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          輪廓儀

          具體成交價以合同協(xié)議為準
          • 公司名稱 無錫駿展儀器有限責任公司
          • 品牌 TaylorHobson/英國泰勒霍普森
          • 型號
          • 產(chǎn)地
          • 廠商性質(zhì) 代理商
          • 更新時間 2024/6/20 14:53:07
          • 訪問次數(shù) 672

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          無錫駿展儀器有限責任公司是一家專門從事精密測量儀器銷售的公司,公司的銷售人員會在售前提供給客戶良好的服務(wù)體驗,以及耐心的產(chǎn)品講解,公司的技術(shù)人員擁有著豐富的產(chǎn)品實戰(zhàn)經(jīng)驗,能夠幫助客戶解決他們所遇到部分棘手問題,同時也能為客戶提供優(yōu)質(zhì)的售后體驗。我們目前所銷售的產(chǎn)品以及系統(tǒng)解決方案廣泛應(yīng)用于大中型國有企業(yè)、汽車制造、精密機械、模具加工、電子電力、鑄造、冶金、航空航天、工程建設(shè)、大學和其他研究實驗室和生產(chǎn)線,質(zhì)量控制,和教育事業(yè),以評估的幾何特征的材料,組件和結(jié)構(gòu)和理化性質(zhì),*制造技術(shù)的驅(qū)動精益求精。





          涂層測厚儀,鍍層厚度測量儀,涂鍍層厚度無損測量儀,手持式涂鍍層測厚儀,表面電鍍層厚度測量儀,油漆涂層測厚儀,便攜式涂層測厚儀,菲希爾涂層測厚儀,無損測厚儀,覆層測厚儀

          產(chǎn)地類別 進口 產(chǎn)品種類 接觸式輪廓儀/粗糙度儀
          價格區(qū)間 面議 應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),石油,制藥,綜合

          輪廓儀

                   FTS Intra 既可以通過PDA 控制處理器攜帶到任何工作場合去工作,控制分析單元對驅(qū)動單元可連線控制,也可紅外遙控;也可以通過與電腦的對接,測量的數(shù)據(jù)直接傳輸至計算機,由 Ultra 軟件對儀器進行控制及對測量數(shù)據(jù)的分析。作為標準計量室內(nèi)的檢測設(shè)備。

                  我們可以非常容易地把它從計量室?guī)У焦ぷ鞯攸c,即使是臨時的操作員也可以非常簡單地進行操作,并得到測量結(jié)果。當然,由于設(shè)計,簡而易行的操作,您幾乎不用妨礙到生產(chǎn)的進度,就可以完成這些您所需要的表面形狀與粗糙度的檢測。

          輪廓儀

          泰勒霍普森<strong>輪廓儀</strong>

          [主營產(chǎn)品]fischer膜厚儀,粗糙度儀,激光干涉儀,三維掃描儀

          便攜式粗糙度儀輪廓儀圓度儀

          Surtronic 25 便攜式粗糙度儀(已停產(chǎn))車間型精密粗糙度輪廓儀Form Talysurf Intra565/585XL

          Surtronic DUO 粗糙度儀全自動光學輪廓儀PGI DimensionTalyrond 595H

          Surtronic S-100系列泰勒霍音森Form Talysurf ilTalyrond 565H

          Surtronic S-116泰勒霍普森白光干涉儀CCIMP Talyrond 400H

          Surtronic S-128泰勒霍普森Form Talysurf PGITalyrond 450

          Surtronic 3+ / Surtronic 3 Plus(早已停產(chǎn))光學輪廓儀Talysurf PGI OpticsSurtronic R100

          粗糙度儀配件英國Taylor Hobson PGI Matrix Talyrond 131c

           泰勒LuphoScan 260/420 HDSurtronic R50-R80

           Form Talysurf PGI NOVUSTalyMaster

            Talyrond 130

          泰勒霍普森

          CCI HD 非接觸式光學3D輪廓儀簡介

          CCI HD 是一種非接觸式光學 3D 輪廓儀,具有測量薄膜和厚膜的功能。 它采用享有新型關(guān)聯(lián)算法,來查找由我們的精密光學掃描裝置產(chǎn)生的干涉圖的相干峰和相位。 這種新型的 CCI HD 整合了世界專業(yè)的非接觸式尺寸測量功能和專業(yè)的厚薄膜測量技術(shù)。

          CCI HD 除了提供尺寸和粗糙度測量功能,還可以提供兩種類型的膜厚測量。 近年來厚膜分析被用于研究厚度至約 1.5 微米的半透明涂料;測量的厚度限制取決于材料的折射率和標的物的 NA。 測量較薄的涂層被證實為難度更高。

          現(xiàn)在通過干涉測量法可以研究厚度至 50 納米(同樣取決于折射率)的薄膜涂層。 采用這種新型方法,可以在單次測量中研究膜厚、界面粗糙度、針孔缺陷以及薄涂層表面的剝離等特性。




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