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          PID Check 便攜式現(xiàn)場PID測試儀

          具體成交價以合同協(xié)議為準
          • 公司名稱 束蘊儀器(上海)有限公司
          • 品牌 Freiberg Instruments
          • 型號 PID Check
          • 產(chǎn)地 德國
          • 廠商性質(zhì) 代理商
          • 更新時間 2024/9/12 8:56:56
          • 訪問次數(shù) 745

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          束蘊儀器(上海)有限公司自成立以來,憑借與德國布魯克(BRUKER)、衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)、德國Freiberg等實驗室分析儀器品牌的戰(zhàn)略合作,迅速成為業(yè)界儀器供應(yīng)商。

          我們擁有一支積極樂觀,正直誠信的年輕團隊,我們熱忱的信仰科學,相信科學技術(shù)能為我們的客戶帶來高品質(zhì)的生活,為社會的進步起到積極的促進作用。

          束蘊儀器為各類客戶提供優(yōu)質(zhì)的實驗室和工業(yè)檢測儀器及過程控制設(shè)備,專業(yè)的應(yīng)用支持及完善的售后服務(wù),在中國大陸的諸多領(lǐng)域擁有大量用戶,如高校、科研院所、航空航天,政府組織、檢驗機構(gòu)、及工業(yè)企業(yè)。產(chǎn)品覆蓋了醫(yī)藥、生物、材料、考古、電子、食品等各個行業(yè)。

          公司的宗旨:為客戶量身打造合適的綜合解決方案、技術(shù)支持和現(xiàn)場服務(wù),優(yōu)質(zhì)的客戶培訓,快速及時的售后服務(wù)。

           

          束蘊儀器,讓世界更清晰!

          主營儀器設(shè)備:

          --高分辨X射線顯微CT、多量程X射線納米CT、X射線衍射儀、X射線熒光光譜儀、電子順磁共振波譜儀          (ESR/EPR)、臺式核磁共振波譜儀 TD-NMR、光學輪廓儀等 -- 德國布魯克Bruker 授權(quán)代理商

          --PDF衍射數(shù)據(jù)庫、JADE軟件--衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)授權(quán)代理商

          --晶圓片壽命檢測儀、在線晶圓片/晶錠點掃或面掃檢測、晶圓片在線面掃檢測儀、臺式PID潛在誘導退化測試儀、釋光測定儀等--德國Freiberg Instruments授權(quán)代理商

          --BPCL化學發(fā)光儀--微光科技華東區(qū)總代理

           


           單位名稱:束蘊儀器(上海)有限公司

          詳細地址:上海市松江區(qū)千帆路288弄G60科創(chuàng)云廊3號樓602室

           

           

           

           

           

          MicroCT,顯微CT,微焦點CT,骨骼成像,顯微CT材料學檢測,微納顯微CT,X射線斷層掃描,TOC,元素檢測

          價格區(qū)間 面議 應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,食品,化工,能源

          便攜式現(xiàn)場PID測試儀的好處和特點


          安裝后或采購光伏電站前的質(zhì)量檢查

          PIDcheck是能夠發(fā)現(xiàn)已安裝的光伏組件是否對PID敏感的工具。


          功率和產(chǎn)量預測

          如果PID已經(jīng)發(fā)生,只有PIDcheck的測量結(jié)果可以提供未來產(chǎn)量的預測。


          評估針對PID的對策

          PIDcheck設(shè)備能夠模擬恢復設(shè)備(偏移箱、浮動控制器)的應(yīng)用,因此有助于在其安裝前評估恢復效果。

          用于現(xiàn)場PID恢復的可逆高壓極性

          便攜式現(xiàn)場PID測試儀可測量的參數(shù)


          分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度

          易于使用的便攜式設(shè)備

          欲了解更多信息,請訪問www.pidcon。。com





          ●   原型:24個電池,在高壓下正向暗I-V曲線的測量

          ●   新功能:高壓可雙向施加應(yīng)力和恢復 在活動模塊中成功演示

          ●   Fraunhofer CSP 于2015年*提交認證

          ●   2018年上市

          ●   用戶:評估員、操作員、服務(wù)專家、安裝人員、模塊制作人






          * Patent pending ?Verfahren und Anordnung zur Prüfung eines Solarmoduls auf Anf?lligkeit für Potentialinduzierte Degradation”, DE 10 2015 213 047 A1


          參考文獻: cells  (1)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Local corrosion of silicon as root cause for potential induced  degradation at the rear side of bifacial PERC solar cells. physica status solidi (RRL)–Rapid Research Letters. 2019, doi 10.1002/pssr.201900163

          (2)V. Naumann, K. Ilse, M. Pander, J. Tr?ndle, K. Sporleder, C. Hagendorf, Influence of soiling and moisture ingress on long term PID susceptibility of photovoltaic

          modules, AIP Conference Proceedings 2147, 090005 (2019).

          (3)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Root cause analysis on corrosive potential-induced degradation effects  at the rear side of bifacial silicon PERC solar cells, Solar Energy Materials and Solar Cells 201, 110062 (2019).

          (4)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Microstructural Analysis of Local Silicon Corrosion of Bifacial Solar Cells

          as Root Cause of Potential‐Induced Degradation at the Rear Side, Phys. Status Solidi A (2019), doi:10.1002/pssa.201900334.

          (5)K. Sporleder, J. Bauer, S. Gro?er, S. Richter, A. H?hnel, M. Turek, V. Naumann, K. Ilse, C. Hagendorf, Potential-Induced Degradation of Bifacial PERC Solar Cells Under  Illumination, IEEE Journal of Photovoltaics 9 (6) 1522-1525, 2019.

          (6)K. Sporleder, M. Turek, N. Schüler, V. Naumann, D. Hevisov, C. P?blau, S. Gro?er, H. Schulte-Huxel, J. Bauer, C. Hagendorf, Quick test for reversible and irreversible  PID of bifacial PERC solar cells, Solar Energy Materials and Solar Cells 219, 110755, 2021.

          (7)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, D. Hevisov, M. Turek, and C. Hagendorf, Time-resolved Investigation of Transient Field Effect Passivation States during Potential  Induced Degradation and Recovery of Bifacial Silicon Solar Cells , Solar RRL, 2021, accepted.

          . Hagendorf, Microstructural Analysis of Local Silicon Corrosion of Bifacial Solar Cells

          as Root Cause of Potential‐Induced Degradation at the Rear Side, Phys. Status Solidi A (2019), doi:10.1002/pssa.201900334.

          (5)K. Sporleder, J. Bauer, S. Gro?er, S. Richter, A. H?hnel, M. Turek, V. Naumann, K. Ilse, C. Hagendorf, Potential-Induced Degradation of Bifacial PERC Solar Cells Under  Illumination, IEEE Journal of Photovoltaics 9 (6) 1522-1525, 2019.

          (6)K. Sporleder, M. Turek, N. Schüler, V. Naumann, D. Hevisov, C. P?blau, S. Gro?er, H. Schulte-Huxel, J. Bauer, C. Hagendorf, Quick test for reversible and irreversible  PID of bifacial PERC solar cells, Solar Energy Materials and Solar Cells 219, 110755, 2021.

          (7)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, D. Hevisov, M. Turek, and C. Hagendorf, Time-resolved Investigation of Transient Field Effect Passivation States during Potential  Induced Degradation and Recovery of Bifacial Silicon Solar Cells , Solar RRL, 2021, accepted.





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