300KV透射電鏡Spectra 300 TEM
- 公司名稱 賽默飛電子顯微鏡
- 品牌 FEI/賽默飛
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/8/28 13:39:24
- 訪問次數(shù) 959
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價格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 熱場發(fā)射 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工 |
300KV透射電鏡Spectra 300 TEM
適用于所有材料科學(xué)和半導(dǎo)體應(yīng)用的高分辨率TEM和STEM顯微鏡
Spectra 300 (S)TEM的主要特點(diǎn)
Spectra 300 (S)TEM可配置高能量分辨率電子源
0:00/2:18
還可配置超高亮度X-CFEG光源 提供最高分辨率的STEM成像性能
Panther STEM探頭系統(tǒng)具有的靈敏度
先進(jìn)的STEM成像能力
Spectra 300 (S)TEM靈活的能譜配置
0:00/0:12 0:00/0:10
0:00/0:30
Spectra 300 (S)TEM的原位功能
Spectra 300 (S)TEM的規(guī)格
圖像矯正器 |
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探針矯正器: |
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未校正 |
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X-FEG/單色器雙校正(探針+圖像矯正器) |
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X-CFEG 雙校正(探針+圖像校正) |
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離子源 |
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