Apreo 2 SEM場發(fā)射掃描電鏡
- 公司名稱 賽默飛電子顯微鏡
- 品牌 FEI/賽默飛
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/8/28 13:27:35
- 訪問次數(shù) 999
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工 |
Apreo 2 SEM場發(fā)射掃描電鏡材料表征
先進(jìn)的材料表征實驗室需要使用新技術(shù),且將分析儀器(包括 SEM掃描電鏡)的性能發(fā)揮到頂。這些實驗室中絕大多數(shù)都是多用戶使用,且不同用戶的經(jīng)驗水平不盡相同,同時,掃描電鏡的上機(jī)時間非常寶貴,因此必須避免在維護(hù)、對中、培訓(xùn)或圖像優(yōu)化上花費過多時間。
全新的 Thermo Scientific Apreo 2 SEM 可進(jìn)行高分辨率成像,并且可以擴(kuò)展至材料的元素分析。憑借實時元素成像功能,即 Thermo Scientific ColorSEM 技術(shù),可以通過最直觀的界面實時獲取元素組分信息。ColorSEM 技術(shù)消除了與典型 EDS聯(lián)用的所有復(fù)雜操作,為您提供快捷和易用性。
憑借 Thermo Scientific SmartAlign 技術(shù)(軟件自動光學(xué)對中),Apreo 2 SEM 對用戶和實驗室管理人員的要求非常低。此外,Apreo 2 SEM 采用 Thermo Scientific FLASH 技術(shù),可實現(xiàn)自動電子束對中、消像散和聚焦等操作,這項技術(shù)的推出意味著即使是掃描電鏡的新手用戶也可以輕松獲得 Apreo 2 SEM 的性能。此外,Apreo 2 SEM 是一款在 10 mm 分析工作距離具備 1 納米分辨率的 SEM。大的工作距離不再意味著犧牲成像效果,使用 Apreo 2 SEM,任何人都能容易地獲得出色的結(jié)果。
場發(fā)射掃描電鏡Apreo SEM的主要特點
優(yōu)異的空間分辨率及襯度
高分辨率——對于大多數(shù)樣品都能達(dá)到納米或亞納米級別的空間分辨率。采用鏡筒內(nèi)同步成像、信號過濾、復(fù)合透鏡等技術(shù),幫助提升性能,達(dá)到最佳的分辨率。
廣泛的樣品適用性
對于多種樣品類型都有樣品靈活性,包括絕緣體、敏感材料、磁性材料等等。這樣的靈活性幫助用戶獲取感興趣樣品的更多的數(shù)據(jù)。
利用ColorSEM技術(shù)實時獲取定量能譜數(shù)據(jù)
只需指尖輕輕點擊就可以獲取元素信息,實現(xiàn)實時定量面分布,帶來體驗與易用性。
快速簡便的樣品裝載過程
標(biāo)配的樣品臺可以一次性容納多個樣品,抽真空過程控制到最短時間,保證進(jìn)樣過程不浪費時間,更加便利地裝載樣品。同時配備自動插拔的壓差光闌(PLA)可以實現(xiàn)高真空與低真空模式之間在毋須開樣品倉的條件下一鍵切換。
高度自動化
高度自動化技術(shù)包含F(xiàn)LASH技術(shù)(用于自動圖像微調(diào))、撤銷、用戶教程、圖像傾斜與拼接。
大工作距離成像
市場上在大工作距離(10mm)下仍然保持高空間分辨率(1nm)性能和優(yōu)異的圖像質(zhì)量的掃描電鏡,即使對于新手用戶,也極易上手操作。
Apreo 2 SEM場發(fā)射掃描電鏡規(guī)格
Apreo 2 S | Apreo 2 C | |
分辨率 |
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標(biāo)配探測器 |
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PivotBeam |
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選配探測器 |
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ColorSEM技術(shù)(選配) |
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著陸能量范圍 |
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樣品臺偏壓(樣品臺減速) |
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低真空模式 |
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樣品臺 |
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最大束流 |
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標(biāo)準(zhǔn)樣品臺 |
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樣品倉 |
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