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          PIDStudio PID操作軟件

          具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          • 公司名稱(chēng) 束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司
          • 品牌 Freiberg Instruments
          • 型號(hào) PIDStudio
          • 產(chǎn)地 德國(guó)
          • 廠(chǎng)商性質(zhì) 代理商
          • 更新時(shí)間 2024/9/12 8:59:04
          • 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù) 805

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          束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司自成立以來(lái),憑借與德國(guó)布魯克(BRUKER)、衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)、德國(guó)Freiberg等實(shí)驗(yàn)室分析儀器品牌的戰(zhàn)略合作,迅速成為業(yè)界儀器供應(yīng)商。

          我們擁有一支積極樂(lè)觀(guān),正直誠(chéng)信的年輕團(tuán)隊(duì),我們熱忱的信仰科學(xué),相信科學(xué)技術(shù)能為我們的客戶(hù)帶來(lái)高品質(zhì)的生活,為社會(huì)的進(jìn)步起到積極的促進(jìn)作用。

          束蘊(yùn)儀器為各類(lèi)客戶(hù)提供優(yōu)質(zhì)的實(shí)驗(yàn)室和工業(yè)檢測(cè)儀器及過(guò)程控制設(shè)備,專(zhuān)業(yè)的應(yīng)用支持及完善的售后服務(wù),在中國(guó)大陸的諸多領(lǐng)域擁有大量用戶(hù),如高校、科研院所、航空航天,政府組織、檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)、及工業(yè)企業(yè)。產(chǎn)品覆蓋了醫(yī)藥、生物、材料、考古、電子、食品等各個(gè)行業(yè)。

          公司的宗旨:為客戶(hù)量身打造合適的綜合解決方案、技術(shù)支持和現(xiàn)場(chǎng)服務(wù),優(yōu)質(zhì)的客戶(hù)培訓(xùn),快速及時(shí)的售后服務(wù)。

           

          束蘊(yùn)儀器,讓世界更清晰!

          主營(yíng)儀器設(shè)備:

          --高分辨X射線(xiàn)顯微CT、多量程X射線(xiàn)納米CT、X射線(xiàn)衍射儀、X射線(xiàn)熒光光譜儀、電子順磁共振波譜儀          (ESR/EPR)、臺(tái)式核磁共振波譜儀 TD-NMR、光學(xué)輪廓儀等 -- 德國(guó)布魯克Bruker 授權(quán)代理商

          --PDF衍射數(shù)據(jù)庫(kù)、JADE軟件--衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)授權(quán)代理商

          --晶圓片壽命檢測(cè)儀、在線(xiàn)晶圓片/晶錠點(diǎn)掃或面掃檢測(cè)、晶圓片在線(xiàn)面掃檢測(cè)儀、臺(tái)式PID潛在誘導(dǎo)退化測(cè)試儀、釋光測(cè)定儀等--德國(guó)Freiberg Instruments授權(quán)代理商

          --BPCL化學(xué)發(fā)光儀--微光科技華東區(qū)總代理

           


           單位名稱(chēng):束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司

          詳細(xì)地址:上海市松江區(qū)千帆路288弄G60科創(chuàng)云廊3號(hào)樓602室

           

           

           

           

           

          MicroCT,顯微CT,微焦點(diǎn)CT,骨骼成像,顯微CT材料學(xué)檢測(cè),微納顯微CT,X射線(xiàn)斷層掃描,TOC,元素檢測(cè)

          價(jià)格區(qū)間 面議 應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,食品,化工,能源

          PID操作軟件PIDStudio是一個(gè)很*的軟件,它非常容易操作和直觀(guān),因?yàn)樗鶕?jù)我們用戶(hù)的反饋持續(xù)更新和改進(jìn)。


          通過(guò)PIDStudio,可以輸出和比較多個(gè)測(cè)量的下列參數(shù):

          ●   并聯(lián)電阻

          ●   電導(dǎo)率

          ●   功率損耗

          ●   泄漏電流

          ●   溫度

          ●   濕度

          ●   高電壓


          PID操作軟件主要特點(diǎn):

          ●   用戶(hù)結(jié)構(gòu)

          ●   輸出功能

          ●   譜圖

          ●   通過(guò)和失敗標(biāo)準(zhǔn)

          ●   分析功能包

          ●   可控制任意數(shù)量的設(shè)備



          參考文獻(xiàn): cells  (1)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Local corrosion of silicon as root cause for potential induced  degradation at the rear side of bifacial PERC solar cells. physica status solidi (RRL)–Rapid Research Letters. 2019, doi 10.1002/pssr.201900163

          (2)V. Naumann, K. Ilse, M. Pander, J. Tr?ndle, K. Sporleder, C. Hagendorf, Influence of soiling and moisture ingress on long term PID susceptibility of photovoltaic

          modules, AIP Conference Proceedings 2147, 090005 (2019).

          (3)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Root cause analysis on corrosive potential-induced degradation effects  at the rear side of bifacial silicon PERC solar cells, Solar Energy Materials and Solar Cells 201, 110062 (2019).

          (4)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Microstructural Analysis of Local Silicon Corrosion of Bifacial Solar Cells

          as Root Cause of Potential‐Induced Degradation at the Rear Side, Phys. Status Solidi A (2019), doi:10.1002/pssa.201900334.

          (5)K. Sporleder, J. Bauer, S. Gro?er, S. Richter, A. H?hnel, M. Turek, V. Naumann, K. Ilse, C. Hagendorf, Potential-Induced Degradation of Bifacial PERC Solar Cells Under  Illumination, IEEE Journal of Photovoltaics 9 (6) 1522-1525, 2019.

          (6)K. Sporleder, M. Turek, N. Schüler, V. Naumann, D. Hevisov, C. P?blau, S. Gro?er, H. Schulte-Huxel, J. Bauer, C. Hagendorf, Quick test for reversible and irreversible  PID of bifacial PERC solar cells, Solar Energy Materials and Solar Cells 219, 110755, 2021.

          (7)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, D. Hevisov, M. Turek, and C. Hagendorf, Time-resolved Investigation of Transient Field Effect Passivation States during Potential  Induced Degradation and Recovery of Bifacial Silicon Solar Cells , Solar RRL, 2021, accepted.






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