一、產(chǎn)品概述：

阻抗分析儀是一款高精度的測(cè)試設(shè)備，專門用于測(cè)量和分析電子元件及材料的阻抗特性。該儀器能夠在寬頻率范圍內(nèi)提供電阻、電抗、阻抗幅度和相位等參數(shù)，廣泛應(yīng)用于電子元件測(cè)試、材料科學(xué)研究和電力系統(tǒng)分析等領(lǐng)域。阻抗分析儀通常配備用戶友好的操作界面，支持多種測(cè)試模式和數(shù)據(jù)記錄功能，能夠生成詳盡的測(cè)試報(bào)告。其高精度和靈活性使其成為現(xiàn)代電子測(cè)試和材料分析中的重要工具。

二、設(shè)備用途/原理：

·設(shè)備用途

阻抗分析儀主要用于測(cè)量和分析電子元件及材料的阻抗特性，廣泛應(yīng)用于電子元件測(cè)試、材料科學(xué)研究、電力系統(tǒng)分析以及電池和電容器的性能評(píng)估。它能夠提供電阻、電抗、阻抗幅度和相位等參數(shù)，幫助工程師和研究人員優(yōu)化設(shè)計(jì)和提高產(chǎn)品性能。

·工作原理

阻抗分析儀通過(guò)施加已知頻率的交流信號(hào)到被測(cè)元件，并測(cè)量其響應(yīng)信號(hào)來(lái)工作。儀器使用高精度的模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）對(duì)電流和電壓信號(hào)進(jìn)行采樣，計(jì)算出阻抗的幅度和相位。通過(guò)頻率掃描，儀器能夠在寬頻率范圍內(nèi)繪制阻抗譜，展示材料或元件在不同頻率下的阻抗特性。這些數(shù)據(jù)可以用于分析材料的電特性、評(píng)估器件性能和研究電化學(xué)行為等。

三、主要技術(shù)指標(biāo)：

1. 在寬廣的阻抗范圍內(nèi)提供 0.65% 的基本準(zhǔn)確度。可以選配材料測(cè)量選件以執(zhí)行溫度特征分析，并能夠直接得到介電常數(shù)和導(dǎo)磁率讀數(shù)，是表征和評(píng)測(cè)電子元器件、半導(dǎo)體器件和材料的理想方案

2. 3 種可升的頻率選件：1 MHz 至 500 MHz/1 GHz/3 GHz

3. ±0.65% 基本準(zhǔn)確度和 120 m? 至 52 k? 阻抗范圍

4. 測(cè)量參數(shù)：|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q、|Γ|、Γx、Γy、θΓ、Vac、Iac、Vdc1、Idc1（1. 需要選件 001）

5. 內(nèi)置直流偏置（選件 001）：0 V 至 ±40 V，0 A 至 ±100 mA

6. 數(shù)據(jù)分析功能：等效電路分析、限線測(cè)試

7. 介電/磁性材料測(cè)量（選件 002）：|εr|、εr'、εr''、tanδ(ε)、|μr|、μr'、μr''、tanδ(μ)

8. 提供溫度特征測(cè)量（選件 007）和可靠的晶圓上測(cè)量（選件 010）

9. 提供溫度特征分析功能，并能夠直接得到介電常數(shù)和導(dǎo)磁率的讀數(shù)

10. 探頭臺(tái)連接套件（選件 010）可以在高達(dá) 3 GHz 的頻率范圍內(nèi)提供準(zhǔn)確的晶圓上或微型元器件阻抗測(cè)量解決方案