOLinspect測量系統(tǒng)有不同的設(shè)備尺寸,因此可以適應(yīng)各種測量任務(wù)。300 mm長和330 mm高的零件安裝在堅固且減振的機(jī)架上。
表面粗糙度測量儀測量功能:
基于DIN EN ISO 4287/4288和13565的粗糙度測量輪廓,以及基于DIN ISO EN 25178的面積
形狀和輪廓:角度、高度、寬度、半徑、目標(biāo)/實際比較等。
符合DIN EN ISO 25178的功能容積參數(shù)(如Vmp、Vmc、Vvc、Vvv參數(shù))
刃口測量:刃口質(zhì)量、刃口圓角半徑、形狀、K系數(shù)、高度缺陷
刀具磨損
臺階高度–即使是透明層
紋理方向/各向同性,主要波紋度
表面粗糙度測量儀亮點
高精度測量,精確到一位數(shù)納米范圍
反射、透明和漫反射表面的測量
聯(lián)合測量方法:共焦測量技術(shù)和焦距變化
通過縫合測量的大測量場
與激光掃描顯微鏡相比,由于技術(shù)上可忽略的相干性和散斑效應(yīng),無偽影測量
wan全透明的數(shù)據(jù)——可以查看每個測量點的原始數(shù)據(jù)
粗糙度可根據(jù)國家標(biāo)準(zhǔn)測量機(jī)構(gòu)KA3/可驗證的粗糙度測量(例如,可根據(jù)可驗證的粗糙度測量機(jī)構(gòu)KNT/可驗證的粗糙度測量機(jī)構(gòu))確定
用戶友*、直觀、可擴(kuò)展的測量軟件
簡單處理:3次點擊測量,1次點擊評估
測量時間短:可采用與輪廓設(shè)備類似的方式記錄輪廓(根據(jù)DIN EN ISO 3274)。
通過快速區(qū)域掃描對表面特征進(jìn)行二維和三維表征
表面粗糙度測量儀特點
垂直分辨率高達(dá)一位數(shù)納米級
三維高精度表面測量結(jié)果
可追溯至標(biāo)準(zhǔn)的粗糙度測量
聯(lián)合測量方法:共焦測量技術(shù)和焦距變化
高度自動化
表面粗糙度測量儀**光學(xué)測量方法的*點是,可以生成真實的3D數(shù)據(jù),從而在較大的圖像截面上評估表面結(jié)構(gòu)。加工結(jié)構(gòu)、漏鋼、生長層缺陷累積和許多其他細(xì)節(jié)通過平面參數(shù)進(jìn)行評估,其中TOOLinspect的強(qiáng)度尤其適用于高反射和非常光滑的表面以及透明層。差分信號評估允許在光學(xué)透明層的邊界處獲得和評估信息,這不僅允許測量臺階高度或?qū)雍穸?,還允許檢測表面缺陷,例如制造過程中的劃痕或其他缺陷。例如,刀具制造商不僅可以檢查銑刀、絲錐或可轉(zhuǎn)位刀片的形狀特征,如切削刃半徑和角度,還可以測量可追溯至標(biāo)準(zhǔn)的粗糙度。陡坡側(cè)面和角度的測量使用聚焦變化進(jìn)行,這是集成在設(shè)備中的第二種測量方法。TOOLinspect測量系統(tǒng)結(jié)合了制造商的專有測量軟件和市場成熟的評估軟件MountainsMap®,用戶友*且靈活。Confovis測量軟件創(chuàng)建了一個3D點云,既有焦點變化,也有共焦測量點,它專門顯示記錄的測量點。不需要軟件來填寫數(shù)據(jù)點或過濾數(shù)據(jù)。因此,用戶可以在坐標(biāo)系中真實地獲得測量值。