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          PIDcon bifacial 臺式雙面電池PID測試儀

          具體成交價以合同協(xié)議為準
          • 公司名稱 束蘊儀器(上海)有限公司
          • 品牌 其他品牌
          • 型號 PIDcon bifacial
          • 產(chǎn)地 德國
          • 廠商性質(zhì) 代理商
          • 更新時間 2024/9/12 8:55:22
          • 訪問次數(shù) 2001

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          聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!


          束蘊儀器(上海)有限公司自成立以來,憑借與德國布魯克(BRUKER)、衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)、德國Freiberg等實驗室分析儀器品牌的戰(zhàn)略合作,迅速成為業(yè)界儀器供應商。

          我們擁有一支積極樂觀,正直誠信的年輕團隊,我們熱忱的信仰科學,相信科學技術能為我們的客戶帶來高品質(zhì)的生活,為社會的進步起到積極的促進作用。

          束蘊儀器為各類客戶提供優(yōu)質(zhì)的實驗室和工業(yè)檢測儀器及過程控制設備,專業(yè)的應用支持及完善的售后服務,在中國大陸的諸多領域擁有大量用戶,如高校、科研院所、航空航天,政府組織、檢驗機構(gòu)、及工業(yè)企業(yè)。產(chǎn)品覆蓋了醫(yī)藥、生物、材料、考古、電子、食品等各個行業(yè)。

          公司的宗旨:為客戶量身打造合適的綜合解決方案、技術支持和現(xiàn)場服務,優(yōu)質(zhì)的客戶培訓,快速及時的售后服務。

           

          束蘊儀器,讓世界更清晰!

          主營儀器設備:

          --高分辨X射線顯微CT、多量程X射線納米CT、X射線衍射儀、X射線熒光光譜儀、電子順磁共振波譜儀          (ESR/EPR)、臺式核磁共振波譜儀 TD-NMR、光學輪廓儀等 -- 德國布魯克Bruker 授權代理商

          --PDF衍射數(shù)據(jù)庫、JADE軟件--衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)授權代理商

          --晶圓片壽命檢測儀、在線晶圓片/晶錠點掃或面掃檢測、晶圓片在線面掃檢測儀、臺式PID潛在誘導退化測試儀、釋光測定儀等--德國Freiberg Instruments授權代理商

          --BPCL化學發(fā)光儀--微光科技華東區(qū)總代理

           


           單位名稱:束蘊儀器(上海)有限公司

          詳細地址:上海市松江區(qū)千帆路288弄G60科創(chuàng)云廊3號樓602室

           

           

           

           

           

          MicroCT,顯微CT,微焦點CT,骨骼成像,顯微CT材料學檢測,微納顯微CT,X射線斷層掃描,TOC,元素檢測

          價格區(qū)間 面議 應用領域 食品,化工,農(nóng)業(yè),交通,汽車

          雙面電池問題:        

          將電池的后側(cè)改為光蓋,被發(fā)現(xiàn)使雙面PERC電池和模塊對后側(cè)的新型PID敏感,即去極化型PID(PID-p)和腐蝕型PID機制(PID-c)。

          解決方案:        

          為了測試電池的這些類型的PID,我們開發(fā)了PIDcon雙面體。它是用溫度、照明和高電壓對完整的電池進行壓力測試,它可以在兩個方向上進行極化。通過測量照明下的IV曲線,可以確定PID的靈敏度。

          臺式雙面電池PID測試儀應用:        

          太陽能電池片PID檢測

          HIT、Topcon 、PERC、AL-BSF、PERC+、雙面PERC、PERT、PERL和IBC太陽能電池的研究、生產(chǎn)和質(zhì)量控制。

          欲了解更多信息,請訪問 www.pidcon。。com        


          臺式雙面電池PID測試儀PIDcon bifacial的特點:        

          ● 符合IEC62804-TS標準

          ● 易于使用的臺式設備

          ● 能夠測量c-Si太陽能電池和微型模塊

          ● 無需氣候室

          ● 無需層壓電池

          ● 測量速度:小時至數(shù)天

          ● 可測量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導率、漏電流、濕度、溫度

          ● 太陽能電池可以在以后通過EL等進行研究

          ● 基于IP的系統(tǒng)允許遠程操作和技術支持從世界任何地方

          標準試驗條件:        

          ● 電壓:upto1.5kV

          ● 溫度:85°C

          ● 測試時間:4hours(typical)

          ● 干燥條件下,不需要水

          類型                          受壓                                                     恢復
          PID-s正面                85°C,+1.5 kV                             85°C,-1.5 kV

          PID-p背面             85°C,+1.5 kV,無照明 85°C,        暗儲存或光照

          PID-c背面                   85°C,+1.5 kV, 照明                    不可恢復

          層壓      150°C,20min

          樣品尺寸   210×210mm

          適用于 A   PERC,AL-BSF,IBC,PERC+,雙面PERC,p型和n型電池 功率要求 110/230 V AC, 50/60 Hz

          資質(zhì)認證   根據(jù)ISO9001準則制造,符合CE標準


          參考文獻: cells  (1)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Local corrosion of silicon as root cause for potential induced  degradation at the rear side of bifacial PERC solar cells. physica status solidi (RRL)–Rapid Research Letters. 2019, doi 10.1002/pssr.201900163

          (2)V. Naumann, K. Ilse, M. Pander, J. Tr?ndle, K. Sporleder, C. Hagendorf, Influence of soiling and moisture ingress on long term PID susceptibility of photovoltaic

          modules, AIP Conference Proceedings 2147, 090005 (2019).

          (3)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Root cause analysis on corrosive potential-induced degradation effects  at the rear side of bifacial silicon PERC solar cells, Solar Energy Materials and Solar Cells 201, 110062 (2019).

          (4)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Microstructural Analysis of Local Silicon Corrosion of Bifacial Solar Cells

          as Root Cause of Potential‐Induced Degradation at the Rear Side, Phys. Status Solidi A (2019), doi:10.1002/pssa.201900334.

          (5)K. Sporleder, J. Bauer, S. Gro?er, S. Richter, A. H?hnel, M. Turek, V. Naumann, K. Ilse, C. Hagendorf, Potential-Induced Degradation of Bifacial PERC Solar Cells Under  Illumination, IEEE Journal of Photovoltaics 9 (6) 1522-1525, 2019.

          (6)K. Sporleder, M. Turek, N. Schüler, V. Naumann, D. Hevisov, C. P?blau, S. Gro?er, H. Schulte-Huxel, J. Bauer, C. Hagendorf, Quick test for reversible and irreversible  PID of bifacial PERC solar cells, Solar Energy Materials and Solar Cells 219, 110755, 2021.

          (7)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, D. Hevisov, M. Turek, and C. Hagendorf, Time-resolved Investigation of Transient Field Effect Passivation States during Potential  Induced Degradation and Recovery of Bifacial Silicon Solar Cells , Solar RRL, 2021, accepted.





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